支撐國產(chǎn)芯片全流程自主驗證 從設計到量產(chǎn)，芯片必須經(jīng)過嚴格的功能與參數(shù)測試。若測試設備受制于人，不僅存在數(shù)據(jù)安全風險（如測試程序、芯片特性被第三方獲?。€可能因設備兼容性問題拖慢研發(fā)節(jié)奏。國磊（Guolei）GT600采用開放式GTFY軟件架構(gòu)，支持C++編程、自定義測試流程，并兼容STDF、CSV等標準格式，使國產(chǎn)CPU、GPU、AI加速器、車規(guī)MCU等關鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產(chǎn)測試，確保“設計—制造—測試”全鏈條安全閉環(huán)。加速國產(chǎn)芯片生態(tài)成熟與迭代 供應鏈安全不僅在于“有無”，更在于“效率”與“響應速度”。國磊作為本土企業(yè)，可提供快速的技術支持、定制化開發(fā)和本地化服務。例如，某智能駕駛芯片廠商在流片后發(fā)現(xiàn)高速接口時序異常，國磊工程師可在48小時內(nèi)協(xié)同優(yōu)化TMU測試程序，而依賴國外設備則可能需數(shù)周等待遠程支持。這種敏捷響應能力極大縮短了國產(chǎn)芯片的調(diào)試周期，加速產(chǎn)品上市，提升整個生態(tài)的競爭力與韌性。國磊GT600SoC測試機兼容STDF、CSV等標準數(shù)據(jù)格式，便于HBM相關測試數(shù)據(jù)的SPC分析與良率追蹤。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)價位

集成PPMU與動態(tài)電流監(jiān)測——賦能“每瓦特算力”優(yōu)化 背景：AI芯片能效比（Performance per Watt）成為核心競爭力，尤其在數(shù)據(jù)中心“雙碳”目標下。每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流與A級動態(tài)電流測量； 可捕獲微秒級浪涌電流（Inrush Current）與電壓塌陷（Voltage Droop）； 支持FVMI/FIMV等模式，繪制功耗-性能曲線。幫助芯片設計團隊優(yōu)化電源完整性（PI）與低功耗策略（如電源門控），打造高能效國產(chǎn)AI芯片。512 Sites并行測試架構(gòu)——降低量產(chǎn)成本，搶占市場先機。AI芯片年出貨量動輒百萬級，測試成本直接影響產(chǎn)品競爭力。512站點并行測試能力，使單顆芯片測試成本降低70%以上，測試效率呈指數(shù)級提升。為國產(chǎn)AI芯片大規(guī)模量產(chǎn)提供“超級測試流水線”，實現(xiàn)“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。開放軟件生態(tài)（GTFY + C++ + Visual Studio）——加速AI芯片創(chuàng)新迭代 背景：AI架構(gòu)快速演進（如存算一體、類腦計算），需高度靈活的測試平臺。開放編程環(huán)境支持自定義測試邏輯，高校與企業(yè)可快速開發(fā)新型測試方案。不僅是量產(chǎn)工具，更是科研創(chuàng)新的“開放實驗臺”，推動中國AI芯片從“跟隨”走向“**”。浙江導電陽極絲測試系統(tǒng)批發(fā)國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀、天璣NPU低功耗狀態(tài)機、喚醒延遲、靜態(tài)電流與混合信號接口驗證。

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測試成本，助力國產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測試設備因通道數(shù)量不足，往往需分時復用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關鍵時序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內(nèi)存接口等復雜結(jié)構(gòu)的功能完整性與時序一致性。這一能力對寒武紀、壁仞、燧原等國產(chǎn)AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗證真實工作負載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產(chǎn)的周期，助力國產(chǎn)AI算力快速落地數(shù)據(jù)中心與邊緣場景。國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數(shù)測試。

高性能GPU的功耗管理直接影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與能效比。“風華3號”支持多級電源域與動態(tài)頻率調(diào)節(jié)，要求測試平臺具備高精度DC參數(shù)測量能力。國磊GT600測試機每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，可**識別GPU在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動能力，可用于DVFS電壓切換測試、電源上電時序（PowerSequencing）驗證及電源抑制比（PSRR）分析。GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量GPU**喚醒延遲、中斷響應時間與時鐘同步偏差，確保AI訓推與實時渲染任務的時序可靠性。低功耗SoC應用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設備等高量產(chǎn)場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。湘潭SIR測試系統(tǒng)定制

國磊GT600為采用先進工藝、集成多電源域、支持復雜低功耗策略的SoC提供了從研發(fā)驗證到量產(chǎn)測試的全程支持。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)價位

在現(xiàn)代手機SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復雜、時序嚴苛，對測試設備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。國產(chǎn)替代PCB測試系統(tǒng)價位