高同測能力加速智能駕駛芯片量產(chǎn)進程。智能駕駛芯片往往需要大規(guī)模部署于整車廠供應(yīng)鏈中，對測試效率和成本控制極為敏感。杭州國磊GT600支持比較高512 Sites的并行測試能力，意味著可在單次測試周期內(nèi)同時驗證數(shù)百顆芯片，極大縮短測試時間、降低單位測試成本。這種高同測（High Parallel Test）特性對于滿足車規(guī)級芯片動輒百萬級出貨量的需求至關(guān)重要。此外，其開放式GTFY軟件平臺支持工程模式與量產(chǎn)模式無縫切換，便于在研發(fā)驗證與大規(guī)模生產(chǎn)之間靈活調(diào)配資源，確保智能駕駛芯片在嚴格的時間窗口內(nèi)完成認證與交付。GT600通過高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測捕獲電流波形，若峰值電流超過安全閾值，可判定存在電源設(shè)計風險。廣東導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

高速數(shù)字接口驗證保障系統(tǒng)集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自動駕駛）常集成SPI/QSPI接口，速率可達50MHz以上。國磊（Guolei）GT600支持400MHz測試速率和100ps邊沿精度，不僅能驗證數(shù)字協(xié)議合規(guī)性，還可進行眼圖分析、抖動測試和建立/保持時間檢查，確保MEMS模塊在高速數(shù)據(jù)交互中不失效，避免因接口時序問題導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰。并行測試提升MEMS量產(chǎn)效率 消費級MEMS芯片（如手機中的六軸傳感器）年出貨量達數(shù)億顆，對測試成本極其敏感。國磊（Guolei）GT600支持比較高512 Sites并行測試，可在單次測試中同時驗證數(shù)百顆MEMS-ASIC芯片，大幅降低單顆測試時間與成本。結(jié)合其向量存儲深度（比較高128M）和ALPG（自動邏輯圖形生成）功能，可高效覆蓋復(fù)雜校準算法（如六點溫度補償）的測試流程。江蘇絕緣電阻測試系統(tǒng)靈活的分組測試模式，可單獨控制16通道為一組。

    GT600SoC測試機在測試高可靠性產(chǎn)品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級MCU、航天電子、醫(yī)療設(shè)備芯片）時，展現(xiàn)出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產(chǎn)品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運行。首先，高精度參數(shù)測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數(shù)測量單元），可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產(chǎn)品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數(shù)百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設(shè)備的復(fù)雜電源環(huán)境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩(wěn)定性。對于通信類高可靠產(chǎn)品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設(shè)計冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時連續(xù)運行，可執(zhí)行長達數(shù)周的耐久性測試，模擬產(chǎn)品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數(shù)據(jù)完整。***，數(shù)據(jù)可追溯性強。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關(guān)閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復(fù)多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。國磊GT600數(shù)字通道邊沿精度100ps，確保模擬IC控制信號（如Enable、Reset）的建立與保持時間精確驗證。

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測試成本，助力國產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。國磊GT600SoC測試機廣適用于AI、移動、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領(lǐng)域的SoC研發(fā)與量產(chǎn)驗證。杭州CAF測試系統(tǒng)哪家好

國磊GT600SoC測試機邊沿精度（EPA）達100ps，確保HBM高速信號建立/保持時間（Setup/Hold）的精確測量。廣東導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

杭州國磊GT600提供高達128M的向量存儲深度，相當于可存儲1.28億個測試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測試完整性的關(guān)鍵。現(xiàn)代SoC的測試程序極為龐大，如AI芯片運行ResNet-50模型推理、手機SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測試序列動輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測試機需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測試中斷、效率驟降。杭州國磊GT600的128M深度可將整個測試程序一次性載入內(nèi)存，實現(xiàn)“全速連續(xù)運行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對于需要長時間穩(wěn)定性測試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國磊GT600能應(yīng)對未來更復(fù)雜的芯片驗證需求。廣東導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)