支持復(fù)雜測(cè)試向量導(dǎo)入，加速算法驗(yàn)證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價(jià)值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測(cè)試平臺(tái)導(dǎo)入測(cè)試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測(cè)試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）可執(zhí)行的測(cè)試向量。例如，可在GT600上加載真實(shí)道路場(chǎng)景下的圖像識(shí)別或目標(biāo)檢測(cè)激勵(lì)序列，驗(yàn)證NPU在極限負(fù)載下的響應(yīng)正確性與時(shí)延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測(cè)試”一體化驗(yàn)證閉環(huán)。國磊GT600的高精度參數(shù)測(cè)量能力、靈活的電源管理測(cè)試支持、低功耗信號(hào)檢測(cè)精度適配現(xiàn)代低功耗SoC設(shè)計(jì)需求。珠海SIR測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級(jí)劇烈波動(dòng)，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)支持高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計(jì)。其128M向量響應(yīng)存儲(chǔ)深度支持長時(shí)間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測(cè)試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗(yàn)證。其512Sites高并行測(cè)試架構(gòu)**提升測(cè)試吞吐量，降低單顆芯片測(cè)試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
揚(yáng)州PCB測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家國磊GT600可用于執(zhí)行電壓裕量測(cè)試（VoltageMargining），評(píng)估芯片在電壓波動(dòng)下的穩(wěn)定性。

    兼容探針臺(tái)與分選機(jī)，打通晶圓到封裝測(cè)試鏈路。智能駕駛芯片需經(jīng)歷晶圓測(cè)試（CP）與封裝測(cè)試（FT）雙重驗(yàn)證。杭州國磊GT600支持GPIB、TTL等標(biāo)準(zhǔn)接口，可無縫對(duì)接主流探針臺(tái)與分選機(jī)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)從裸片到成品的全流程自動(dòng)化測(cè)試。尤其在高溫、低溫等車規(guī)級(jí)應(yīng)力測(cè)試條件下，杭州國磊GT600的小型化、低功耗設(shè)計(jì)有助于在溫控腔體內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)行，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性與可重復(fù)性，為芯片通過AEC-Q100認(rèn)證提供可靠數(shù)據(jù)支撐。國產(chǎn)**測(cè)試設(shè)備助力智能駕駛產(chǎn)業(yè)鏈自主可控在全球半導(dǎo)體供應(yīng)鏈緊張與技術(shù)封鎖背景下，國產(chǎn)高性能測(cè)試設(shè)備的戰(zhàn)略意義凸顯。杭州國磊GT600作為國內(nèi)少有的支持2048通道、400MHz速率的SoC測(cè)試機(jī)，已獲得行業(yè)專業(yè)客戶認(rèn)可，標(biāo)志著我國在**ATE領(lǐng)域取得突破。對(duì)于智能駕駛這一關(guān)乎國家交通安全與科技**的關(guān)鍵賽道，采用國磊GT600不僅可降低對(duì)國外測(cè)試設(shè)備的依賴，更能通過本地化技術(shù)支持快速響應(yīng)芯片廠商的定制需求，加速中國智能駕駛芯片生態(tài)的自主化與全球化進(jìn)程。

國磊（Guolei）SoC測(cè)試系統(tǒng)，特別是其GT600高性能測(cè)試平臺(tái)，在當(dāng)前全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈高度競(jìng)爭與地緣***風(fēng)險(xiǎn)加劇的背景下，對(duì)保障中國半導(dǎo)體及**制造領(lǐng)域的供應(yīng)鏈安全具有戰(zhàn)略意義。打破**ATE設(shè)備進(jìn)口依賴 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）是芯片制造后道工序的**裝備，長期被美國泰瑞達(dá)（Teradyne）、日本愛德萬（Advantest）等國際巨頭壟斷，尤其在高性能SoC、AI芯片、車規(guī)芯片測(cè)試領(lǐng)域，國產(chǎn)設(shè)備幾乎空白。國磊GT600實(shí)現(xiàn)了400MHz測(cè)試速率、2048通道擴(kuò)展、高精度AWG/TMU等關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)的突破，具備替代進(jìn)口設(shè)備的能力。這***降低了國內(nèi)晶圓廠、封測(cè)廠和芯片設(shè)計(jì)公司在**測(cè)試環(huán)節(jié)對(duì)國外設(shè)備的依賴，避免因出口管制、斷供或技術(shù)封鎖導(dǎo)致產(chǎn)線停擺。若測(cè)得電流明顯高于設(shè)計(jì)規(guī)格，即判定為漏電異常。結(jié)合高溫測(cè)試，國磊GT600可放大漏電效應(yīng)提升缺陷檢出率。

    對(duì)國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級(jí)MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動(dòng)、長期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運(yùn)行十年以上。國磊GT600SoC測(cè)試機(jī)正是這一“車規(guī)級(jí)體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測(cè)量單元）可精細(xì)測(cè)量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），識(shí)別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動(dòng)導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時(shí)支持引腳級(jí)開路/短路測(cè)試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動(dòng)SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證MCU在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變等真實(shí)工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯(cuò)亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測(cè)試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測(cè)試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行安全。 我們的系統(tǒng)能有效評(píng)估絕緣材料在電場(chǎng)下的性能變化。金華PCB測(cè)試系統(tǒng)精選廠家

GT600通過高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)捕獲電流波形，若峰值電流超過安全閾值，可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。珠海SIR測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)

“風(fēng)華3號(hào)”的推出標(biāo)志著國產(chǎn)全功能GPU在大模型訓(xùn)練、科學(xué)計(jì)算與重度渲染領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)從0到1的突破。其集成RISC-VCPU與CUDA兼容GPU架構(gòu)，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生態(tài)，對(duì)芯片功能復(fù)雜度、接口帶寬與時(shí)序精度提出了極高要求。此類高性能GPU通常具備數(shù)千個(gè)邏輯引腳、多電源域、高速SerDes接口及復(fù)雜狀態(tài)機(jī)，傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備難以完成**驗(yàn)證。國磊GT600測(cè)試機(jī)支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測(cè)試速率，可完整覆蓋“風(fēng)華3號(hào)”類GPU的高引腳數(shù)、高速功能測(cè)試需求。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜計(jì)算指令序列的Pattern加載，確保GPU**、NPU單元及RISC-V子系統(tǒng)的功能正確性。珠海SIR測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)