AI加速芯片（如思元系列）專為云端推理與邊緣計(jì)算設(shè)計(jì)，**訴求是“高算力密度、***能效比、毫秒級(jí)穩(wěn)定響應(yīng)”。這類芯片往往集成數(shù)千個(gè)AI**與高速互聯(lián)總線，測(cè)試復(fù)雜度高、功耗敏感、量產(chǎn)規(guī)模大，傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備難以兼顧效率與精度。國(guó)磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可同時(shí)對(duì)512顆芯片進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證，極大縮短測(cè)試周期，攤薄單顆芯片成本——這對(duì)動(dòng)輒數(shù)萬(wàn)片出貨的數(shù)據(jù)中心級(jí)芯片而言，意味著數(shù)千萬(wàn)級(jí)成本優(yōu)化。在功耗控制上，國(guó)磊GT600的PPMU單元可精確測(cè)量芯片在待機(jī)、輕載、滿載等多場(chǎng)景下的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)電流，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測(cè)電流）模式，驗(yàn)證芯片在不同電壓域下的功耗表現(xiàn)，確保其在7x24小時(shí)運(yùn)行的數(shù)據(jù)中心中實(shí)現(xiàn)“每瓦特算力比較大化”。同時(shí)，其高精度TMU（時(shí)間測(cè)量單元，10ps分辨率）可檢測(cè)AI**間數(shù)據(jù)同步的時(shí)序抖動(dòng)，避免因時(shí)鐘偏移導(dǎo)致的推理錯(cuò)誤或延遲波動(dòng)，保障AI服務(wù)的穩(wěn)定低時(shí)延。 國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)每通道32/64/128M向量存儲(chǔ)深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

杭州國(guó)磊以GT600為支點(diǎn)，正從區(qū)域企業(yè)成長(zhǎng)為全國(guó)性半導(dǎo)體測(cè)試解決方案提供商。依托杭州“數(shù)字經(jīng)濟(jì)***城”的產(chǎn)業(yè)勢(shì)能，GT600已服務(wù)于長(zhǎng)三角多家AI芯片設(shè)計(jì)公司，并逐步向粵港澳、成渝等集成電路集群拓展。未來(lái)，隨著中國(guó)AI芯片出海加速，GT600憑借高性價(jià)比與本地化服務(wù)優(yōu)勢(shì)，有望進(jìn)入東南亞、中東等新興市場(chǎng)。在烏鎮(zhèn)互聯(lián)網(wǎng)大會(huì)倡導(dǎo)“構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)空間命運(yùn)共同體”的背景下，GT600不僅是中國(guó)技術(shù)自主的象征，更是向世界輸出“安全、高效、普惠”測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的載體，彰顯中國(guó)硬科技企業(yè)的全球擔(dān)當(dāng)。吉安導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)國(guó)磊GT600向量存儲(chǔ)深度32/64/128M，支持長(zhǎng)Pattern測(cè)試序列，適用于帶數(shù)字校準(zhǔn)功能的智能傳感器芯片。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測(cè)試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測(cè)試。這種“場(chǎng)景級(jí)驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測(cè)試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對(duì)于強(qiáng)腦科技、宇樹(shù)科技等開(kāi)發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對(duì)實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測(cè)得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。

    杭州國(guó)磊（Guolei）的GT600SoC測(cè)試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測(cè)試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，杭州國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測(cè)試需求目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無(wú)法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測(cè)試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可以通過(guò)GPIB/TTL接口聯(lián)動(dòng)探針臺(tái)與分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)試。

國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測(cè)量低功耗狀態(tài)切換延遲與喚醒時(shí)間，確保實(shí)時(shí)響應(yīng)性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜低功耗狀態(tài)機(jī)的序列測(cè)試，而512Sites高并行測(cè)試能力則**降低單位測(cè)試成本，滿足物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場(chǎng)景的需求。綜上所述，現(xiàn)代工藝節(jié)點(diǎn)與充足資金確實(shí)使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設(shè)計(jì)復(fù)雜度的提升也對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了更高要求。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其高精度模擬測(cè)量能力、靈活的混合信號(hào)支持、高并行架構(gòu)與開(kāi)放軟件平臺(tái)，不**能夠驗(yàn)證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評(píng)估其在先進(jìn)工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵測(cè)試基礎(chǔ)設(shè)施。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)通過(guò)PPMU測(cè)量芯片在不同電源域下的靜態(tài)電流，精度達(dá)nA級(jí)，適用于低功耗模式驗(yàn)證。國(guó)產(chǎn)替代CAF測(cè)試系統(tǒng)按需定制

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)通過(guò)電源上電時(shí)序測(cè)試?yán)肧MU監(jiān)控多電源域的電壓建立順序，防止閂鎖效應(yīng)。國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

HBM的集成不****是帶寬提升，更帶來(lái)了復(fù)雜的混合信號(hào)測(cè)試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號(hào)完整性、電源噪聲、時(shí)序?qū)R（Skew）等問(wèn)題，直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計(jì)，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡，實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測(cè)試。例如，通過(guò)GT-TMUHA04（10ps分辨率）精確測(cè)量HBM接口時(shí)序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成純凈激勵(lì)信號(hào)，**驗(yàn)證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問(wèn)題系統(tǒng)化解決，為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號(hào)的**測(cè)試保障，確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時(shí)代的嚴(yán)苛考驗(yàn)。國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)