AI眼鏡作為下一代智能終端，集成了**頭、語音交互、AR顯示與邊緣AI計(jì)算功能，其**是一顆高集成度的SoC芯片。這顆芯片需在極低功耗下運(yùn)行大模型推理、圖像處理與傳感器融合，對(duì)性能與可靠性提出***要求。國(guó)磊GT600等SoC測(cè)試機(jī)正是確保這類芯片“萬無一失”的關(guān)鍵。首先，AI眼鏡的SoC包含CPU、NPU、ISP、藍(lán)牙/WiFi基帶等多種模塊，屬于典型混合信號(hào)芯片。國(guó)磊GT600憑借可選配的AWG和TMU，能同時(shí)驗(yàn)證數(shù)字邏輯與模擬電路，確保攝像頭圖像清晰、無線連接穩(wěn)定、語音響應(yīng)及時(shí)。其次，AI眼鏡依賴電池供電，功耗控制極為敏感。國(guó)磊GT600的PPMU可精確檢測(cè)芯片的靜態(tài)漏電流（Iddq）和動(dòng)態(tài)功耗，篩選出“省電體質(zhì)”的芯片，直接決定眼鏡的續(xù)航能力。再者，AI眼鏡需7x24小時(shí)佩戴使用，可靠性至關(guān)重要。國(guó)磊GT600通過高溫老化測(cè)試、高速功能驗(yàn)證，提前發(fā)現(xiàn)潛在缺陷，避免用戶端出現(xiàn)死機(jī)、發(fā)熱等問題。AI眼鏡量產(chǎn)規(guī)模大，成本敏感。國(guó)磊GT600支持512站點(diǎn)并行測(cè)試，大幅提升效率，降低單顆芯片測(cè)試成本，助力產(chǎn)品上市。可以說，國(guó)磊GT600不僅可以做AI眼鏡SoC的“體檢官”，更能做其性能、續(xù)航與可靠性的“守門人”。在輕巧鏡架之下，正是這樣嚴(yán)苛的測(cè)試，讓“智能隨行”真正成為可能。 國(guó)磊GT600數(shù)字通道邊沿精度100ps，確保模擬IC控制信號(hào)（如Enable、Reset）的建立與保持時(shí)間精確驗(yàn)證。英國(guó)進(jìn)口CAF測(cè)試設(shè)備

天璣9000系列集成了高性能CPU集群與**NPU，支持多模態(tài)AI推理、端側(cè)大模型運(yùn)行，其芯片內(nèi)部信號(hào)復(fù)雜度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)SoC。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持**2048個(gè)數(shù)字通道和400MHz測(cè)試速率，可完整覆蓋天璣類SoC的高并發(fā)I/O接口測(cè)試需求。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜AI指令序列的Pattern加載，確保NPU功能邏輯的完整驗(yàn)證。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測(cè)試，**提升測(cè)試吞吐量，降低單顆芯片測(cè)試成本，滿足手機(jī)SoC大規(guī)模量產(chǎn)的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量產(chǎn)”的競(jìng)爭(zhēng)中，國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)為國(guó)產(chǎn)SoC廠商提供了高效、穩(wěn)定的測(cè)試保障。無錫PCB測(cè)試系統(tǒng)批發(fā)國(guó)磊半導(dǎo)體，推動(dòng)測(cè)試技術(shù)的進(jìn)步與創(chuàng)新。

在地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的當(dāng)下，芯片測(cè)試環(huán)節(jié)的自主可控關(guān)乎**。過去，**SoC測(cè)試嚴(yán)重依賴泰瑞達(dá)、愛德萬等國(guó)外設(shè)備，存在數(shù)據(jù)泄露、斷供禁運(yùn)等隱患。GT600作為純國(guó)產(chǎn)**測(cè)試機(jī)，從FPGA控制邏輯到測(cè)試向量編譯器均實(shí)現(xiàn)自主開發(fā)，確保測(cè)試數(shù)據(jù)不出境、設(shè)備不受制于人。尤其在**、金融、能源等敏感領(lǐng)域部署的AI芯片，必須通過可信平臺(tái)驗(yàn)證。GT600的出現(xiàn)，填補(bǔ)了國(guó)產(chǎn)測(cè)試設(shè)備在400MHz以上高頻段的空白，為國(guó)家關(guān)鍵信息基礎(chǔ)設(shè)施提供“***一道防線”，是構(gòu)建安全、普惠、可信AI生態(tài)的基石。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級(jí)電流分辨率。在電源門控測(cè)試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號(hào)（PG_EN）關(guān)閉后，測(cè)量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計(jì)預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時(shí)監(jiān)測(cè)主電源域與被門控電源域的電流。測(cè)試時(shí)，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標(biāo)模塊的電源門控信號(hào)，通過對(duì)比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動(dòng)（通過探針臺(tái)接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進(jìn)行測(cè)試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測(cè)量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動(dòng)化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進(jìn)入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時(shí)穩(wěn)定（如10ms）；啟動(dòng)PPMU進(jìn)行電流采樣；重復(fù)多次以驗(yàn)證一致性。該流程確保測(cè)試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。國(guó)磊GT600多通道浮動(dòng)SMU設(shè)計(jì)，支持多電源域模擬芯片（如多路電源管理IC）的單一電壓施加與電流監(jiān)測(cè)。

杭州國(guó)磊以GT600為支點(diǎn)，正從區(qū)域企業(yè)成長(zhǎng)為全國(guó)性半導(dǎo)體測(cè)試解決方案提供商。依托杭州“數(shù)字經(jīng)濟(jì)***城”的產(chǎn)業(yè)勢(shì)能，GT600已服務(wù)于長(zhǎng)三角多家AI芯片設(shè)計(jì)公司，并逐步向粵港澳、成渝等集成電路集群拓展。未來，隨著中國(guó)AI芯片出海加速，GT600憑借高性價(jià)比與本地化服務(wù)優(yōu)勢(shì)，有望進(jìn)入東南亞、中東等新興市場(chǎng)。在烏鎮(zhèn)互聯(lián)網(wǎng)大會(huì)倡導(dǎo)“構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)空間命運(yùn)共同體”的背景下，GT600不僅是中國(guó)技術(shù)自主的象征，更是向世界輸出“安全、高效、普惠”測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的載體，彰顯中國(guó)硬科技企業(yè)的全球擔(dān)當(dāng)。國(guó)磊GT600向量存儲(chǔ)深度32/64/128M，支持長(zhǎng)Pattern測(cè)試序列，適用于帶數(shù)字校準(zhǔn)功能的智能傳感器芯片。SIR測(cè)試系統(tǒng)行價(jià)

高達(dá)256通道的并行測(cè)試能力，GM8800極大提升您的檢測(cè)效率。英國(guó)進(jìn)口CAF測(cè)試設(shè)備

支持復(fù)雜測(cè)試向量導(dǎo)入，加速算法驗(yàn)證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價(jià)值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國(guó)磊GT600支持從其他測(cè)試平臺(tái)導(dǎo)入測(cè)試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測(cè)試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）可執(zhí)行的測(cè)試向量。例如，可在GT600上加載真實(shí)道路場(chǎng)景下的圖像識(shí)別或目標(biāo)檢測(cè)激勵(lì)序列，驗(yàn)證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時(shí)延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測(cè)試”一體化驗(yàn)證閉環(huán)。英國(guó)進(jìn)口CAF測(cè)試設(shè)備