傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備面向通用CPU/GPU設(shè)計(jì),難以應(yīng)對(duì)AI芯片特有的稀疏計(jì)算、張量**、片上互聯(lián)等新架構(gòu)。GT600針對(duì)此類需求優(yōu)化了測(cè)試向量調(diào)度機(jī)制與并行激勵(lì)生成能力,支持對(duì)非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動(dòng)態(tài)稀疏***、混合精度運(yùn)算的專項(xiàng)驗(yàn)證。其靈活的時(shí)鐘域管理還可模擬多頻異構(gòu)系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設(shè)計(jì)理念,使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片,更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國(guó)算力之城”的進(jìn)程中,GT600正推動(dòng)測(cè)試從“功能檢查”向“場(chǎng)景仿真”演進(jìn),**國(guó)產(chǎn)測(cè)試技術(shù)范式升級(jí)。國(guó)磊GT600每通道集成PPMU,支持HBM相關(guān)I/O引腳的漏電流(Leakage)、VIH/VIL、VOH/VOL等DC參數(shù)測(cè)量。廣東PCB測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

測(cè)試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化,杭州國(guó)磊(Guolei)GT600支持STDF、CSV等格式輸出,并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測(cè)試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設(shè)計(jì)仿真平臺(tái)聯(lián)動(dòng),形成“測(cè)試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如,若某批次控制芯片的相位噪聲超標(biāo),可反向指導(dǎo)量子比特布局或?yàn)V波器設(shè)計(jì),提升整體系統(tǒng)相干時(shí)間。國(guó)產(chǎn)化替代保障量子科技供應(yīng)鏈安全量子技術(shù)屬于國(guó)家戰(zhàn)略科技力量,其**裝備的自主可控至關(guān)重要。杭州國(guó)磊(Guolei)作為國(guó)產(chǎn)**ATE廠商,其GT600系統(tǒng)已實(shí)現(xiàn)對(duì)國(guó)際同類設(shè)備(如Advantest、Teradyne)部分功能的替代。在量子科研機(jī)構(gòu)或企業(yè)構(gòu)建本土化測(cè)控生態(tài)時(shí),采用國(guó)產(chǎn)測(cè)試平臺(tái)可降低技術(shù)封鎖風(fēng)險(xiǎn),加速?gòu)膶?shí)驗(yàn)室原型到工程化產(chǎn)品的轉(zhuǎn)化。雖然杭州國(guó)磊(Guolei)GT600并非直接用于測(cè)量量子態(tài)或操控量子比特,但作為支撐量子系統(tǒng)“經(jīng)典側(cè)”電子學(xué)的**測(cè)試基礎(chǔ)設(shè)施,它在量子芯片外圍電路驗(yàn)證、控制SoC量產(chǎn)、供應(yīng)鏈安全等方面具有不可替代的價(jià)值。未來(lái),隨著“量子-經(jīng)典混合系統(tǒng)”復(fù)雜度提升,高性能SoC測(cè)試設(shè)備與量子科技的耦合將更加緊密。因此,杭州國(guó)磊的SoC測(cè)試系統(tǒng)不僅是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的利器,也正在成為量子科技產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中的一塊關(guān)鍵拼圖。 GEN測(cè)試系統(tǒng)廠家國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)可有效支持90nm、65nm、40nm、28nm、14nm、12nm、7nm等主流CMOS工藝節(jié)點(diǎn)的電源門控測(cè)試。

“風(fēng)華3號(hào)”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài),其圖形管線包含頂點(diǎn)處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復(fù)雜階段,測(cè)試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉(zhuǎn)換。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開(kāi)發(fā)環(huán)境,便于實(shí)現(xiàn)定制化圖形功能測(cè)試算法,如Shader指令序列驗(yàn)證、Z-Buffer精度測(cè)試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度可捕獲長(zhǎng)周期圖形輸出行為,支持對(duì)幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進(jìn)行回溯分析。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)還支持STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出,便于良率追蹤與測(cè)試數(shù)據(jù)與EDA仿真結(jié)果的對(duì)比驗(yàn)證。
現(xiàn)代AI芯片集成度極高,動(dòng)輒擁有上千引腳,傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備因通道數(shù)量不足,往往需分時(shí)復(fù)用或多輪測(cè)試,不僅效率低下,還可能遺漏關(guān)鍵時(shí)序問(wèn)題。杭州國(guó)磊GT600比較高支持2048個(gè)數(shù)字通道,可一次性完成全引腳并行測(cè)試,確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內(nèi)存接口等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的功能完整性與時(shí)序一致性。這一能力對(duì)寒武紀(jì)、壁仞、燧原等國(guó)產(chǎn)AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓(xùn)練芯片追求***帶寬與低延遲的***,GT600的高通道密度成為驗(yàn)證真實(shí)工作負(fù)載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵工具,大幅縮短芯片從流片到量產(chǎn)的周期,助力國(guó)產(chǎn)AI算力快速落地?cái)?shù)據(jù)中心與邊緣場(chǎng)景。國(guó)磊GT600每通道集成PPMU,支持nA級(jí)電流分辨率,可精確測(cè)量SoC在睡眠、深度睡眠或關(guān)斷模式下的靜態(tài)漏電流。

兼容探針臺(tái)與分選機(jī),打通晶圓到封裝測(cè)試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測(cè)試(CP)與封裝測(cè)試(FT)雙重驗(yàn)證。杭州國(guó)磊GT600支持GPIB、TTL等標(biāo)準(zhǔn)接口,可無(wú)縫對(duì)接主流探針臺(tái)與分選機(jī)設(shè)備,實(shí)現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動(dòng)化測(cè)試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級(jí)應(yīng)力測(cè)試條件下,杭州國(guó)磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計(jì)有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性與可重復(fù)性,為芯片通過(guò)AEC-Q100認(rèn)證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國(guó)產(chǎn)**測(cè)試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下,國(guó)產(chǎn)高性能測(cè)試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測(cè)試機(jī),已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認(rèn)可,標(biāo)志著我國(guó)在**ATE領(lǐng)域取得突破。對(duì)于智能駕駛這一關(guān)乎國(guó)家交通安全與科技**的關(guān)鍵賽道,采用國(guó)磊GT600不僅可降低對(duì)國(guó)外測(cè)試設(shè)備的依賴,更能通過(guò)本地化技術(shù)支持快速響應(yīng)芯片廠商的定制需求,加速中國(guó)智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進(jìn)程。 外接偏置電壓可達(dá)3000V,滿足高壓環(huán)境下的CAF試驗(yàn)要求。國(guó)磊導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)哪家好
國(guó)磊GT600支持多Site并行測(cè)試,提升電源管理芯片、運(yùn)放等高量產(chǎn)型號(hào)的測(cè)試效率與產(chǎn)能。廣東PCB測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)
適配多元化國(guó)產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國(guó)芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢(shì):RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號(hào)需求。國(guó)磊(Guolei)GT600的16個(gè)通用插槽、多種VI浮動(dòng)電源板卡(如-2.5V~7V)、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡,使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測(cè)試需求,避免因測(cè)試平臺(tái)僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展,從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險(xiǎn)能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)安全 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關(guān)乎國(guó)計(jì)民生的關(guān)鍵領(lǐng)域,芯片供應(yīng)鏈安全直接關(guān)系**。國(guó)磊(Guolei)GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動(dòng)、MCU等芯片測(cè)試,未來(lái)可進(jìn)一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過(guò)部署國(guó)產(chǎn)測(cè)試設(shè)備,這些敏感芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識(shí)產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi),杜絕信息泄露風(fēng)險(xiǎn)。廣東PCB測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)