靈活的板卡配置適配多樣化智能駕駛芯片架構(gòu) 當(dāng)前智能駕駛SoC廠商采用異構(gòu)計(jì)算架構(gòu)，不同廠商在I/O電壓、功耗、接口協(xié)議等方面存在***差異。杭州國磊GT600提供16個(gè)通用插槽，支持?jǐn)?shù)字、模擬及混合信號(hào)板卡任意組合，并兼容多種VI浮動(dòng)電源板卡（如GT-DPSMV08支持-2.5V~7V、1A輸出）。這種高度模塊化的設(shè)計(jì)使測試平臺(tái)能快速適配英偉達(dá)Orin、地平線征程、黑芝麻華山等不同架構(gòu)芯片的測試需求，無需為每款芯片重新開發(fā)整套測試硬件，***提升測試系統(tǒng)的復(fù)用率與投資回報(bào)率。國磊GT600的高精度參數(shù)測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號(hào)檢測精度適配現(xiàn)代低功耗SoC設(shè)計(jì)需求。常州高阻測試系統(tǒng)

“風(fēng)華3號(hào)”的推出標(biāo)志著國產(chǎn)全功能GPU在大模型訓(xùn)練、科學(xué)計(jì)算與重度渲染領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)從0到1的突破。其集成RISC-VCPU與CUDA兼容GPU架構(gòu)，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生態(tài)，對(duì)芯片功能復(fù)雜度、接口帶寬與時(shí)序精度提出了極高要求。此類高性能GPU通常具備數(shù)千個(gè)邏輯引腳、多電源域、高速SerDes接口及復(fù)雜狀態(tài)機(jī)，傳統(tǒng)測試設(shè)備難以完成**驗(yàn)證。國磊GT600測試機(jī)支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋“風(fēng)華3號(hào)”類GPU的高引腳數(shù)、高速功能測試需求。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜計(jì)算指令序列的Pattern加載，確保GPU**、NPU單元及RISC-V子系統(tǒng)的功能正確性。國產(chǎn)GEN測試系統(tǒng)價(jià)位實(shí)時(shí)電流監(jiān)測與快速數(shù)據(jù)采集，完整掌握電化學(xué)反應(yīng)過程。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運(yùn)行手機(jī)芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點(diǎn)并行測試能力，更可滿足手機(jī)芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對(duì)接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈?zhǔn)芟薜谋尘跋?，國磊GT600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備，可以為國產(chǎn)手機(jī)芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅(jiān)實(shí)、安全、可控的底層保障。

“風(fēng)華3號(hào)”兼容DirectX、OpenGL、Vulkan等主流圖形生態(tài)，其圖形管線包含頂點(diǎn)處理、光柵化、著色器執(zhí)行等復(fù)雜階段，測試需覆蓋多種渲染模式與狀態(tài)轉(zhuǎn)換。國磊GT600測試機(jī)支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，便于實(shí)現(xiàn)定制化圖形功能測試算法，如Shader指令序列驗(yàn)證、Z-Buffer精度測試、紋理映射完整性檢查等。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度可捕獲長周期圖形輸出行為，支持對(duì)幀率穩(wěn)定性、畫面撕裂等異常進(jìn)行回溯分析。國磊GT600測試機(jī)還支持STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率追蹤與測試數(shù)據(jù)與EDA仿真結(jié)果的對(duì)比驗(yàn)證。國磊GT600SoC測試機(jī)可用于執(zhí)行電壓裕量測試（VoltageMargining），評(píng)估芯片在電壓波動(dòng)下的穩(wěn)定性。

Chiplet時(shí)代的“互聯(lián)驗(yàn)證者” Chiplet（芯粒）技術(shù)通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進(jìn)制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對(duì)信號(hào)完整性、功耗、時(shí)序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號(hào)延遲與抖動(dòng)。其高精度SMU可驗(yàn)證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設(shè)計(jì)也便于擴(kuò)展，可針對(duì)不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術(shù)快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗(yàn)證能力，為國產(chǎn)先進(jìn)封裝芯片的可靠性與性能保駕護(hù)航。國磊GT600可選ALPG功能，生成地址/數(shù)據(jù)序列，用于測試集成了EEPROM或配置寄存器的模擬前端（AFE）芯片。離子遷移測試系統(tǒng)

國磊GT600測試機(jī)模塊化16插槽架構(gòu)可同時(shí)集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實(shí)現(xiàn)HBM系統(tǒng)級(jí)混合信號(hào)測試。常州高阻測試系統(tǒng)

可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對(duì)SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級(jí)靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識(shí)別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國磊GT600支持混合信號(hào)測試，可驗(yàn)證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級(jí)”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。常州高阻測試系統(tǒng)