在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺(tái)，以快速響應(yīng)設(shè)計(jì)變更與測試需求升級(jí)。國磊GT600測試機(jī)搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測試流程，快速開發(fā)復(fù)雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對(duì)接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺(tái)。同時(shí)，GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺(tái)的測試方案，大幅縮短導(dǎo)入周期。對(duì)于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺(tái)測試機(jī)，更是一個(gè)靈活、高效、可擴(kuò)展的測試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機(jī)。國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數(shù)測試。GEN3測試設(shè)備

杭州國磊GT600提供512個(gè)數(shù)字通道，并可擴(kuò)展至2048通道，配合16個(gè)通用插槽，構(gòu)建了高度靈活的硬件架構(gòu)。在測試一顆引腳數(shù)超500的手機(jī)SoC時(shí)，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復(fù)用或分時(shí)測試，確保信號(hào)同步性。16個(gè)插槽支持自由組合數(shù)字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬+混合信號(hào)”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時(shí)，部分插槽配置為高速數(shù)字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號(hào)測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時(shí)序。這種模塊化設(shè)計(jì)讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機(jī)通測，大幅降低企業(yè)設(shè)備采購與維護(hù)成本。廣東CAF測試系統(tǒng)價(jià)位操作界面友好，即使新手也能快速上手操作。

國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測試平臺(tái)，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競爭與地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的背景下，對(duì)保障中國半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測試領(lǐng)域，國產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國內(nèi)晶圓廠、封測廠和芯片設(shè)計(jì)公司在**測試環(huán)節(jié)對(duì)國外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級(jí)MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），識(shí)別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動(dòng)SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯(cuò)亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級(jí)檢測+真實(shí)工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。從實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證到量產(chǎn)測試，我們提供全流程支持。

數(shù)據(jù)中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標(biāo)下，數(shù)據(jù)中心能耗成為焦點(diǎn)，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標(biāo)。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務(wù)器CPU的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)功耗，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電壓頻率調(diào)節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)。杭州國磊GT600支持長時(shí)間穩(wěn)定性測試，模擬數(shù)據(jù)中心7x24小時(shí)運(yùn)行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點(diǎn)并行測試大幅降低單顆芯片測試時(shí)間與成本，適配萬片級(jí)量產(chǎn)需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗(yàn)證者，更是能效的“精算師”，助力國產(chǎn)芯片在綠色計(jì)算時(shí)代贏得市場。國磊GT600可利用高速數(shù)字通道捕獲時(shí)鐘與控制信號(hào)；結(jié)合TMU測量狀態(tài)切換延遲；來驗(yàn)證DVFS策略的有效性。日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測試

高中端國產(chǎn)替代測試系統(tǒng)，用戶高性價(jià)比的選擇！GEN3測試設(shè)備

“風(fēng)華3號(hào)”**了國產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的完整驗(yàn)證鏈支撐。國磊GT600測試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號(hào)支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計(jì)算芯片測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺(tái)、分選機(jī)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測試流程，**提升測試效率與一致性。在國產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國磊GT600測試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測試保障，助力中國芯在圖形與計(jì)算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。GEN3測試設(shè)備