PPMU功能實現(xiàn)每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現(xiàn)動態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關(guān)重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監(jiān)測各電源域的電流響應(yīng)，確保SoC不會因電源異常導(dǎo)致功能失效或安全風(fēng)險。電壓設(shè)置靈活，測試電壓1–3000V可調(diào)，適應(yīng)多種實驗條件。金華導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    車規(guī)級MEMS傳感器包括用于ESP車身穩(wěn)定系統(tǒng)的高g加速度計、發(fā)動機(jī)歧管壓力傳感器等，需滿足AEC-Q100認(rèn)證。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：支持-40℃~125℃環(huán)境應(yīng)力測試（通過GPIB/TTL對接溫箱）；高可靠性測試流程（如HAST、HTOL前后的參數(shù)對比）；數(shù)據(jù)自動記錄為STDF格式，便于車廠追溯與良率分析；每引腳PPMU檢測早期失效（如漏電流異常）。生物醫(yī)療MEMS如植入式壓力傳感器、微流控芯片控制器，對低功耗與長期穩(wěn)定性要求極高。杭州國磊（Guolei）支持點(diǎn)：nA級靜態(tài)電流測量（PPMU）；**噪聲激勵與采集，避免干擾生物信號；支持長期老化測試中的周期性參數(shù)回讀。杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不直接測試MEMS的機(jī)械或物理特性（如諧振頻率、Q值、位移等），但***覆蓋MEMS產(chǎn)品中不可或缺的電子控制與信號處理部分——即配套ASIC/SoC的功能、性能與可靠性驗證。在消費(fèi)電子、汽車電子、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)和新興智能硬件領(lǐng)域，杭州國磊（Guolei）GT600已成為國產(chǎn)MEMS廠商實現(xiàn)高精度、高效率、低成本、自主可控測試的重要平臺，有力支撐中國MEMS產(chǎn)業(yè)鏈從“制造”向“智造”升級。 深圳CAF測試系統(tǒng)參考價先進(jìn)節(jié)點(diǎn)（如28nm及以下）漏電更敏感，國磊GT600的PPMU可測nA級電流，滿足FinFET等工藝的低功耗驗證需求。

在量子科研機(jī)構(gòu)或企業(yè)構(gòu)建本土化測控生態(tài)時，采用國產(chǎn)測試平臺可降低技術(shù)封鎖風(fēng)險，加速從實驗室原型到工程化產(chǎn)品的轉(zhuǎn)化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特，但作為支撐量子系統(tǒng)“經(jīng)典側(cè)”電子學(xué)的**測試基礎(chǔ)設(shè)施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產(chǎn)、供應(yīng)鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經(jīng)典混合系統(tǒng)”復(fù)雜度提升，高性能SoC測試設(shè)備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的利器，也正在成為量子科技產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中的一塊關(guān)鍵拼圖。

現(xiàn)代手機(jī)SoC是高度集成的“微型超級計算機(jī)”，一顆芯片內(nèi)融合了CPU（**處理器）、GPU（圖形處理器）、NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)引擎）、ISP（圖像信號處理器）、基帶（5G/4G通信模塊）、內(nèi)存控制器、電源管理單元等數(shù)十個功能模塊，協(xié)同完成從AI計算、高清拍照到高速聯(lián)網(wǎng)的復(fù)雜任務(wù)。這對測試設(shè)備提出了“全能型”要求。國磊GT600憑借512個高速數(shù)字通道，可并行激勵與捕獲CPU/GPU的邏輯響應(yīng)，驗證運(yùn)算正確性；通過可選配AWG（任意波形發(fā)生器）板卡，可生成高保真模擬圖像信號，精細(xì)測試ISP對色彩、噪聲、動態(tài)范圍的處理能力；再結(jié)合高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），可精確捕捉基帶芯片收發(fā)信號的時間抖動與延遲，確保5G通信的穩(wěn)定性和低時延。16個通用插槽支持靈活配置，讓國磊GT600能像“變形金剛”一樣，針對不同模塊組合比較好測試方案，真正實現(xiàn)“一機(jī)通測”，***保障國產(chǎn)**SoC的功能完整性與性能可靠性。GM8800高阻測試系統(tǒng)可長時間穩(wěn)定運(yùn)行1-9999小時。

科研創(chuàng)新的“開放平臺” 在高校與科研院所，芯片研發(fā)需要高度靈活的測試環(huán)境。杭州國磊GT600的開放式GTFY系統(tǒng)支持C++/Python編程，研究人員可自由開發(fā)測試算法，驗證新型架構(gòu)（如存算一體、類腦芯片）。其16個通用插槽可接入自研測試板卡，實現(xiàn)定制化測量。128M向量深度支持復(fù)雜實驗程序運(yùn)行，避免頻繁加載。杭州國磊GT600還支持探針臺接口，便于對晶圓上裸片進(jìn)行特性表征。在國產(chǎn)芯片從“模仿”到“創(chuàng)新”的轉(zhuǎn)型中，杭州國磊GT600不僅是量產(chǎn)工具，更是科研探索的“開放實驗臺”，為下一代半導(dǎo)體技術(shù)的突破提供關(guān)鍵支持。國磊GT600SoC測試機(jī)提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，支持從主流商用ATE平臺遷移HBM相關(guān)測試程序，降低導(dǎo)入成本。珠海高阻測試系統(tǒng)行價

精密的電流檢測能力，實時捕捉微小電流變化。金華導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。金華導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司