高精度模擬測試滿足車規(guī)級信號完整性要求 智能駕駛系統(tǒng)高度依賴毫米波雷達(dá)、攝像頭、激光雷達(dá)等傳感器輸入，其前端模擬信號鏈對噪聲、失真和時序精度極為敏感。杭州國磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標(biāo)，可精細(xì)生成高質(zhì)量模擬激勵信號；而GT-TMUHA04時間測量單元則提供10ps分辨率與時序誤差*±10ps的測量能力。這些高精度模擬與混合信號測試功能，使得GT600能夠***驗證AD/DA轉(zhuǎn)換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現(xiàn)，確保智能駕駛SoC在真實道路環(huán)境中穩(wěn)定可靠運行。具備多類報警功能，包括低阻、溫濕度異常等，保障測試安全。高性能GEN測試系統(tǒng)價格

 PPMU功能實現(xiàn)每引腳**電源管理測試 智能駕駛SoC通常包含多個電源域，以實現(xiàn)動態(tài)功耗管理。杭州國磊GT600每通道集成PPMU（每引腳參數(shù)測量單元），支持FIMV/FIMI/FVMI/FVMV四種工作模式，可**控制每個引腳的電壓施加與電流測量。這一能力對于驗證芯片在低功耗休眠、喚醒切換、電壓驟降等場景下的行為至關(guān)重要。例如，在模擬車輛啟動瞬間電源波動時，GT600可精確監(jiān)測各電源域的電流響應(yīng)，確保SoC不會因電源異常導(dǎo)致功能失效或安全風(fēng)險。衡陽導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)廠家供應(yīng)國磊GT600的高精度參數(shù)測量能力、靈活的電源管理測試支持、低功耗信號檢測精度適配現(xiàn)代低功耗SoC設(shè)計需求。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)字邏輯、注入模擬信號、采集響應(yīng)波形，實現(xiàn)全功能閉環(huán)驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對日益復(fù)雜的混合信號SoC，無需外接多臺設(shè)備，節(jié)省空間與成本。

在量子科研機構(gòu)或企業(yè)構(gòu)建本土化測控生態(tài)時，采用國產(chǎn)測試平臺可降低技術(shù)封鎖風(fēng)險，加速從實驗室原型到工程化產(chǎn)品的轉(zhuǎn)化。雖然國磊（Guolei）GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特，但作為支撐量子系統(tǒng)“經(jīng)典側(cè)”電子學(xué)的**測試基礎(chǔ)設(shè)施，它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產(chǎn)、供應(yīng)鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來，隨著“量子-經(jīng)典混合系統(tǒng)”復(fù)雜度提升，高性能SoC測試設(shè)備與量子科技的耦合將更加緊密。因此，杭州國磊（Guolei）的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的利器，也正在成為量子科技產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中的一塊關(guān)鍵拼圖。國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標(biāo)電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗證到量產(chǎn)的全過程，精細(xì)滿足AEC-Q100等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標(biāo)。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁?，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運行1000小時以上，驗證其長期穩(wěn)定性。其浮動SMU電源板卡能精細(xì)模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負(fù)載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。國磊GT600測試機模塊化16插槽架構(gòu)可同時集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)參考價

選擇GM8800，就是選擇了一款多功能的測試平臺。高性能GEN測試系統(tǒng)價格

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預(yù)計2025年全球達(dá)1280萬副），量產(chǎn)測試效率成為關(guān)鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產(chǎn)型號的產(chǎn)能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式導(dǎo)出，便于測試數(shù)據(jù)與MES系統(tǒng)對接，實現(xiàn)良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理功能與低功耗行為，確保端側(cè)AI性能與續(xù)航的雙重達(dá)標(biāo)。高性能GEN測試系統(tǒng)價格