杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借其面向AI芯片特性的高性能參數(shù)和靈活架構(gòu)，精細(xì)契合當(dāng)前人工智能產(chǎn)業(yè)爆發(fā)式發(fā)展的**需求。高測試速率（100/400 MHz）——支撐AI芯片高速接口驗(yàn)證，AI芯片（如GPU、NPU、AI加速器）普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口，數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)數(shù)Gbps。400 MHz測試速率可完整覆蓋AI SoC中高速I/O的功能與時(shí)序驗(yàn)證，確保在真實(shí)工作頻率下穩(wěn)定運(yùn)行。隨著大模型訓(xùn)練對帶寬需求激增，國產(chǎn)AI芯片亟需高效驗(yàn)證平臺(tái)，GT600成為打通“設(shè)計(jì)—驗(yàn)證—量產(chǎn)”閉環(huán)的關(guān)鍵工具。國磊GT600SoC測試機(jī)每通道32/64/128M向量存儲(chǔ)深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。珠海PCB測試系統(tǒng)研發(fā)

    杭州國磊GT600SoC測試機(jī)之所以特別適用于高?？蒲袌鼍?，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價(jià)比，完美契合高校在芯片教學(xué)、科研探索與原型驗(yàn)證中的獨(dú)特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎(chǔ)。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調(diào)試和優(yōu)化測試程序，靈活實(shí)現(xiàn)各類新型芯片架構(gòu)（如RISC-V、存算一體、類腦計(jì)算）的功能驗(yàn)證。這種開放性極大激發(fā)了學(xué)生的工程實(shí)踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構(gòu)支持多樣化實(shí)驗(yàn)需求。GT600提供16個(gè)通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構(gòu)建從純數(shù)字邏輯到混合信號的完整測試平臺(tái)。無論是驗(yàn)證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進(jìn)工藝下的漏電特性，GT600都能“一機(jī)多用”，避免高校重復(fù)采購多臺(tái)**設(shè)備，***提升設(shè)備利用率。第三，高精度測量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測nA級電流，TMU時(shí)間分辨率達(dá)10ps，適用于FinFET、GAA等先進(jìn)工藝下低功耗器件的特性表征。 國磊PCB測試系統(tǒng)價(jià)格**適用于PCB、電子組件絕緣性能評估與品質(zhì)管控。

適配多元化國產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢：RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號需求。國磊（Guolei）GT600的16個(gè)通用插槽、多種VI浮動(dòng)電源板卡（如-2.5V~7V）、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡，使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測試需求，避免因測試平臺(tái)僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展，從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險(xiǎn)能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)安全 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車等關(guān)乎國計(jì)民生的關(guān)鍵領(lǐng)域，芯片供應(yīng)鏈安全直接關(guān)系**。國磊（Guolei）GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動(dòng)、MCU等芯片測試，未來可進(jìn)一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過部署國產(chǎn)測試設(shè)備，這些敏感芯片的測試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識(shí)產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi)，杜絕信息泄露風(fēng)險(xiǎn)。

智能駕駛對高性能SoC芯片的依賴日益加深。隨著L2+至L4級自動(dòng)駕駛技術(shù)的快速演進(jìn)，車載計(jì)算平臺(tái)對SoC（系統(tǒng)級芯片）的性能、可靠性與實(shí)時(shí)性提出了前所未有的高要求。這些SoC通常集成了CPU、GPU、NPU、ISP及**AI加速單元，用于處理多傳感器融合、路徑規(guī)劃與決策控制等復(fù)雜任務(wù)。然而，如此復(fù)雜的芯片架構(gòu)對測試環(huán)節(jié)構(gòu)成了巨大挑戰(zhàn)。杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借高達(dá)400 MHz的測試速率、512至2048個(gè)數(shù)字通道以及每通道高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，能夠高效覆蓋智能駕駛SoC在功能驗(yàn)證階段所需的高并發(fā)、高精度測試場景，為芯片從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)提供堅(jiān)實(shí)保障。國磊GT600SoC測試機(jī)ALPG功能可生成地址/數(shù)據(jù)模式，用于HBM存儲(chǔ)控制器的功能驗(yàn)證。

數(shù)據(jù)中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標(biāo)下，數(shù)據(jù)中心能耗成為焦點(diǎn)，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標(biāo)。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務(wù)器CPU的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)功耗，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化電壓頻率調(diào)節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)。杭州國磊GT600支持長時(shí)間穩(wěn)定性測試，模擬數(shù)據(jù)中心7x24小時(shí)運(yùn)行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點(diǎn)并行測試大幅降低單顆芯片測試時(shí)間與成本，適配萬片級量產(chǎn)需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗(yàn)證者，更是能效的“精算師”，助力國產(chǎn)芯片在綠色計(jì)算時(shí)代贏得市場。國磊GT600高達(dá)512個(gè)數(shù)字通道，可同時(shí)測試集成模擬模塊的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能驗(yàn)證。無錫PCB測試系統(tǒng)廠家直銷

國磊GT600支持電壓/電流源同步掃描功能，可用于BGR（帶隙基準(zhǔn)）溫度特性與電源抑制比（PSRR）自動(dòng)化測試。珠海PCB測試系統(tǒng)研發(fā)

杭州國磊GT600提供512個(gè)數(shù)字通道，并可擴(kuò)展至2048通道，配合16個(gè)通用插槽，構(gòu)建了高度靈活的硬件架構(gòu)。在測試一顆引腳數(shù)超500的手機(jī)SoC時(shí)，512通道可完全覆蓋其I/O需求，無需復(fù)用或分時(shí)測試，確保信號同步性。16個(gè)插槽支持自由組合數(shù)字板卡、模擬板卡（AWG/TMU）、電源板卡（DPS/SMU），實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬+混合信號”一體化測試。例如，測試智能座艙芯片時(shí)，部分插槽配置為高速數(shù)字通道測試CPU邏輯，另一部分接入AWG生成音頻信號測試DAC，再通過TMU測量顯示接口時(shí)序。這種模塊化設(shè)計(jì)讓GT600能像“變形金剛”一樣適配不同芯片需求，從低引腳MCU到高集成SoC，一機(jī)通測，大幅降低企業(yè)設(shè)備采購與維護(hù)成本。珠海PCB測試系統(tǒng)研發(fā)