在全球半導體測試設(shè)備長期被美日巨頭壟斷的背景下，杭州國磊推出的GT600 SoC測試機標志著中國在**數(shù)字測試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)關(guān)鍵突破。該設(shè)備支持高達400 MHz的測試速率和**多2048個數(shù)字通道，足以覆蓋當前主流AI芯片、高性能計算SoC及車規(guī)級芯片的驗證需求。其模塊化架構(gòu)不僅提升了測試靈活性，還***降低了客戶部署成本。更重要的是，GT600實現(xiàn)了從硬件到軟件的全棧自主可控，有效規(guī)避了“卡脖子”風險。在中美科技競爭加劇、國產(chǎn)芯片加速落地的大環(huán)境下，GT600不僅是一臺測試設(shè)備，更是保障中國半導體產(chǎn)業(yè)鏈安全的戰(zhàn)略支點，為國內(nèi)設(shè)計公司提供了可信賴、高效率、低成本的本土化驗證平臺。國磊GT600支持可配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)施加電壓，并監(jiān)測各電源域的動態(tài)與靜態(tài)電流。國產(chǎn)替代GEN3測試系統(tǒng)行價

高精度模擬測試滿足車規(guī)級信號完整性要求 智能駕駛系統(tǒng)高度依賴毫米波雷達、攝像頭、激光雷達等傳感器輸入，其前端模擬信號鏈對噪聲、失真和時序精度極為敏感。杭州國磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標，可精細生成高質(zhì)量模擬激勵信號；而GT-TMUHA04時間測量單元則提供10ps分辨率與時序誤差*±10ps的測量能力。這些高精度模擬與混合信號測試功能，使得GT600能夠***驗證AD/DA轉(zhuǎn)換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現(xiàn)，確保智能駕駛SoC在真實道路環(huán)境中穩(wěn)定可靠運行。常州導電陽極絲測試系統(tǒng)廠家直銷操作界面友好，即使新手也能快速上手操作。

天璣9000系列的成功，標志著國產(chǎn)手機SoC在AI賽道的**崛起。而其背后，離不開從設(shè)計、制造到測試驗證的完整產(chǎn)業(yè)鏈支撐。國磊GT600測試機憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號支持與開放C++軟件架構(gòu)，已成為**SoC測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它不**支持STDF等標準數(shù)據(jù)格式輸出，便于良率分析與AI模型訓練反饋，還可通過GPIB/TTL接口與探針臺、分選機聯(lián)動，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程。選擇國磊GT600測試機，就是選擇一條高效、自主、面向AI時代的SoC測試之路。

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺，以快速響應(yīng)設(shè)計變更與測試需求升級。國磊GT600測試機搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測試流程，快速開發(fā)復雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺。同時，GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺的測試方案，大幅縮短導入周期。對于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺測試機，更是一個靈活、高效、可擴展的測試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機。國磊GT600SoC測試機可以進行低功耗專項測試流程DVFS驗證即自動掃描電壓與頻率組合，評估能效比。

醫(yī)療成像芯片 CT、MRI、內(nèi)窺鏡等設(shè)備的圖像傳感器（CIS）和圖像信號處理器（ISP）對圖像質(zhì)量要求極高。國磊GT600可通過高速數(shù)字通道測試ISP的圖像處理算法（如降噪、邊緣增強），并通過AWG注入模擬圖像信號，驗證成像鏈路的完整性與色彩還原度。 4. 植入式醫(yī)療設(shè)備芯片 心臟起搏器、神經(jīng)刺激器等植入設(shè)備的芯片必須**功耗、超高可靠。國磊GT600的FVMI模式可精確測量uA級靜態(tài)電流，篩選出“省電體質(zhì)”芯片；其支持長時間老化測試，可模擬10年以上使用壽命，確保植入后萬無一失。 綜上，國磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”測試能力，為國產(chǎn)**醫(yī)療芯片的上市提供了堅實的質(zhì)量保障。國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗證。深圳SIR測試系統(tǒng)廠家

GT600通過多SMU同步控制與TMU測量，驗證各域電壓建立時間符合設(shè)計時序否。若順序錯，可能閂鎖或功能異常。國產(chǎn)替代GEN3測試系統(tǒng)行價

Chiplet時代的“互聯(lián)驗證者” Chiplet（芯粒）技術(shù)通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對信號完整性、功耗、時序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號延遲與抖動。其高精度SMU可驗證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設(shè)計也便于擴展，可針對不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術(shù)快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗證能力，為國產(chǎn)先進封裝芯片的可靠性與性能保駕護航。國產(chǎn)替代GEN3測試系統(tǒng)行價