手機(jī)續(xù)航是用戶體驗(yàn)的生命線，而功耗控制的**在于SoC芯片的“健康度”與“效率”。國磊GT600憑借其每通道**PPMU（精密參數(shù)測量單元），可對芯片每個(gè)引腳進(jìn)行nA（納安）級靜態(tài)電流（Iddq）測量，相當(dāng)于為芯片做“微電流心電圖”，精細(xì)識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電——這些“隱形耗電大戶”在待機(jī)時(shí)也會悄悄吞噬電量。通過篩查剔除“高漏電”芯片，國磊GT600確保只有“省電體質(zhì)”的質(zhì)量芯片進(jìn)入量產(chǎn)。不僅如此，國磊GT600支持FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，可在不同電壓條件下模擬真實(shí)使用場景——如游戲高負(fù)載、多攝像頭同時(shí)工作、5G高速下載等——?jiǎng)討B(tài)測量芯片功耗曲線，驗(yàn)證其電源管理單元是否能智能調(diào)節(jié)電壓頻率，實(shí)現(xiàn)性能與功耗的比較好平衡。同時(shí)，其FIMV（強(qiáng)制電流測電壓）模式還能檢測芯片在極限負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)或重啟。通過靜態(tài)+動(dòng)態(tài)、微觀+宏觀的功耗全景測試，國磊GT600可以為國產(chǎn)手機(jī)SoC筑起“續(xù)航防火墻”，讓每一毫安時(shí)電量都用在刀刃上。每通道測試時(shí)間＜15ms，256通道全測不超過60秒，高效節(jié)能。浙江PCB測試系統(tǒng)廠家供應(yīng)

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗(yàn)證，更需精確的參數(shù)測試與功耗評估。國磊GT600測試機(jī)配備每通道PPMU，可實(shí)現(xiàn)nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，**識別AI芯片在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監(jiān)測，用于驗(yàn)證DVFS（動(dòng)態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國磊GT600測試機(jī)的GT-TMUHA04時(shí)間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應(yīng)時(shí)間等關(guān)鍵時(shí)序參數(shù)，確保AI任務(wù)的實(shí)時(shí)性與響應(yīng)速度。吉安PCB測試系統(tǒng)按需定制國磊GT600SoC測試機(jī)512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。

    MEMS麥克風(fēng)消費(fèi)電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風(fēng)，內(nèi)部包含聲學(xué)傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標(biāo)包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學(xué)過載點(diǎn)）。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵(lì)（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計(jì)算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進(jìn)行多顆麥克風(fēng)并行測試（512Sites），滿足手機(jī)廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補(bǔ)償與校準(zhǔn)功能。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應(yīng)的電容激勵(lì)信號；Digitizer采集校準(zhǔn)后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗(yàn)證線性度與零點(diǎn)漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機(jī)）。

數(shù)據(jù)中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標(biāo)下，數(shù)據(jù)中心能耗成為焦點(diǎn)，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標(biāo)。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務(wù)器CPU的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)功耗，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電壓頻率調(diào)節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)。杭州國磊GT600支持長時(shí)間穩(wěn)定性測試，模擬數(shù)據(jù)中心7x24小時(shí)運(yùn)行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點(diǎn)并行測試大幅降低單顆芯片測試時(shí)間與成本，適配萬片級量產(chǎn)需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗(yàn)證者，更是能效的“精算師”，助力國產(chǎn)芯片在綠色計(jì)算時(shí)代贏得市場。您的產(chǎn)品需要經(jīng)歷高溫高濕環(huán)境的考驗(yàn)嗎？

    高通道密度（512~2048數(shù)字通道）——適配復(fù)雜AISoC引腳規(guī)模，現(xiàn)代AI芯片引腳數(shù)常超2000（如集成HBM堆棧、多核NPU、多電源域），傳統(tǒng)測試設(shè)備通道不足。支持**多2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，避免分時(shí)復(fù)用導(dǎo)致的測試盲區(qū)。滿足寒武紀(jì)、壁仞、華為昇騰等國產(chǎn)AI芯片的高集成度測試需求，助力其快速進(jìn)入數(shù)據(jù)中心與邊緣計(jì)算市場。超大向量深度（**高128M/通道）——實(shí)現(xiàn)真實(shí)AI負(fù)載場景回放，AI推理/訓(xùn)練涉及復(fù)雜算法流（如Transformer、CNN），需長時(shí)間、高覆蓋率的功能驗(yàn)證。128M向量存儲深度支持完整運(yùn)行真實(shí)AI工作負(fù)載測試向量，捕獲邊界條件下的功能異?；蚬姆逯?。不僅驗(yàn)證邏輯功能，更能模擬實(shí)際應(yīng)用場景，提升芯片可靠性，加速客戶產(chǎn)品上市周期。 高達(dá)256通道的并行測試能力，GM8800極大提升您的檢測效率。多通道 SIR/CAF 實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng)

國磊GT600測試機(jī)搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于工程師深度定制測試邏輯。浙江PCB測試系統(tǒng)廠家供應(yīng)

HBM的集成不****是帶寬提升，更帶來了復(fù)雜的混合信號測試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號完整性、電源噪聲、時(shí)序?qū)R（Skew）等問題，直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國磊GT600測試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計(jì)，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡，實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測試。例如，通過GT-TMUHA04（10ps分辨率）精確測量HBM接口時(shí)序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成純凈激勵(lì)信號，**驗(yàn)證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問題系統(tǒng)化解決，為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號的**測試保障，確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時(shí)代的嚴(yán)苛考驗(yàn)。浙江PCB測試系統(tǒng)廠家供應(yīng)