國產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟發(fā)展
關(guān)于雅特力助力關(guān)節(jié)運動
維特比算法與DSP芯片——解碼噪聲中的“比較好路徑”
2025年關(guān)于麥歌恩動態(tài)
雅特力推出新系列微控制器:AT32F455/F456/F45
雅特力科技助力宇樹科技推動智慧機器人創(chuàng)新應(yīng)用
雅特力AT32 Workbench煥“芯”升級!
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矽睿科技獲TüV萊茵 ISO 26262 認(rèn)證
國產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場機遇并存
低溫CMOS芯片的常溫預(yù)篩與參數(shù)表征。許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作,但其制造仍基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前,必須通過常溫下的嚴(yán)格電性測試進(jìn)行預(yù)篩選。國磊(Guolei)GT600支持每引腳PPMU(參數(shù)測量單元)和可編程浮動電源(-2.5V~7V),能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關(guān)鍵參數(shù),有效剔除早期失效器件,避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產(chǎn)驗證平臺 隨著量子計算機向百比特以上規(guī)模演進(jìn),集成化“量子測控SoC”成為趨勢(如Intel的Horse Ridge芯片)。這類芯片集成了多通道微波信號調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能,結(jié)構(gòu)復(fù)雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率,完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。支持遠(yuǎn)程監(jiān)控,讓您隨時隨地掌握測試進(jìn)程。PCB測試系統(tǒng)哪家好

盡管“杭州六小龍”(游戲科學(xué)、深度求索、宇樹科技等)以應(yīng)用層創(chuàng)新聞名,但其產(chǎn)品**均依賴高性能、低功耗的定制化SoC。若這些企業(yè)未來走向自研芯片(如深度求索布局AI推理加速卡、強腦科技開發(fā)神經(jīng)信號處理芯片),GT600將成為其不可或缺的驗證伙伴。即便當(dāng)前由第三方代工,其合作芯片廠也可能采用GT600進(jìn)行量產(chǎn)測試。更重要的是,二者同處杭州科創(chuàng)生態(tài),共享人才、政策與供應(yīng)鏈資源。GT600雖未出現(xiàn)在烏鎮(zhèn)峰會聚光燈下,卻是支撐“六小龍”硬科技底座的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施,構(gòu)成“應(yīng)用—算法—芯片—測試”的完整本地閉環(huán)。離子遷移測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家國磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD達(dá)-122dB,SNR110dB,適用于音頻編解碼器、高保真信號鏈芯片的失真分析。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度,足以運行手機芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序,避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”,大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點并行測試能力,更可滿足手機芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求,***降低測試成本。更重要的是,國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng),支持C++自主編程,工程師可深度定制測試流程,無縫對接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系,實現(xiàn)從實驗室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈?zhǔn)芟薜谋尘跋拢瑖贕T600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備,可以為國產(chǎn)手機芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn),提供堅實、安全、可控的底層保障。
5G/6G通信芯片的“時序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時序精度要求極高,微小抖動即可導(dǎo)致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU(時間測量單元),分辨率高達(dá)10ps(0.01納秒),相當(dāng)于光在3毫米內(nèi)傳播的時間,能精細(xì)捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉(zhuǎn)換器的時序一致性至關(guān)重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號,測試芯片在復(fù)雜調(diào)制模式下的響應(yīng)性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度,確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術(shù)快速迭代的背景下,杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力,為國產(chǎn)通信芯片的性能與穩(wěn)定性提供精細(xì)驗證,助力中國在6G賽道搶占先機。GT600通過多SMU同步控制與TMU測量,驗證各域電壓建立時間符合設(shè)計時序否。若順序錯,可能閂鎖或功能異常。

AI眼鏡作為下一代可穿戴計算終端,正面臨“功能豐富度、續(xù)航時長、設(shè)備重量”三者難以兼得的工程難題。為實現(xiàn)語音交互、實時翻譯、環(huán)境感知與輕量化設(shè)計,其**SoC必須在極小面積內(nèi)集成CPU、NPU、DSP、藍(lán)牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊,同時在先進(jìn)工藝節(jié)點下實現(xiàn)**靜態(tài)功耗。這類高度集成的異構(gòu)SoC對測試設(shè)備提出了嚴(yán)苛要求:不**需驗證復(fù)雜功能邏輯,更要精確測量nA級漏電流、微瓦級動態(tài)功耗及多電源域切換時序。國磊GT600測試機支持每通道PPMU,可實現(xiàn)nA級IDDQ測量,**識別SoC在睡眠模式下的漏電異常,確保續(xù)航能力不受“隱形功耗”拖累。具備多類報警功能,包括低阻、溫濕度異常等,保障測試安全。廣州SIR測試系統(tǒng)市價
長時間穩(wěn)定運行,支持1–1000小時持續(xù)測試,可靠性高。PCB測試系統(tǒng)哪家好
AI眼鏡的崛起標(biāo)志著消費電子向“感知+計算+交互”一體化演進(jìn)。其**SoC是典型的高度集成、低功耗、混合信號器件,測試難度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)MCU。國磊GT600測試機憑借nA級電流測量、高精度模擬測試、10ps時序分析、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺,成為AI眼鏡SoC從研發(fā)驗證到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵支撐。它不**滿足當(dāng)前40/28nm節(jié)點的測試需求,更具備向更先進(jìn)工藝延伸的能力。在AI終端加速滲透的浪潮中,GT600為國產(chǎn)可穿戴芯片提供可靠、高效、自主可控的測試解決方案,助力中國智造搶占下一代人機交互入口。PCB測試系統(tǒng)哪家好