面對(duì)國(guó)產(chǎn)手機(jī)芯片動(dòng)輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測(cè)試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國(guó)磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測(cè)試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測(cè)試效率呈指數(shù)級(jí)提升。這不僅將單位時(shí)間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場(chǎng)先機(jī)。更重要的是，測(cè)試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同測(cè)數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測(cè)試成本可下降30%~40%。國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)能力，相較傳統(tǒng)32或64站點(diǎn)設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國(guó)產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中贏得價(jià)格優(yōu)勢(shì)。國(guó)磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國(guó)產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級(jí)測(cè)試流水線”，可以讓中國(guó)芯不僅“造得出”，更能“測(cè)得快、賣得起、用得穩(wěn)”。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可驗(yàn)證電源門控（PowerGating）開關(guān)的漏電控制效果。湖州GEN3測(cè)試系統(tǒng)定制

“風(fēng)華3號(hào)”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對(duì)模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號(hào)完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對(duì)ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量，確保醫(yī)療顯示場(chǎng)景下的灰階過渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測(cè)試閉環(huán)。東莞絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商國(guó)磊GT600及GT-AWGLP02板卡THD達(dá)-122dB，SNR110dB，適用于音頻編解碼器、高保真信號(hào)鏈芯片的失真分析。

HBM接口動(dòng)輒上千個(gè)高速信號(hào)引腳，數(shù)據(jù)速率高達(dá)Gbps級(jí)別，對(duì)測(cè)試設(shè)備的通道密度、測(cè)試速率與時(shí)序精度提出極限挑戰(zhàn)。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)以400MHz測(cè)試速率和**2048個(gè)數(shù)字通道的強(qiáng)大配置，從容應(yīng)對(duì)HBM接口的高并發(fā)、高速邏輯測(cè)試需求。其128M向量存儲(chǔ)深度可完整運(yùn)行復(fù)雜協(xié)議測(cè)試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測(cè)試，大幅提升測(cè)試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測(cè)試成本。在HBM驅(qū)動(dòng)的算力**中，GT600不**是測(cè)試工具，更是提升國(guó)產(chǎn)AI芯片量產(chǎn)效率與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的**引擎。

國(guó)產(chǎn)替代的“自主基石” 在美國(guó)對(duì)華**半導(dǎo)體設(shè)備禁運(yùn)的背景下，國(guó)產(chǎn)測(cè)試機(jī)成為“卡脖子”環(huán)節(jié)的突圍重點(diǎn)。杭州國(guó)磊GT600作為國(guó)產(chǎn)**SoC測(cè)試平臺(tái)，支持C++編程、Visual Studio開發(fā)環(huán)境，軟件系統(tǒng)開放可控，避免依賴國(guó)外“黑盒子”軟件。其硬件架構(gòu)靈活，16個(gè)通用插槽可適配國(guó)產(chǎn)探針臺(tái)、分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全鏈路本土化集成。交期短、響應(yīng)快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業(yè)對(duì)供應(yīng)鏈安全與數(shù)據(jù)保密的嚴(yán)苛要求。杭州國(guó)磊GT600的出現(xiàn)，標(biāo)志著中國(guó)在**測(cè)試設(shè)備領(lǐng)域從“跟跑”向“并跑”邁進(jìn)。它不僅是工具，更是中國(guó)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈自主可控戰(zhàn)略的“隱形支柱”，為國(guó)產(chǎn)芯片的持續(xù)創(chuàng)新提供堅(jiān)實(shí)底座。國(guó)磊GT600向量存儲(chǔ)深度32/64/128M，支持長(zhǎng)Pattern測(cè)試序列，適用于帶數(shù)字校準(zhǔn)功能的智能傳感器芯片。

支持復(fù)雜測(cè)試向量導(dǎo)入，加速算法驗(yàn)證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價(jià)值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國(guó)磊GT600支持從其他測(cè)試平臺(tái)導(dǎo)入測(cè)試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測(cè)試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）可執(zhí)行的測(cè)試向量。例如，可在GT600上加載真實(shí)道路場(chǎng)景下的圖像識(shí)別或目標(biāo)檢測(cè)激勵(lì)序列，驗(yàn)證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時(shí)延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測(cè)試”一體化驗(yàn)證閉環(huán)。內(nèi)置多重報(bào)警功能，為您的測(cè)試安全保駕護(hù)航。常州PCB測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)公司

國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持多種面向復(fù)雜SoC的具體測(cè)試流程，涵蓋從基本功能驗(yàn)證到高精度參數(shù)測(cè)量的完整鏈條。湖州GEN3測(cè)試系統(tǒng)定制

國(guó)磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測(cè)試平臺(tái)，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競(jìng)爭(zhēng)與地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的背景下，對(duì)保障中國(guó)半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長(zhǎng)期被美國(guó)泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國(guó)際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測(cè)試領(lǐng)域，國(guó)產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國(guó)磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測(cè)試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國(guó)內(nèi)晶圓廠、封測(cè)廠和芯片設(shè)計(jì)公司在**測(cè)試環(huán)節(jié)對(duì)國(guó)外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。湖州GEN3測(cè)試系統(tǒng)定制