Chiplet時代的“互聯(lián)驗證者” Chiplet（芯粒）技術通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗證能力，為國產(chǎn)先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯(lián)動，構建高精度模擬參數(shù)測試系統(tǒng)。國磊GEN測試系統(tǒng)精選廠家

高速數(shù)字接口驗證保障系統(tǒng)集成，**MEMSIMU（如用于AR/VR或自動駕駛）常集成SPI/QSPI接口，速率可達50MHz以上。國磊（Guolei）GT600支持400MHz測試速率和100ps邊沿精度，不僅能驗證數(shù)字協(xié)議合規(guī)性，還可進行眼圖分析、抖動測試和建立/保持時間檢查，確保MEMS模塊在高速數(shù)據(jù)交互中不失效，避免因接口時序問題導致系統(tǒng)崩潰。并行測試提升MEMS量產(chǎn)效率 消費級MEMS芯片（如手機中的六軸傳感器）年出貨量達數(shù)億顆，對測試成本極其敏感。國磊（Guolei）GT600支持比較高512 Sites并行測試，可在單次測試中同時驗證數(shù)百顆MEMS-ASIC芯片，大幅降低單顆測試時間與成本。結合其向量存儲深度（比較高128M）和ALPG（自動邏輯圖形生成）功能，可高效覆蓋復雜校準算法（如六點溫度補償）的測試流程。深圳GEN3測試系統(tǒng)廠家GT600通過高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測捕獲電流波形，若峰值電流超過安全閾值，可判定存在電源設計風險。

靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構 當前智能駕駛SoC廠商采用異構計算架構，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個通用插槽，支持數(shù)字、模擬及混合信號板卡任意組合，并兼容多種VI浮動電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設計使測試平臺能快速適配英偉達Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復用率與投資回報率。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關鍵角色，其應用貫穿從研發(fā)驗證到量產(chǎn)的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁В瑖贕T600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運行1000小時以上，驗證其長期穩(wěn)定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應能力，防止“掉電重啟”。高達256通道的并行測試能力，GM8800極大提升您的檢測效率。

面對國產(chǎn)手機芯片動輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場先機。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導體行業(yè)經(jīng)驗數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點能力，相較傳統(tǒng)32或64站點設備，成本降幅可達70%以上，為國產(chǎn)手機SoC在激烈市場競爭中贏得價格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構，構建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。從實驗室驗證到量產(chǎn)測試，我們提供全流程支持。江蘇PCB測試系統(tǒng)定制價格

國磊GT600SoC測試機提供測試向量轉換工具，支持從主流商用ATE平臺遷移HBM相關測試程序，降低導入成本。國磊GEN測試系統(tǒng)精選廠家

 PPMU功能實現(xiàn)每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現(xiàn)動態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監(jiān)測各電源域的電流響應，確保SoC不會因電源異常導致功能失效或安全風險。國磊GEN測試系統(tǒng)精選廠家