AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲(chǔ)深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測試。這種“場景級(jí)驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對(duì)于強(qiáng)腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對(duì)實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。國磊GT600的16個(gè)通用插槽支持?jǐn)?shù)字、模擬、混合信號(hào)板卡混插，實(shí)現(xiàn)電源管理IC、傳感器信號(hào)調(diào)理芯片的測試。上海CAF測試系統(tǒng)廠家直銷

AI芯片市場競爭激烈，測試成本直接影響產(chǎn)品定價(jià)與市場滲透率。GT600支持高達(dá)512 Sites的并行測試能力，意味著單次測試可同時(shí)驗(yàn)證數(shù)百顆芯片，將單位測試時(shí)間壓縮至傳統(tǒng)設(shè)備的1/10以下。結(jié)合其高穩(wěn)定性與自動(dòng)化軟件平臺(tái)，整體測試成本可降低70%以上。這一優(yōu)勢對(duì)年出貨量達(dá)百萬級(jí)的邊緣AI芯片、智能攝像頭主控、機(jī)器人控制器等產(chǎn)品尤為關(guān)鍵。杭州國磊通過GT600構(gòu)建的“超級(jí)測試流水線”，不僅提升了國產(chǎn)芯片的量產(chǎn)效率，更增強(qiáng)了中國AI硬件在全球市場的價(jià)格競爭力，真正實(shí)現(xiàn)“測得起、賣得快、走得遠(yuǎn)”。上海CAF測試系統(tǒng)廠家直銷支持Windows 7/8/10系統(tǒng)，軟硬件兼容性強(qiáng)，部署便捷。

Chiplet時(shí)代的“互聯(lián)驗(yàn)證者” Chiplet（芯粒）技術(shù)通過將大芯片拆分為小芯片再集成，突破摩爾定律瓶頸，成為先進(jìn)制程的重要方向。然而，小芯片間的高速互聯(lián)（如UCIe）對(duì)信號(hào)完整性、功耗、時(shí)序提出極高要求。杭州國磊GT600憑借400MHz測試速率與100ps邊沿精度，可精確測量Chiplet間接口的信號(hào)延遲與抖動(dòng)。其高精度SMU可驗(yàn)證微凸塊（Micro-bump）的供電穩(wěn)定性，檢測微小電壓降。PPMU則用于測量封裝后各芯粒的**功耗，確保能效優(yōu)化。杭州國磊GT600的模塊化設(shè)計(jì)也便于擴(kuò)展，可針對(duì)不同芯粒配置**測試板卡。在Chiplet技術(shù)快速發(fā)展的***，杭州國磊GT600以高精度互聯(lián)驗(yàn)證能力，為國產(chǎn)先進(jìn)封裝芯片的可靠性與性能保駕護(hù)航。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運(yùn)行手機(jī)芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點(diǎn)并行測試能力，更可滿足手機(jī)芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對(duì)接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實(shí)現(xiàn)從實(shí)驗(yàn)室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈?zhǔn)芟薜谋尘跋?，國磊GT600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備，可以為國產(chǎn)手機(jī)芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅(jiān)實(shí)、安全、可控的底層保障。國磊設(shè)備，幫助您提升產(chǎn)品品質(zhì)與可靠性。

    AI加速芯片（如思元系列）專為云端推理與邊緣計(jì)算設(shè)計(jì)，**訴求是“高算力密度、***能效比、毫秒級(jí)穩(wěn)定響應(yīng)”。這類芯片往往集成數(shù)千個(gè)AI**與高速互聯(lián)總線，測試復(fù)雜度高、功耗敏感、量產(chǎn)規(guī)模大，傳統(tǒng)測試設(shè)備難以兼顧效率與精度。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，可同時(shí)對(duì)512顆芯片進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證，極大縮短測試周期，攤薄單顆芯片成本——這對(duì)動(dòng)輒數(shù)萬片出貨的數(shù)據(jù)中心級(jí)芯片而言，意味著數(shù)千萬級(jí)成本優(yōu)化。在功耗控制上，國磊GT600的PPMU單元可精確測量芯片在待機(jī)、輕載、滿載等多場景下的靜態(tài)與動(dòng)態(tài)電流，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，驗(yàn)證芯片在不同電壓域下的功耗表現(xiàn)，確保其在7x24小時(shí)運(yùn)行的數(shù)據(jù)中心中實(shí)現(xiàn)“每瓦特算力比較大化”。同時(shí)，其高精度TMU（時(shí)間測量單元，10ps分辨率）可檢測AI**間數(shù)據(jù)同步的時(shí)序抖動(dòng)，避免因時(shí)鐘偏移導(dǎo)致的推理錯(cuò)誤或延遲波動(dòng)，保障AI服務(wù)的穩(wěn)定低時(shí)延。 國磊GT600支持多Site并行測試，提升電源管理芯片、運(yùn)放等高量產(chǎn)型號(hào)的測試效率與產(chǎn)能。江蘇PCB測試系統(tǒng)研發(fā)公司

國磊GT600SoC測試機(jī)可以進(jìn)行電源門控測試即驗(yàn)證PowerGating開關(guān)的漏電控制效果。上海CAF測試系統(tǒng)廠家直銷

隨著智能手機(jī)進(jìn)入AI時(shí)代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉(zhuǎn)向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數(shù)據(jù)顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預(yù)計(jì)2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構(gòu)設(shè)計(jì)的**，更是對(duì)NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元）和AI工作負(fù)載深度優(yōu)化的結(jié)果。而這類高度集成的AISoC，對(duì)測試設(shè)備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數(shù)、多電源域、復(fù)雜時(shí)序、低功耗模式、混合信號(hào)模塊等，均需在量產(chǎn)前完成**驗(yàn)證。國磊GT600測試機(jī)正是為此類**手機(jī)SoC量身打造的測試平臺(tái)，具備從功能到參數(shù)、從數(shù)字到模擬的全棧測試能力。上海CAF測試系統(tǒng)廠家直銷