高性能GPU的功耗管理直接影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與能效比?！帮L華3號”支持多級電源域與動態(tài)頻率調(diào)節(jié)，要求測試平臺具備高精度DC參數(shù)測量能力。國磊GT600測試機每通道集成PPMU，支持nA級靜態(tài)電流（IDDQ）測量，可**識別GPU在待機、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡，支持-2.5V~7V電壓范圍與1A驅動能力，可用于DVFS電壓切換測試、電源上電時序（PowerSequencing）驗證及電源抑制比（PSRR）分析。GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率，可精確測量GPU**喚醒延遲、中斷響應時間與時鐘同步偏差，確保AI訓推與實時渲染任務的時序可靠性。國磊半導體，您值得信賴的測試伙伴。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)按需定制

低溫CMOS芯片的常溫預篩與參數(shù)表征。許多用于量子計算的控制芯片需在毫開爾文溫度下工作，但其制造仍基于標準CMOS工藝。在封裝并送入稀釋制冷機前，必須通過常溫下的嚴格電性測試進行預篩選。國磊（Guolei）GT600支持每引腳PPMU（參數(shù)測量單元）和可編程浮動電源（-2.5V~7V），能精確測量微弱電流、漏電及閾值電壓漂移等關鍵參數(shù)，有效剔除早期失效器件，避免昂貴的低溫測試資源浪費。量子測控SoC的量產(chǎn)驗證平臺 隨著量子計算機向百比特以上規(guī)模演進，集成化“量子測控SoC”成為趨勢（如Intel的Horse Ridge芯片）。這類芯片集成了多通道微波信號調(diào)制、頻率合成、反饋控制等功能，結構復雜度接近**AI或通信SoC。GT600的512~2048通道并行測試能力、128M向量深度及400MHz測試速率，完全可滿足此類**SoC在工程驗證與小批量量產(chǎn)階段的功能覆蓋與性能分bin需求。國磊SIR測試系統(tǒng)批發(fā)國磊設備，幫助您提升產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運行手機芯片內(nèi)部復雜的AI推理算法、多任務調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設備因內(nèi)存不足導致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點并行測試能力，更可滿足手機芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實現(xiàn)從實驗室到工廠的快速轉化。在外部供應鏈受限的背景下，國磊GT600作為國產(chǎn)**測試設備，可以為國產(chǎn)手機芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅實、安全、可控的底層保障。

杭州國磊SOC測試機：開啟全場景智能測試新紀元在半導體測試領域，杭州國磊SOC測試機憑借***性能與創(chuàng)新技術脫穎而出，成為行業(yè)焦點。作為杭州國磊半導體設備有限公司的**產(chǎn)品，它專為系統(tǒng)級芯片（SoC）測試量身打造，以“彈性擴展+國產(chǎn)自研+全棧覆蓋”三大**優(yōu)勢，為芯片測試提供一站式解決方案。 杭州國磊SOC測試機采用模塊化彈性架構，擁有GC-36旗艦型、GC-18性能型、GC-8經(jīng)濟型三階主機箱，靈活適配不同規(guī)模產(chǎn)線與實驗室驗證需求。其***“硬對接+線纜雙模式”，支持機柜、桌面、機端部署，極大提升了設備部署的便捷性與靈活性。 在性能方面，杭州國磊SOC測試機實現(xiàn)多項突破。數(shù)字信號速率高達800Mbps，向量存儲深度達128M，支持多站點并行測試，單機可同步運行32個測試單元，測試吞吐量提升300%，***縮短測試周期。同時，其高壓測試范圍覆蓋-10V至+1000V，時間測量精度達1ps分辨率，滿足**AD/DA芯片、MCU微控制單元等復雜芯片的嚴苛測試需求。 作為國產(chǎn)自研的典范，更在服務響應速度與定制化能力上**一步。其全流程測試覆蓋能力，涵蓋數(shù)字、電源、高壓、大功率、射頻分析等六大核心板卡矩陣，為芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期提供堅實保障。國磊GT600SoC測試機可以進行電源門控測試即驗證PowerGating開關的漏電控制效果。

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設備對芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國磊GT600的512站點并行測試能力，可一次測試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測試吞吐量，***降低單顆測試成本。據(jù)行業(yè)測算，同測數(shù)每翻一倍，測試成本可下降30%以上。杭州國磊GT600支持長時間老化測試，篩選出能在高溫、高濕、強電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運行的“工業(yè)級”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導出，可無縫對接工廠MES系統(tǒng)，實現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢，為國產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強大引擎，助力中國智造走向全球。AI邊緣計算SoC用于機器人、穿戴設備MCU+AI架構芯片，GT600通過nA級PPMU、TMU支持端側AI低功耗可靠性測試。深圳絕緣電阻測試系統(tǒng)市場價格

GT600通過多SMU同步控制與TMU測量，驗證各域電壓建立時間符合設計時序否。若順序錯，可能閂鎖或功能異常。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)按需定制

在現(xiàn)代手機SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，已成為性能瓶頸的關鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復雜、時序嚴苛，對測試設備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。國產(chǎn)PCB測試系統(tǒng)按需定制