現(xiàn)代手機SoC是高度集成的“微型超級計算機”，一顆芯片內(nèi)融合了CPU（**處理器）、GPU（圖形處理器）、NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)引擎）、ISP（圖像信號處理器）、基帶（5G/4G通信模塊）、內(nèi)存控制器、電源管理單元等數(shù)十個功能模塊，協(xié)同完成從AI計算、高清拍照到高速聯(lián)網(wǎng)的復雜任務。這對測試設(shè)備提出了“全能型”要求。國磊GT600憑借512個高速數(shù)字通道，可并行激勵與捕獲CPU/GPU的邏輯響應，驗證運算正確性；通過可選配AWG（任意波形發(fā)生器）板卡，可生成高保真模擬圖像信號，精細測試ISP對色彩、噪聲、動態(tài)范圍的處理能力；再結(jié)合高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），可精確捕捉基帶芯片收發(fā)信號的時間抖動與延遲，確保5G通信的穩(wěn)定性和低時延。16個通用插槽支持靈活配置，讓國磊GT600能像“變形金剛”一樣，針對不同模塊組合比較好測試方案，真正實現(xiàn)“一機通測”，***保障國產(chǎn)**SoC的功能完整性與性能可靠性。國磊GT600SoC測試機可選配GT-TMUHA04板卡，提供10ps時間分辨率與0.1%測量精度，用于HBM接口時序?qū)R測試。衡陽CAF測試系統(tǒng)廠家供應

手機續(xù)航是用戶體驗的生命線，而功耗控制的**在于SoC芯片的“健康度”與“效率”。國磊GT600憑借其每通道**PPMU（精密參數(shù)測量單元），可對芯片每個引腳進行nA（納安）級靜態(tài)電流（Iddq）測量，相當于為芯片做“微電流心電圖”，精細識別因制造缺陷導致的微小漏電——這些“隱形耗電大戶”在待機時也會悄悄吞噬電量。通過篩查剔除“高漏電”芯片，國磊GT600確保只有“省電體質(zhì)”的質(zhì)量芯片進入量產(chǎn)。不僅如此，國磊GT600支持FVMI（強制電壓測電流）模式，可在不同電壓條件下模擬真實使用場景——如游戲高負載、多攝像頭同時工作、5G高速下載等——動態(tài)測量芯片功耗曲線，驗證其電源管理單元是否能智能調(diào)節(jié)電壓頻率，實現(xiàn)性能與功耗的比較好平衡。同時，其FIMV（強制電流測電壓）模式還能檢測芯片在極限負載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導致死機或重啟。通過靜態(tài)+動態(tài)、微觀+宏觀的功耗全景測試，國磊GT600可以為國產(chǎn)手機SoC筑起“續(xù)航防火墻”，讓每一毫安時電量都用在刀刃上。蘇州CAF測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家國磊GT600可測GPU類AI加速芯片如國產(chǎn)GPU（如風華）多電源域管理、顯示接口、高精度ADC/DAC及低功耗模式。

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下，芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺，以快速響應設(shè)計變更與測試需求升級。國磊GT600測試機搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng)，支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境，讓工程師能夠自由定制測試流程，快速開發(fā)復雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式，無縫對接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺。同時，GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具，可輕松遷移其他平臺的測試方案，大幅縮短導入周期。對于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言，GT600不**是一臺測試機，更是一個靈活、高效、可擴展的測試生態(tài)，助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關(guān)閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計預期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯(lián)動探針臺與分選機，實現(xiàn)全自動測試。

國磊GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程與VisualStudio開發(fā)環(huán)境，工程師可編寫腳本實現(xiàn)：自動化掃描電壓/頻率組合（DVFS驗證）；循環(huán)執(zhí)行睡眠-喚醒-滿載測試序列；實時采集功耗數(shù)據(jù)并生成STDF/CSV報告；大幅提升測試效率與數(shù)據(jù)可追溯性，助力AI芯片從設(shè)計到量產(chǎn)的閉環(huán)優(yōu)化。AI服務器市場的爆發(fā)，本質(zhì)是算力與功耗的持續(xù)博弈。國磊GT600并未追逐“算力測試”的表層熱點，而是深入電源管理與功耗驗證這一關(guān)鍵底層環(huán)節(jié)，以nA級漏電檢測、多域電源控制、動態(tài)功耗分析與高并行量產(chǎn)能力，成為AI芯片可靠性與能效比驗證的**測試基礎(chǔ)設(shè)施。國磊GT600可用于執(zhí)行電壓裕量測試（VoltageMargining），評估芯片在電壓波動下的穩(wěn)定性。高性能CAF測試系統(tǒng)制作

多通道分組測試，支持64/128/256可選配置，大幅提升檢測效率。衡陽CAF測試系統(tǒng)廠家供應

    兼容探針臺與分選機，打通晶圓到封裝測試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測試（CP）與封裝測試（FT）雙重驗證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標準接口，可無縫對接主流探針臺與分選機設(shè)備，實現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動化測試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級應力測試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運行，確保測試數(shù)據(jù)的一致性與可重復性，為芯片通過AEC-Q100認證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產(chǎn)**測試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導體供應鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下，國產(chǎn)高性能測試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測試機，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認可，標志著我國在**ATE領(lǐng)域取得突破。對于智能駕駛這一關(guān)乎國家交通安全與科技**的關(guān)鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對國外測試設(shè)備的依賴，更能通過本地化技術(shù)支持快速響應芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進程。 衡陽CAF測試系統(tǒng)廠家供應