5G/6G通信芯片的“時(shí)序顯微鏡” 5G/6G基站與終端芯片對信號時(shí)序精度要求極高，微小抖動(dòng)即可導(dǎo)致通信中斷。杭州國磊GT600配備高精度TMU（時(shí)間測量單元），分辨率高達(dá)10ps（0.01納秒），相當(dāng)于光在3毫米內(nèi)傳播的時(shí)間，能精細(xì)捕捉高速信號邊沿的微小偏移。這一能力對于驗(yàn)證基帶芯片、射頻前端、AD/DA轉(zhuǎn)換器的時(shí)序一致性至關(guān)重要。杭州國磊GT600還可通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試芯片在復(fù)雜調(diào)制模式下的響應(yīng)性能。其400MHz測試速率與100ps邊沿精度，確保能覆蓋PCIe、USB、MIPI等高速接口的協(xié)議測試需求。在通信技術(shù)快速迭代的背景下，杭州國磊GT600以“皮秒級”測量能力，為國產(chǎn)通信芯片的性能與穩(wěn)定性提供精細(xì)驗(yàn)證，助力中國在6G賽道搶占先機(jī)。國磊GT600SoC測試機(jī)可以通過GPIB/TTL接口聯(lián)動(dòng)探針臺與分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測試。金門高阻測試系統(tǒng)

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲(chǔ)、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時(shí)序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時(shí)鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實(shí)現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗(yàn)證的完整性與可靠性。高阻測試系統(tǒng)市價(jià)國磊GT600SoC測試機(jī)作為一款通用型高jiATE，其設(shè)計(jì)目標(biāo)是支持廣類型的復(fù)雜SoC芯片的測試驗(yàn)證。

杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設(shè)備芯片的測試。以下幾類關(guān)鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進(jìn)行驗(yàn)證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設(shè)備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護(hù)儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗(yàn)證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫(yī)療設(shè)備依賴高精度ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）進(jìn)行信號轉(zhuǎn)換。國磊GT600的PPMU可精確測量nA級漏電流，防止信號漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標(biāo)準(zhǔn)生理信號波形，驗(yàn)證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關(guān)鍵參數(shù)，確保血壓、血氧等測量值符合醫(yī)療級標(biāo)準(zhǔn)。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運(yùn)行手機(jī)芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點(diǎn)并行測試能力，更可滿足手機(jī)芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈?zhǔn)芟薜谋尘跋拢瑖贕T600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備，可以為國產(chǎn)手機(jī)芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅(jiān)實(shí)、安全、可控的底層保障。國磊GT600SoC測試機(jī)512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預(yù)計(jì)2025年全球達(dá)1280萬副），量產(chǎn)測試效率成為關(guān)鍵瓶頸。國磊GT600測試機(jī)支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產(chǎn)型號的產(chǎn)能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式導(dǎo)出，便于測試數(shù)據(jù)與MES系統(tǒng)對接，實(shí)現(xiàn)良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機(jī)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機(jī)可同時(shí)驗(yàn)證其神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理功能與低功耗行為，確保端側(cè)AI性能與續(xù)航的雙重達(dá)標(biāo)。GT600通過高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測捕獲電流波形，若峰值電流超過安全閾值，可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。廣東GEN測試系統(tǒng)廠家

國磊GT600SoC測試機(jī)廣適用于AI、移動(dòng)、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領(lǐng)域的SoC研發(fā)與量產(chǎn)驗(yàn)證。金門高阻測試系統(tǒng)

杭州國磊GT600 SoC測試機(jī)在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗(yàn)證到量產(chǎn)的全過程，精細(xì)滿足AEC-Q100等嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標(biāo)。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁В瑖贕T600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測試項(xiàng)目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運(yùn)行1000小時(shí)以上，驗(yàn)證其長期穩(wěn)定性。其浮動(dòng)SMU電源板卡能精細(xì)模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗(yàn)證電源管理單元（PMU）在電壓波動(dòng)、負(fù)載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。金門高阻測試系統(tǒng)