在全球半導體測試設備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數(shù)字測試領域?qū)崿F(xiàn)關鍵突破。該設備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規(guī)級芯片的驗證需求。其模塊化架構(gòu)不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產(chǎn)芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設備，更是保障中國半導體產(chǎn)業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點，為國內(nèi)設計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序?qū)R測試。贛州CAF測試系統(tǒng)市場價格

天璣9000系列集成了高性能CPU集群與**NPU，支持多模態(tài)AI推理、端側(cè)大模型運行，其芯片內(nèi)部信號復雜度遠超傳統(tǒng)SoC。國磊GT600測試機支持**2048個數(shù)字通道和400MHz測試速率，可完整覆蓋天璣類SoC的高并發(fā)I/O接口測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜AI指令序列的Pattern加載，確保NPU功能邏輯的完整驗證。更關鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足手機SoC大規(guī)模量產(chǎn)的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量產(chǎn)”的競爭中，國磊GT600測試機為國產(chǎn)SoC廠商提供了高效、穩(wěn)定的測試保障。國磊SIR測試系統(tǒng)價位國磊GT600的16個通用插槽支持數(shù)字、模擬、混合信號板卡混插，實現(xiàn)電源管理IC、傳感器信號調(diào)理芯片的測試。

    低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數(shù)表征許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。杭州國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動電源（），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產(chǎn)驗證平臺隨著量子計算機向百比特以上規(guī)模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的HorseRidge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結(jié)構(gòu)復雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。

    MEMS麥克風消費電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風，內(nèi)部包含聲學傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關鍵指標包括靈敏度、信噪比（SNR）、總諧波失真（THD）和AOP（聲學過載點）。杭州國磊（Guolei）支持點：GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵（THD<-122dB）；高分辨率Digitizer采集輸出信號，計算SNR與THD；支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試；可進行多顆麥克風并行測試（512Sites），滿足手機廠商大批量需求。壓力傳感器（氣壓/差壓/***壓力）用于可穿戴健康監(jiān)測（如血氧估算）、汽車胎壓監(jiān)測（TPMS）、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化，并具備溫度補償與校準功能。杭州國磊（Guolei）支持點：PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流；AWG模擬不同壓力對應的電容激勵信號；Digitizer采集校準后數(shù)字輸出（如I2C讀數(shù)），驗證線性度與零點漂移；支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試（配合溫控分選機）。 國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。

AI芯片在推理或訓練突發(fā)負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設計。其128M向量響應存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
低功耗SoC應用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設備等高量產(chǎn)場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。浙江導電陽極絲測試系統(tǒng)廠家供應

國磊GT600憑高精度參數(shù)測量、多域電源控制與可編程軟件平臺，支持從90nm到7nm主流工藝節(jié)點電源門控測試。贛州CAF測試系統(tǒng)市場價格

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴苛的可靠性認證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強振動、長期高負載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機正是這一“車規(guī)級體檢”的關鍵設備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證MCU在電壓波動、負載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護每一程出行安全。 贛州CAF測試系統(tǒng)市場價格