“風(fēng)華3號(hào)”**了國(guó)產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的完整驗(yàn)證鏈支撐。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號(hào)支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計(jì)算芯片測(cè)試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺(tái)、分選機(jī)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測(cè)試流程，**提升測(cè)試效率與一致性。在國(guó)產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測(cè)試保障，助力中國(guó)芯在圖形與計(jì)算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)可驗(yàn)證電源門控（PowerGating）開關(guān)的漏電控制效果。珠海高阻測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

AI眼鏡SoC普遍采用40nm以下工藝，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于麥克風(fēng)陣列信號(hào)采集、骨傳導(dǎo)音頻輸出與電源穩(wěn)壓。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與20/24bit分辨率Digitizer，可用于語(yǔ)音前端信號(hào)鏈的INL、DNL、THD、SNR等參數(shù)測(cè)試，確保AI語(yǔ)音識(shí)別輸入的準(zhǔn)確性。其高精度浮動(dòng)SMU板卡支持寬電壓范圍輸出，可用于LDO負(fù)載調(diào)整率、PSRR及上電時(shí)序驗(yàn)證，保障音頻與傳感模塊的電源穩(wěn)定性。GT600的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、模擬、混合信號(hào)板卡混插，實(shí)現(xiàn)從NPU到傳感器接口的一站式測(cè)試，避免多設(shè)備切換帶來(lái)的數(shù)據(jù)割裂。贛州CAF測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)GT600可驗(yàn)證谷歌TPU、華為昇騰等定制化AI芯片復(fù)雜電源門控網(wǎng)絡(luò)、多電壓域上電時(shí)序與高密度I/O功能。

手機(jī)SoC的“全能考官” 現(xiàn)代手機(jī)SoC（如麒麟、澎湃）是高度集成的“微型超級(jí)計(jì)算機(jī)”，融合CPU、GPU、NPU、ISP、基帶等數(shù)十個(gè)模塊。杭州國(guó)磊GT600憑借512通道與16個(gè)通用插槽，可靈活配置數(shù)字、模擬、混合信號(hào)測(cè)試資源，實(shí)現(xiàn)“一機(jī)通測(cè)”。其高速數(shù)字通道驗(yàn)證CPU/GPU邏輯功能；可選AWG板卡生成圖像信號(hào)，測(cè)試ISP的色彩還原與降噪能力；TMU精確測(cè)量基帶信號(hào)時(shí)序，保障5G通信穩(wěn)定。PPMU則檢測(cè)NPU待機(jī)功耗，確保AI功能“強(qiáng)勁且省電”。128M向量深度支持長(zhǎng)周期AI算法驗(yàn)證，避免測(cè)試中斷。杭州國(guó)磊GT600以“全功能、高精度、高效率”的測(cè)試能力，為國(guó)產(chǎn)手機(jī)SoC從研發(fā)到量產(chǎn)保駕護(hù)航，讓中國(guó)芯在**手機(jī)市場(chǎng)更具競(jìng)爭(zhēng)力。

杭州國(guó)磊GT600 SoC測(cè)試機(jī)在車規(guī)芯片測(cè)試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)的全過程，精細(xì)滿足AEC-Q100等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。 首先，國(guó)磊GT600的**優(yōu)勢(shì)在于其高精度參數(shù)測(cè)量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測(cè)量單元）可精確測(cè)量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標(biāo)。微小漏電可能在高溫或長(zhǎng)期使用后演變?yōu)楣δ苁?，?guó)磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國(guó)磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目。 在高溫工作壽命測(cè)試（HTOL）中，國(guó)磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對(duì)芯片施加高壓并連續(xù)運(yùn)行1000小時(shí)以上，驗(yàn)證其長(zhǎng)期穩(wěn)定性。其浮動(dòng)SMU電源板卡能精細(xì)模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元（PMU）在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。國(guó)磊GT600支持電壓/電流源同步掃描功能，可用于BGR（帶隙基準(zhǔn)）溫度特性與電源抑制比（PSRR）自動(dòng)化測(cè)試。

    杭州國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)之所以特別適用于高校科研場(chǎng)景，**在于其開放性、靈活性、多功能性與高性價(jià)比，完美契合高校在芯片教學(xué)、科研探索與原型驗(yàn)證中的獨(dú)特需求。首先，高度開放的軟件生態(tài)是科研創(chuàng)新的基礎(chǔ)。GT600搭載GTFY軟件系統(tǒng)，支持C++編程語(yǔ)言，并兼容VisualStudio等主流開發(fā)環(huán)境。這意味著高校師生無(wú)需依賴封閉的“黑盒子”軟件，可自主編寫、調(diào)試和優(yōu)化測(cè)試程序，靈活實(shí)現(xiàn)各類新型芯片架構(gòu)（如RISC-V、存算一體、類腦計(jì)算）的功能驗(yàn)證。這種開放性極大激發(fā)了學(xué)生的工程實(shí)踐能力與教師的科研創(chuàng)造力。其次，模塊化硬件架構(gòu)支持多樣化實(shí)驗(yàn)需求。GT600提供16個(gè)通用插槽，可自由混插數(shù)字、模擬（AWG/TMU）、電源（SMU/DPS）等板卡，構(gòu)建從純數(shù)字邏輯到混合信號(hào)的完整測(cè)試平臺(tái)。無(wú)論是驗(yàn)證一顆自研MCU的GPIO功能，還是測(cè)試新型傳感器接口的模擬性能，亦或是表征先進(jìn)工藝下的漏電特性，GT600都能“一機(jī)多用”，避免高校重復(fù)采購(gòu)多臺(tái)**設(shè)備，***提升設(shè)備利用率。第三，高精度測(cè)量能力支撐前沿研究。GT600的PPMU可測(cè)nA級(jí)電流，TMU時(shí)間分辨率達(dá)10ps，適用于FinFET、GAA等先進(jìn)工藝下低功耗器件的特性表征。 國(guó)磊GT600通過可擴(kuò)展的硬件架構(gòu)、高精度模擬測(cè)量能力和開放軟件平臺(tái)，為各高jiSoC提供定制測(cè)試方案。贛州CAF測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

國(guó)磊GT600多通道浮動(dòng)SMU設(shè)計(jì)，支持多電源域模擬芯片（如多路電源管理IC）的單一電壓施加與電流監(jiān)測(cè)。珠海高阻測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)的“量產(chǎn)引擎” 工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)（IIoT）設(shè)備對(duì)芯片的可靠性與成本極為敏感，且需求量大。杭州國(guó)磊GT600的512站點(diǎn)并行測(cè)試能力，可一次測(cè)試512顆MCU或傳感器芯片，極大提升測(cè)試吞吐量，***降低單顆測(cè)試成本。據(jù)行業(yè)測(cè)算，同測(cè)數(shù)每翻一倍，測(cè)試成本可下降30%以上。杭州國(guó)磊GT600支持長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試，篩選出能在高溫、高濕、強(qiáng)電磁干擾環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的“工業(yè)級(jí)”芯片。其GTFY系統(tǒng)支持STDF數(shù)據(jù)導(dǎo)出，可無(wú)縫對(duì)接工廠MES系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)良率分析與智能制造。杭州國(guó)磊GT600以“高效率、高可靠、低成本”的優(yōu)勢(shì)，為國(guó)產(chǎn)IIoT芯片的大規(guī)模量產(chǎn)提供強(qiáng)大引擎，助力中國(guó)智造走向全球。珠海高阻測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格