本發(fā)明涉及能夠從施加有抗蝕劑的基材剝離抗蝕劑的抗蝕劑的剝離液。背景技術：：印刷布線板的制造、主要是半加成法中使用的干膜抗蝕劑等抗蝕劑的剝離液中，伴隨微細布線化而使用胺系的剝離液。然而，以往的胺系的抗蝕劑的剝離液有廢液處理性難、海外的法規(guī)制度的問題，而避免其使用。近年來，為了避免胺系的抗蝕劑的剝離液的問題點，還報道了一種含有氫氧化鈉和溶纖劑的剝離液(專利文獻1)，由于剝離時的抗蝕劑沒有微細地粉碎，因此存在近年的微細的布線間的抗蝕劑難以除去的問題點。現(xiàn)有技術文獻專利文獻專利文獻1：日本特開2002-323776號公報技術實現(xiàn)要素：發(fā)明要解決的問題因此，本發(fā)明的課題在于，提供容易除去微細的布線間的抗蝕劑的技術。用于解決問題的手段本發(fā)明人等為了解決上述課題而深入研究的結果發(fā)現(xiàn)，含有鉀鹽和溶纖劑的溶液與專利文獻1那樣的含有氫氧化鈉和溶纖劑的溶液相比，即使是非常微細的布線間的抗蝕劑也能細小地粉碎，從而完成本發(fā)明。即，本發(fā)明涉及一種抗蝕劑的剝離液，其特征在于，含有鉀鹽和溶纖劑。另外，本發(fā)明涉及一種抗蝕劑的除去方法，其特征在于，用上述抗蝕劑的剝離液處理施加有抗蝕劑的基材。高效剝離液，讓光刻膠去除更輕松、更徹底。銅陵半導體剝離液產(chǎn)品介紹

本申請涉及半導體工藝技術領域，具體涉及一種剝離液機臺及其工作方法。背景技術：剝離(lift-off)工藝通常用于薄膜晶體管(thinfilmtransistor)制程中的光罩縮減，lift-off先形成光阻并圖案化，再在光阻上成膜，移除光阻的同時，沉積在光阻上的膜層也被剝離，從而完成膜層的圖形化，通過該制程可以實現(xiàn)兩次光刻合并為一次以達到光罩縮減的目的?，F(xiàn)有技術中，由于光阻上沉積了薄膜(該薄膜材料可以為金屬，ito(氧化銦錫)等用于制備tft的膜層)，在剝離光阻的同時薄膜碎屑被帶入剝離液(stripper)中，大量的薄膜碎屑將會導致剝離液機臺中的過濾器(filter)堵塞，從而導致機臺無法使用，并且需要停止所有剝離液機臺的工作，待將filter清理后再次啟動，降低了生產(chǎn)效率。技術實現(xiàn)要素：本申請實施例提供一種剝離液機臺及其工作方法，可以提高生產(chǎn)效率。本申請實施例提供一種剝離液機臺，包括：依次順序排列的多級腔室、每一級所述腔室對應連接一存儲箱；過濾器，所述過濾器的一端設置通過管道與當前級腔室對應的存儲箱連接，所述過濾器的另一端通過第二管道與下一級腔室連接；其中，至少在所述管道或所述第二管道上設置有閥門開關。在一些實施例中。上海顯示面板用剝離液供應剝離液的類別一般有哪些。

用顯微鏡觀察也難以看出的程度)3：有少量殘渣4：基本能剝離，但一部分殘渣多5：一半以上能剝離，但一部分殘渣多6：基本不能剝離，但一部分剝離7：不能剝離【表2】由該結果可知，在含有溶纖劑的抗蝕劑的剝離液中使用氫氧化鉀代替氫氧化鈉的本發(fā)明組成，與使用氫氧化鈉的比較組成相比，即使l/s狹窄，也能除去抗蝕劑。(3)剝離性能的評價方法將液溫設為50℃的各剝離液使用噴涂裝置向上述試驗片實施剝離處理，將試驗片的粘性部分的dfr以目視全部面積的90％以上被剝離的時刻作為剝離時間。另外，剝離片尺寸(長邊)是采集噴涂停止后附著于設置于試驗基板固定用的臺上的排渣用網(wǎng)眼的剝離片以目視實施的。此時的噴涂裝置的條件設為全錐噴嘴且流量5l/min、壓力。將其結果示于表3。(4)金屬的浸蝕性的評價方法利用上述評價方法實施將噴涂運行時間固定在10分鐘的處理。其后，將基板的鍍銅部位通過電子顯微鏡(日立高新技術制：s-3400n)按照以下的評價基準評價表面形狀。其結果也示于表3。<金屬浸蝕性的評價基準>(分數(shù))(內容)1：沒有變化2：極略微有變化(用顯微鏡觀察也難以看出的程度)3：略有變化4：發(fā)生***變色【表3】剝離時間(sec)剝離片尺寸。

含有的胺化合物的質量分為：1％-2％。進一步技術方案中，所述的添加劑中含有醇醚化合物的質量分為：30％-50％；含有胺化合物的質量分為：35％-55％；含有緩蝕劑的質量分為：6％-12％；含有潤濕劑的質量分為：1％-7％。進一步技術方案中，所述的步驟s1中剝離液廢液所含的酰胺化合物以及步驟s2中添加劑所含的酰胺化合物均為n-甲基甲酰胺(nmf)、n-甲基乙酰胺、n，n-二甲基甲酰胺中的一種或者多種。進一步技術方案中，所述的步驟s1中剝離液廢液所含的醇醚化合物以及步驟s2中添加劑所含的醇醚化合物均為二乙二醇丁醚(bdg)、二乙二醇甲醚、乙二醇甲醚、乙二醇乙醚中的一種或多種。進一步技術方案中，所述的步驟s1中剝離液廢液所含的胺化合物以及步驟s2中添加劑所含的胺化合物為環(huán)胺與鏈胺。進一步技術方案中，所述的環(huán)胺為氨乙基哌嗪、羥乙基哌嗪、氨乙基嗎啉中的一種或多種；所述的鏈胺為乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、異丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的一種或多種。進一步技術方案中，所述的三唑類化合物，具體為苯并三氮唑(bta)、甲基苯并三氮唑(tta)中的任意一種。進一步技術方案中，所述的潤濕劑為含羥基化合物，具體為為聚乙二醇、甘油中的任意一種。剝離液，高效去除光刻膠，不留痕跡。

所述硫脲類緩蝕劑包括硫脲、苯基硫脲或月桂?；螂逯械囊环N。具體的，所述聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑為聚氧乙烯聚氧丙烯單丁基醚、壬基酚聚氧乙烯醚、辛基酚聚氧乙烯醚、十二烷基聚氧乙烯醚、二壬基酚聚氧乙烯醚中的一種。采用上述技術方案，本發(fā)明技術方案的有益效果是：本用于疊層晶圓的光刻膠剝離液具有較快的剝離速度，對金屬的腐蝕率低，而且使用壽命長。具體實施方式本發(fā)明涉及一種用于疊層晶圓的光刻膠剝離液，配方包括10～20wt％二甲基亞砜，10～20wt％一乙醇胺，5～11wt％四甲基氫氧化銨，～1wt％硫脲類緩蝕劑和～2wt％聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑，5～15wt％n-甲基吡咯烷酮和余量的去離子水。聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑因為分子中的醚鍵不易被酸、堿破壞，所以穩(wěn)定性較高，水溶性較好，耐電解質，易于生物降解，泡沫小。硫脲類緩蝕劑呈現(xiàn)弱堿性，所以在酸性介質中能夠起到緩蝕的效果，另外與聚氧乙烯醚類非離子型表面活性劑和n-甲基吡咯烷酮配合可以起到提高處理量的作用。下面結合具體實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明。國內那里可以買到效果好的剝離液；安徽顯示面板用剝離液銷售廠

剝離液適用于半導體和顯示行業(yè)光刻膠的剝離；銅陵半導體剝離液產(chǎn)品介紹

本發(fā)明涉及半導體制造領域，特別是涉及一種用于包括但不限于半導體生產(chǎn)工藝中光刻膠去除步驟的光刻膠剝離去除方法。背景技術：光刻膠是一大類具有光敏化學作用(或對電子能量敏感)的高分子聚合物材料，是轉移紫外曝光或電子束曝照圖案的媒介。光刻膠的也稱為光致抗蝕劑、光阻等，其作用是作為抗刻蝕層保護襯底表面。光刻膠廣泛應用于集成電路(ic)、封裝(packaging)、微機電系統(tǒng)(mems)、光電子器件光子器件(optoelectronics/photonics)、平板顯示其(led、lcd、oled)和太陽能光伏(solarpv)等領域。在半導體制造領域，離子注入層光刻膠(參考圖2)在經(jīng)過高劑量或大分子量的源種注入后(參考圖3)，會在光刻膠的外層形成一層硬殼(參考圖4)本發(fā)明命名為主要光刻膠層。現(xiàn)有的離子注入層光刻膠在經(jīng)過氧氣灰化干法剝離時，由于等離子氧與光刻膠反應速率很高，會有一部分等離子氧先穿透主要光刻膠層到達第二光刻膠層，在與第二光刻膠層反應后在內部產(chǎn)生大量氣體，第二層光刻膠膨脹(參考圖5)，主要光刻膠層終因承受不住內層巨大的氣壓而爆裂，爆裂的光刻膠有一定的概率掉落在臨近的光刻膠上(參考圖6)，導致此交疊的光刻膠不能法剝離干凈。在經(jīng)過后續(xù)批作業(yè)的濕法剝離后會產(chǎn)生殘余物。銅陵半導體剝離液產(chǎn)品介紹