AISoC的NPU模塊不**需要功能驗證,更需精確的參數(shù)測試與功耗評估。國磊GT600測試機配備每通道PPMU,可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流(IDDQ)測量,**識別AI芯片在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡,支持多電源域**供電與電流監(jiān)測,用于驗證DVFS(動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié))和電源門控(PowerGating)策略的有效性。此外,國磊GT600測試機的GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率,可精確測量NPU喚醒延遲、中斷響應(yīng)時間等關(guān)鍵時序參數(shù),確保AI任務(wù)的實時性與響應(yīng)速度。GM8800具備強大的斷電保護功能,確保數(shù)據(jù)不丟失。廣州GEN3測試系統(tǒng)市價

在量子科研機構(gòu)或企業(yè)構(gòu)建本土化測控生態(tài)時,采用國產(chǎn)測試平臺可降低技術(shù)封鎖風險,加速從實驗室原型到工程化產(chǎn)品的轉(zhuǎn)化。雖然國磊(Guolei)GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特,但作為支撐量子系統(tǒng)“經(jīng)典側(cè)”電子學的**測試基礎(chǔ)設(shè)施,它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產(chǎn)、供應(yīng)鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來,隨著“量子-經(jīng)典混合系統(tǒng)”復(fù)雜度提升,高性能SoC測試設(shè)備與量子科技的耦合將更加緊密。因此,杭州國磊(Guolei)的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的利器,也正在成為量子科技產(chǎn)業(yè)化進程中的一塊關(guān)鍵拼圖。珠海GEN測試系統(tǒng)價格國磊GT600SoC測試機作為通用ATE平臺,其測試能力由板卡配置與軟件程序決定,而非綁定特定工藝。

低功耗SoC在先進工藝下表現(xiàn)出更復(fù)雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口,以及混合信號模塊(如PLL、ADC、LDO)的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設(shè)備往往難以滿足這些需求,尤其是在靜態(tài)電流(IDDQ)、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關(guān)鍵參數(shù)的測量上。此時,國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU(ParametricPinMonitorUnit),可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量,**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常,確保低功耗模式(Sleep/DeepSleep)的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅(qū)動能力,可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。
MEMS麥克風消費電子中***采用的數(shù)字/模擬MEMS麥克風,內(nèi)部包含聲學傳感MEMS結(jié)構(gòu)與低噪聲前置放大器ASIC。關(guān)鍵指標包括靈敏度、信噪比(SNR)、總諧波失真(THD)和AOP(聲學過載點)。杭州國磊(Guolei)支持點:GT-AWGLP02AWG板卡生成純凈1kHz正弦激勵(THD<-122dB);高分辨率Digitizer采集輸出信號,計算SNR與THD;支持I2S/PDM等數(shù)字音頻接口協(xié)議測試;可進行多顆麥克風并行測試(512Sites),滿足手機廠商大批量需求。壓力傳感器(氣壓/差壓/***壓力)用于可穿戴健康監(jiān)測(如血氧估算)、汽車胎壓監(jiān)測(TPMS)、工業(yè)過程控制等。其ASIC需處理pF級電容變化,并具備溫度補償與校準功能。杭州國磊(Guolei)支持點:PPMU施加精確偏置電壓并測量微安級工作電流;AWG模擬不同壓力對應(yīng)的電容激勵信號;Digitizer采集校準后數(shù)字輸出(如I2C讀數(shù)),驗證線性度與零點漂移;支持高低溫環(huán)境下的參數(shù)漂移測試(配合溫控分選機)。 國磊GT600GPIB/TTL接口支持與外部源表、LCR表、溫控臺聯(lián)動,構(gòu)建高精度模擬參數(shù)測試系統(tǒng)。

國磊GT600測試機的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU,可精確測量低功耗狀態(tài)切換延遲與喚醒時間,確保實時響應(yīng)性能。此外,GT600支持20/24bitAWG與Digitizer,可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動態(tài)參數(shù)測試(如SNR、THD)。其32/64/128M向量存儲深度支持復(fù)雜低功耗狀態(tài)機的序列測試,而512Sites高并行測試能力則**降低單位測試成本,滿足物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場景的需求。綜上所述,現(xiàn)代工藝節(jié)點與充足資金確實使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例,但其設(shè)計復(fù)雜度的提升也對測試設(shè)備提出了更高要求。國磊GT600測試機憑借其高精度模擬測量能力、靈活的混合信號支持、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺,不**能夠驗證低功耗SoC的功能正確性,更能深入評估其在先進工藝下的功耗行為與可靠性,成為支撐低功耗SoC從設(shè)計到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵測試基礎(chǔ)設(shè)施。外接偏置電壓可達3000V,滿足高壓環(huán)境下的CAF試驗要求。國產(chǎn)替代絕緣電阻測試系統(tǒng)價位
電源門控模塊在喚醒時快速供電進入狀態(tài)。GT600利用GT-TMUHA04測量從門控信號到模塊輸出有效信號的時間。廣州GEN3測試系統(tǒng)市價
在“雙碳”目標與數(shù)據(jù)中心PUE限制日益嚴格的背景下,AI芯片的能效比(TOPS/W)已成為核心競爭力。GT600集成高精度PPMU(每引腳參數(shù)測量單元),支持從nA級靜態(tài)漏電到數(shù)安培動態(tài)電流的全范圍測量,并具備微秒級瞬態(tài)響應(yīng)能力,可精細捕捉電壓塌陷、浪涌電流等關(guān)鍵電源事件。這一能力使芯片設(shè)計團隊能在測試階段繪制詳細的功耗-性能曲線,優(yōu)化電源門控策略、時鐘門控邏輯及低功耗模式切換機制。對追求***能效的國產(chǎn)AI加速器而言,GT600不僅是驗證工具,更是“每瓦特算力”的精算師,助力中國AI芯片在全球綠色計算浪潮中占據(jù)先機。廣州GEN3測試系統(tǒng)市價