現(xiàn)代手機(jī)SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊,用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02(THD-122dB)和高分辨率Digitizer板卡,可用于AI驅(qū)動(dòng)的語(yǔ)音識(shí)別、圖像信號(hào)處理鏈路的動(dòng)態(tài)性能測(cè)試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關(guān)鍵指標(biāo)的精確測(cè)量,確保端側(cè)AI感知系統(tǒng)的信號(hào)完整性。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的16插槽模塊化架構(gòu)允許數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插,實(shí)現(xiàn)從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測(cè)試,避免多設(shè)備切換帶來(lái)的效率損失與數(shù)據(jù)割裂。
國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)是國(guó)產(chǎn)低功耗芯片實(shí)現(xiàn)“高性能+長(zhǎng)續(xù)航”目標(biāo)的關(guān)鍵測(cè)試基礎(chǔ)設(shè)施。國(guó)產(chǎn)高阻測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)

適配多元化國(guó)產(chǎn)芯片架構(gòu) 中國(guó)芯片產(chǎn)業(yè)呈現(xiàn)百花齊放態(tài)勢(shì):RISC-V CPU、存算一體AI芯片、光子集成芯片、量子控制SoC等新型架構(gòu)層出不窮。這些芯片往往具有非標(biāo)I/O、特殊電源域或混合信號(hào)需求。國(guó)磊(Guolei)GT600的16個(gè)通用插槽、多種VI浮動(dòng)電源板卡(如-2.5V~7V)、每引腳PPMU及可選配的高精度模擬板卡,使其能靈活適配各類異構(gòu)芯片的測(cè)試需求,避免因測(cè)試平臺(tái)僵化而制約創(chuàng)新芯片的發(fā)展,從而維護(hù)技術(shù)路線的多樣性與供應(yīng)鏈的抗風(fēng)險(xiǎn)能力。保障關(guān)鍵領(lǐng)域芯片供應(yīng)安全 在**、航空航天、智能電網(wǎng)、軌道交通、新能源汽車(chē)等關(guān)乎國(guó)計(jì)民生的關(guān)鍵領(lǐng)域,芯片供應(yīng)鏈安全直接關(guān)系**。國(guó)磊(Guolei)GT600已應(yīng)用于**AD/DA、顯示驅(qū)動(dòng)、MCU等芯片測(cè)試,未來(lái)可進(jìn)一步拓展至安全加密芯片、高可靠通信芯片等領(lǐng)域。通過(guò)部署國(guó)產(chǎn)測(cè)試設(shè)備,這些敏感芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)、良率信息、失效模式等**知識(shí)產(chǎn)權(quán)得以保留在境內(nèi),杜絕信息泄露風(fēng)險(xiǎn)。浙江導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)廠家供應(yīng)國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可用于執(zhí)行電壓裕量測(cè)試(VoltageMargining),評(píng)估芯片在電壓波動(dòng)下的穩(wěn)定性。

1.高邊沿精度保障高速接口時(shí)序合規(guī)性?,F(xiàn)代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口,用于連接傳感器與**計(jì)算單元。這些接口對(duì)信號(hào)邊沿時(shí)序要求極為嚴(yán)苛。杭州國(guó)磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度,能夠精確模擬高速信號(hào)的上升/下降沿,并配合Digitizer板卡捕獲實(shí)際輸出波形,驗(yàn)證眼圖、抖動(dòng)與建立/保持時(shí)間是否符合協(xié)議規(guī)范。這種高精度時(shí)序控制能力,是確保車(chē)載高速通信鏈路穩(wěn)定性的關(guān)鍵測(cè)試手段。開(kāi)放式軟件生態(tài)賦能定制化測(cè)試開(kāi)發(fā)。杭州國(guó)磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開(kāi)放式GTFY編程環(huán)境,允許客戶根據(jù)自身芯片特性開(kāi)發(fā)定制化測(cè)試流程。對(duì)于智能駕駛芯片廠商而言,這意味著可將內(nèi)部驗(yàn)證方法論(如ISO26262功能安全測(cè)試用例)直接嵌入測(cè)試程序,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化安全機(jī)制驗(yàn)證。同時(shí),圖形化數(shù)據(jù)顯示與用戶管理界面便于測(cè)試工程師快速定位故障引腳或模塊,大幅提升調(diào)試效率,縮短芯片迭代周期。
GT600每通道集成PPMU,支持nA級(jí)電流分辨率,可精確測(cè)量被電源門(mén)控關(guān)閉的模塊在“關(guān)斷狀態(tài)”下的漏電流。通過(guò)對(duì)比門(mén)控開(kāi)啟與關(guān)閉時(shí)的電流差異,評(píng)估電源開(kāi)關(guān)的隔離能力,確保未**模塊不會(huì)產(chǎn)生異常功耗。2.GT600支持可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡,可為SoC的不同電源域提供**的電壓施加與電流監(jiān)測(cè)。在電源門(mén)控測(cè)試中,可通過(guò)SMU分別控制主電源與門(mén)控電源的開(kāi)啟/關(guān)閉時(shí)序,驗(yàn)證電源域之間的依賴關(guān)系與上電順序,防止閂鎖或電壓倒灌。3.GT600配備GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元,提供10ps時(shí)間分辨率,用于測(cè)量從門(mén)控信號(hào)有效到目標(biāo)模塊恢復(fù)供電的時(shí)間、模塊喚醒后功能恢復(fù)的響應(yīng)延遲、確保電源門(mén)控機(jī)制在滿足低功耗要求的同時(shí),不影響系統(tǒng)實(shí)時(shí)性。4.通過(guò)GTFY軟件系統(tǒng)與C++編程,工程師可編寫(xiě)腳本實(shí)現(xiàn)循環(huán)執(zhí)行“上電→功能測(cè)試→門(mén)控關(guān)斷→延時(shí)→喚醒”流程;掃描不同關(guān)斷時(shí)長(zhǎng)對(duì)喚醒成功率的影響;監(jiān)測(cè)多次開(kāi)關(guān)操作后的電流一致性,評(píng)估可靠性。5.GT600支持高采樣率的動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè),可捕獲電源門(mén)控開(kāi)啟瞬間的浪涌電流,避免因瞬時(shí)電流過(guò)大導(dǎo)致電壓塌陷或系統(tǒng)復(fù)位。結(jié)合Digitizer功能,記錄電壓/電流波形,用于分析電源穩(wěn)定性與去耦電容設(shè)計(jì)有效性。您正在為尋找可靠的高阻測(cè)試方案而煩惱嗎?看這里就購(gòu)了。

可選AWG/TMU/Digitizer:混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國(guó)磊GT600支持選配AWG(任意波形發(fā)生器)、TMU(時(shí)間測(cè)量單元)和Digitizer(數(shù)字化儀),使其從“數(shù)字測(cè)試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測(cè)試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形,用于測(cè)試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能,THD低至-122dB,信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率,可精確測(cè)量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲,保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào),用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測(cè)試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí),杭州國(guó)磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形,實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國(guó)磊GT600能應(yīng)對(duì)日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC,無(wú)需外接多臺(tái)設(shè)備,節(jié)省空間與成本。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可編寫(xiě)腳本實(shí)現(xiàn)電壓/頻率組合掃描,準(zhǔn)驗(yàn)證芯片在不同工作條件下的穩(wěn)定性與功耗表現(xiàn)。廣東GEN測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格
GT600通過(guò)多SMU同步控制與TMU測(cè)量,驗(yàn)證各域電壓建立時(shí)間符合設(shè)計(jì)時(shí)序否。若順序錯(cuò),可能閂鎖或功能異常。國(guó)產(chǎn)高阻測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)
AI眼鏡作為下一代可穿戴計(jì)算終端,正面臨“功能豐富度、續(xù)航時(shí)長(zhǎng)、設(shè)備重量”三者難以兼得的工程難題。為實(shí)現(xiàn)語(yǔ)音交互、實(shí)時(shí)翻譯、環(huán)境感知與輕量化設(shè)計(jì),其**SoC必須在極小面積內(nèi)集成CPU、NPU、DSP、藍(lán)牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊,同時(shí)在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下實(shí)現(xiàn)**靜態(tài)功耗。這類高度集成的異構(gòu)SoC對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了嚴(yán)苛要求:不**需驗(yàn)證復(fù)雜功能邏輯,更要精確測(cè)量nA級(jí)漏電流、微瓦級(jí)動(dòng)態(tài)功耗及多電源域切換時(shí)序。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持每通道PPMU,可實(shí)現(xiàn)nA級(jí)IDDQ測(cè)量,**識(shí)別SoC在睡眠模式下的漏電異常,確保續(xù)航能力不受“隱形功耗”拖累。國(guó)產(chǎn)高阻測(cè)試系統(tǒng)市價(jià)