AI眼鏡作為下一代可穿戴計算終端，正面臨“功能豐富度、續(xù)航時長、設備重量”三者難以兼得的工程難題。為實現語音交互、實時翻譯、環(huán)境感知與輕量化設計，其**SoC必須在極小面積內集成CPU、NPU、DSP、藍牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊，同時在先進工藝節(jié)點下實現**靜態(tài)功耗。這類高度集成的異構SoC對測試設備提出了嚴苛要求：不**需驗證復雜功能邏輯，更要精確測量nA級漏電流、微瓦級動態(tài)功耗及多電源域切換時序。國磊GT600測試機支持每通道PPMU，可實現nA級IDDQ測量，**識別SoC在睡眠模式下的漏電異常，確保續(xù)航能力不受“隱形功耗”拖累。精確的閾值判定，及時報警，有效保護您的樣品。日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試

現代手機SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02（THD-122dB）和高分辨率Digitizer板卡，可用于AI驅動的語音識別、圖像信號處理鏈路的動態(tài)性能測試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關鍵指標的精確測量，確保端側AI感知系統(tǒng)的信號完整性。國磊GT600測試機的16插槽模塊化架構允許數字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實現從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測試，避免多設備切換帶來的效率損失與數據割裂。
高性能高阻測試系統(tǒng)行價國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標電源域電壓，若在門控關閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。

“風華3號”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài)，其圖形管線包含頂點處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復雜階段，測試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉換。國磊GT600測試機支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實現定制化圖形功能測試算法，如Shader指令序列驗證、Z-Buffer精度測試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應存儲深度可捕獲長周期圖形輸出行為，支持對幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進行回溯分析。國磊GT600測試機還支持STDF、CSV等標準數據格式輸出，便于良率追蹤與測試數據與EDA仿真結果的對比驗證。

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動駕駛技術的快速演進，車載計算平臺對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實時性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復雜任務。然而，如此復雜的芯片架構對測試環(huán)節(jié)構成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借高達400 MHz的測試速率、512至2048個數字通道以及每通道高達128M的向量存儲深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設計到量產提供堅實保障。國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗證。

數據中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標下，數據中心能耗成為焦點，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務器CPU的靜態(tài)與動態(tài)功耗，結合FVMI（強制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設計團隊優(yōu)化電壓頻率調節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導致死機。杭州國磊GT600支持長時間穩(wěn)定性測試，模擬數據中心7x24小時運行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點并行測試大幅降低單顆芯片測試時間與成本，適配萬片級量產需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗證者，更是能效的“精算師”，助力國產芯片在綠色計算時代贏得市場。**適用于PCB、電子組件絕緣性能評估與品質管控。湘潭CAF測試系統(tǒng)工藝

GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構SoC數字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗證。日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試

天璣9000系列集成了高性能CPU集群與**NPU，支持多模態(tài)AI推理、端側大模型運行，其芯片內部信號復雜度遠超傳統(tǒng)SoC。國磊GT600測試機支持**2048個數字通道和400MHz測試速率，可完整覆蓋天璣類SoC的高并發(fā)I/O接口測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜AI指令序列的Pattern加載，確保NPU功能邏輯的完整驗證。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足手機SoC大規(guī)模量產的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量產”的競爭中，國磊GT600測試機為國產SoC廠商提供了高效、穩(wěn)定的測試保障。日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試