杭州國(guó)磊GT600提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，相當(dāng)于可存儲(chǔ)1.28億個(gè)測(cè)試步驟，這是保障復(fù)雜芯片測(cè)試完整性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代SoC的測(cè)試程序極為龐大，如AI芯片運(yùn)行ResNet-50模型推理、手機(jī)SoC執(zhí)行多任務(wù)調(diào)度、通信芯片處理完整5G協(xié)議棧，這些測(cè)試序列動(dòng)輒數(shù)百萬(wàn)甚至上千萬(wàn)向量。若向量深度不足，測(cè)試機(jī)需頻繁從硬盤(pán)加載數(shù)據(jù)，導(dǎo)致測(cè)試中斷、效率驟降。杭州國(guó)磊GT600的128M深度可將整個(gè)測(cè)試程序一次性載入內(nèi)存，實(shí)現(xiàn)“全速連續(xù)運(yùn)行”，避免性能瓶頸。在工程調(diào)試階段，長(zhǎng)向量也便于復(fù)現(xiàn)偶發(fā)性失效。對(duì)于需要長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定性測(cè)試的車(chē)規(guī)芯片，128M空間可容納老化測(cè)試的完整循環(huán)序列。這一參數(shù)確保杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)未來(lái)更復(fù)雜的芯片驗(yàn)證需求。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可通過(guò)GPIB/TTL接口同步探針臺(tái)與分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)HBM集成芯片的CP/FT自動(dòng)化測(cè)試流程。南通導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

國(guó)產(chǎn)替代的“自主基石” 在美國(guó)對(duì)華**半導(dǎo)體設(shè)備禁運(yùn)的背景下，國(guó)產(chǎn)測(cè)試機(jī)成為“卡脖子”環(huán)節(jié)的突圍重點(diǎn)。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)產(chǎn)**SoC測(cè)試平臺(tái)，支持C++編程、Visual Studio開(kāi)發(fā)環(huán)境，軟件系統(tǒng)開(kāi)放可控，避免依賴(lài)國(guó)外“黑盒子”軟件。其硬件架構(gòu)靈活，16個(gè)通用插槽可適配國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)、分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全鏈路本土化集成。交期短、響應(yīng)快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業(yè)對(duì)供應(yīng)鏈安全與數(shù)據(jù)保密的嚴(yán)苛要求。杭州國(guó)磊GT600的出現(xiàn)，標(biāo)志著中國(guó)在**測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域從“跟跑”向“并跑”邁進(jìn)。它不僅是工具，更是中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈自主可控戰(zhàn)略的“隱形支柱”，為國(guó)產(chǎn)芯片的持續(xù)創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)底座。高性能CAF測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)AWG/Digitizer支持20/24bit分辨率，滿足高精度ADC/DAC類(lèi)HBM輔助電路測(cè)試需求。

    杭州國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)（以GT600為**）雖主要面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）的數(shù)字與混合信號(hào)測(cè)試，但憑借其高精度模擬測(cè)量、靈活電源管理、高速數(shù)字接口驗(yàn)證及并行測(cè)試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）。以下是其具體支持的典型MEMS應(yīng)用場(chǎng)景：1.慣性測(cè)量單元（IMU）IMU廣泛應(yīng)用于智能手機(jī)、無(wú)人機(jī)、AR/VR設(shè)備及智能駕駛系統(tǒng)，通常集成3軸加速度計(jì)+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計(jì)（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號(hào)調(diào)理、Σ-ΔADC轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和SPI/I2C通信。杭州國(guó)磊（Guolei）支持點(diǎn)：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級(jí)模擬輸出；通過(guò)TMU（時(shí)間測(cè)量單元）驗(yàn)證陀螺儀響應(yīng)延遲與帶寬；使用400MHz數(shù)字通道測(cè)試高速SPI接口時(shí)序（眼圖、抖動(dòng)）；PPMU每引腳**供電，精確測(cè)量各工作模式功耗。

AI大模型芯片的“算力守門(mén)人” 在AI大模型驅(qū)動(dòng)算力**的***，國(guó)產(chǎn)AI芯片（如寒武紀(jì)、壁仞）正加速替代英偉達(dá)GPU。然而，這些芯片內(nèi)部集成了數(shù)千個(gè)AI**與高速互聯(lián)總線，其功能復(fù)雜度與功耗控制要求極高。杭州國(guó)磊GT600 SoC測(cè)試機(jī)憑借400MHz測(cè)試速率與128M向量深度，可完整運(yùn)行復(fù)雜的AI推理算法測(cè)試向量，驗(yàn)證NPU在真實(shí)負(fù)載下的計(jì)算精度與吞吐能力。其高精度PPMU能精確測(cè)量芯片在待機(jī)、輕載、滿載等多場(chǎng)景下的動(dòng)態(tài)電流，確保“每瓦特算力”達(dá)標(biāo)。同時(shí)，杭州國(guó)磊GT600支持512站點(diǎn)并行測(cè)試，大幅提升量產(chǎn)效率，降低單顆芯片測(cè)試成本，為AI芯片大規(guī)模部署數(shù)據(jù)中心提供堅(jiān)實(shí)支撐。可以說(shuō)，杭州國(guó)磊GT600不僅是AI芯片的“質(zhì)檢員”，更是其從實(shí)驗(yàn)室走向萬(wàn)卡集群的“量產(chǎn)加速器”。GT600可通過(guò)數(shù)字通道監(jiān)測(cè)電源門(mén)控使能信號(hào)（PG_EN），驗(yàn)證其是否按測(cè)試程序正確拉高/拉低。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國(guó)磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測(cè)量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測(cè)試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測(cè)試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測(cè)量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測(cè)試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國(guó)磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無(wú)需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。低功耗SoC應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場(chǎng)景。國(guó)磊GT600支持512Sites并行測(cè)試，降低芯片的測(cè)試成本。杭州GEN測(cè)試設(shè)備

國(guó)磊GT600高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積，適配探針臺(tái)有限空間下的模擬晶圓測(cè)試（CP）應(yīng)用。南通導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

現(xiàn)代手機(jī)SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02（THD-122dB）和高分辨率Digitizer板卡，可用于AI驅(qū)動(dòng)的語(yǔ)音識(shí)別、圖像信號(hào)處理鏈路的動(dòng)態(tài)性能測(cè)試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關(guān)鍵指標(biāo)的精確測(cè)量，確保端側(cè)AI感知系統(tǒng)的信號(hào)完整性。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的16插槽模塊化架構(gòu)允許數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測(cè)試，避免多設(shè)備切換帶來(lái)的效率損失與數(shù)據(jù)割裂。
南通導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)