每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數(shù)測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式下，精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），相當(dāng)于檢測每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流。在手機(jī)芯片測試中，這能識別因工藝缺陷導(dǎo)致的“待機(jī)耗電”問題，確保續(xù)航達(dá)標(biāo)。在FIMV（強(qiáng)制電流測電壓）模式下，可驗(yàn)證電源調(diào)整率，防止芯片在高負(fù)載下電壓跌落導(dǎo)致死機(jī)。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內(nèi)完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。您的產(chǎn)品需要經(jīng)歷高溫高濕環(huán)境的考驗(yàn)嗎？杭州國磊CAF測試系統(tǒng)廠商

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動、長期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。國磊GT600SoC測試機(jī)正是這一“車規(guī)級體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細(xì)測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時(shí)支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證MCU在電壓波動、負(fù)載突變等真實(shí)工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯(cuò)亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行安全。 國產(chǎn)SIR測試系統(tǒng)哪家好現(xiàn)代低功耗SoC普遍采用動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)以平衡性能與能耗。國磊GT600可通過使用SMU動態(tài)切換供電電壓。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測試。這種“場景級驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強(qiáng)腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。

AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計(jì)算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運(yùn)行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對性能與可靠性提出***要求。國磊GT600等SoC測試機(jī)正是確保這類芯片“萬無一失”的關(guān)鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍(lán)牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號芯片。國磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時(shí)驗(yàn)證數(shù)字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩(wěn)定、語音響應(yīng)及時(shí)。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國磊GT600的PPMU可精確檢測芯片的靜態(tài)漏電流（Iddq）和動態(tài)功耗，篩選出“省電體質(zhì)”的芯片，直接決定眼鏡的續(xù)航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時(shí)佩戴使用，可靠性至關(guān)重要。國磊GT600通過高溫老化測試、高速功能驗(yàn)證，提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷，避免用戶端出現(xiàn)死機(jī)、發(fā)熱等問題。AI眼鏡量產(chǎn)規(guī)模大，成本敏感。國磊GT600支持512站點(diǎn)并行測試，大幅提升效率，降低單顆芯片測試成本，助力產(chǎn)品上市?？梢哉f，國磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續(xù)航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴(yán)苛的測試，讓“智能隨行”真正成為可能。 實(shí)時(shí)電流監(jiān)測與快速數(shù)據(jù)采集，完整掌握電化學(xué)反應(yīng)過程。

在地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的當(dāng)下，芯片測試環(huán)節(jié)的自主可控關(guān)乎**。過去，**SoC測試嚴(yán)重依賴泰瑞達(dá)、愛德萬等國外設(shè)備，存在數(shù)據(jù)泄露、斷供禁運(yùn)等隱患。GT600作為純國產(chǎn)**測試機(jī)，從FPGA控制邏輯到測試向量編譯器均實(shí)現(xiàn)自主開發(fā)，確保測試數(shù)據(jù)不出境、設(shè)備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領(lǐng)域部署的AI芯片，必須通過可信平臺驗(yàn)證。GT600的出現(xiàn)，填補(bǔ)了國產(chǎn)測試設(shè)備在400MHz以上高頻段的空白，為國家關(guān)鍵信息基礎(chǔ)設(shè)施提供“***一道防線”，是構(gòu)建安全、普惠、可信AI生態(tài)的基石。國磊GT600測試系統(tǒng)只需通過“配置升級”和“方案打包”，就能快速適配Chiplet的復(fù)雜測試需求。東莞PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

國磊GT600SoC測試機(jī)通過地址/數(shù)據(jù)生成器驗(yàn)證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。杭州國磊CAF測試系統(tǒng)廠商

面對國產(chǎn)手機(jī)芯片動輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時(shí)間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場先機(jī)。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點(diǎn)能力，相較傳統(tǒng)32或64站點(diǎn)設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場競爭中贏得價(jià)格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。杭州國磊CAF測試系統(tǒng)廠商