AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級(jí)劇烈波動(dòng)，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計(jì)。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度支持長(zhǎng)時(shí)間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國(guó)磊GT600支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測(cè)試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗(yàn)證。其512Sites高并行測(cè)試架構(gòu)**提升測(cè)試吞吐量，降低單顆芯片測(cè)試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
國(guó)磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測(cè)目標(biāo)電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國(guó)磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測(cè)量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測(cè)試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測(cè)試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測(cè)量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測(cè)試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國(guó)磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。廣東絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器板卡，THD達(dá)-122dB，適用于HBMSerDes接收端靈敏度測(cè)試。

國(guó)際數(shù)據(jù)公司（IDC）預(yù)測(cè)的人工智能服務(wù)器市場(chǎng)高速增長(zhǎng)（2024年1251億美元→2028年2227億美元），本質(zhì)上是高算力芯片（GPU、ASIC）在功耗、密度與可靠性層面極限挑戰(zhàn)的集中體現(xiàn)。每一塊AI加速卡背后，都是數(shù)百瓦功耗、數(shù)千電源引腳、多級(jí)電壓域、復(fù)雜電源門控與瞬態(tài)電流管理的設(shè)計(jì)博弈。而這些，正是國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)憑借其高精度電源與功耗驗(yàn)證能力，**切入并把握產(chǎn)業(yè)機(jī)遇的技術(shù)支點(diǎn)。AI芯片普遍采用7nm/5nm等先進(jìn)工藝，靜態(tài)漏電（Leakage）隨工藝微縮呈指數(shù)增長(zhǎng)。國(guó)磊GT600通過每通道PPMU，支持nA級(jí)靜態(tài)電流測(cè)量，可**識(shí)別G**SIC在待機(jī)、休眠模式下的異常漏電，確保電源門控（PowerGating）機(jī)制有效，避免“隱形功耗”拖累整機(jī)能效。其高精度浮動(dòng)SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓輸出，可**控制AI芯片的Core、Memory、I/O等多電源域，驗(yàn)證上電時(shí)序（PowerSequencing）與電壓裕量（VoltageMargining），防止因電源順序錯(cuò)誤導(dǎo)致的閂鎖或功能失效。

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測(cè)試平臺(tái)，以快速響應(yīng)設(shè)計(jì)變更與測(cè)試需求升級(jí)。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測(cè)試流程，快速開發(fā)復(fù)雜測(cè)試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對(duì)接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺(tái)。同時(shí)，GT600提供測(cè)試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺(tái)的測(cè)試方案，大幅縮短導(dǎo)入周期。對(duì)于正在布局HBM產(chǎn)品的國(guó)產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺(tái)測(cè)試機(jī)，更是一個(gè)靈活、高效、可擴(kuò)展的測(cè)試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中搶占先機(jī)。電阻測(cè)量范圍10?–101?Ω，滿足高阻值測(cè)試需求，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。

國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測(cè)試平臺(tái)，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競(jìng)爭(zhēng)與地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的背景下，對(duì)保障中國(guó)半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長(zhǎng)期被美國(guó)泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國(guó)際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測(cè)試領(lǐng)域，國(guó)產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國(guó)磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測(cè)試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國(guó)內(nèi)晶圓廠、封測(cè)廠和芯片設(shè)計(jì)公司在**測(cè)試環(huán)節(jié)對(duì)國(guó)外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。國(guó)磊GT600支持Access、Excel、CSV數(shù)據(jù)導(dǎo)出，便于模擬測(cè)試數(shù)據(jù)的曲線擬合與工藝偏差分析。浙江導(dǎo)電陽極絲測(cè)試系統(tǒng)按需定制

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積與功耗，適配高通道數(shù)HBM測(cè)試的緊湊型測(cè)試臺(tái)架部署。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

杭州國(guó)磊GT600提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，相當(dāng)于可存儲(chǔ)1.28億個(gè)測(cè)試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測(cè)試完整性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代SoC的測(cè)試程序極為龐大，如AI芯片運(yùn)行ResNet-50模型推理、手機(jī)SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測(cè)試序列動(dòng)輒數(shù)百萬甚至上千萬向量。若向量深度不足，測(cè)試機(jī)需頻繁從硬盤加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測(cè)試中斷、效率驟降。杭州國(guó)磊GT600的128M深度可將整個(gè)測(cè)試程序一次性載入內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)“全速連續(xù)運(yùn)行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長(zhǎng)向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對(duì)于需要長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性測(cè)試的車規(guī)芯片，128M空間可容納老化測(cè)試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)未來更復(fù)雜的芯片驗(yàn)證需求。國(guó)磊GEN測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商