GT600SoC測試機在測試高可靠性產品（如車規(guī)芯片、工業(yè)級MCU、航天電子、醫(yī)療設備芯片）時，展現(xiàn)出精度、***性、穩(wěn)定性與可追溯性四大**優(yōu)勢，確保產品在極端環(huán)境下長期穩(wěn)定運行。首先，高精度參數(shù)測量是可靠性的基石。GT600配備每通道PPMU（參數(shù)測量單元），可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導致的微小漏電或潛在短路。這種“亞健康”芯片在常溫下可能功能正常，但在高溫或長期使用后極易失效。GT600通過精密篩查，提前剔除隱患，大幅提升產品早期失效率（InfantMortality）的控制能力。其次，支持***的可靠性測試項目。GT600可配合溫控系統(tǒng)進行高溫老化測試（Burn-in），在高溫高壓下運行芯片數(shù)百小時，加速暴露早期缺陷。其浮動SMU電源板卡能模擬車載12V/24V或工業(yè)設備的復雜電源環(huán)境，驗證芯片在電壓波動、負載突變下的穩(wěn)定性。對于通信類高可靠產品，高精度TMU（10ps分辨率）可檢測信號時序漂移，確保長期通信無誤碼。再次，高穩(wěn)定性與長周期測試能力。GT600硬件設計冗余，散熱優(yōu)良，支持7x24小時連續(xù)運行，可執(zhí)行長達數(shù)周的耐久性測試，模擬產品十年生命周期。128M向量深度確保長周期測試程序不中斷，數(shù)據(jù)完整。***，數(shù)據(jù)可追溯性強。 國磊GT600SoC測試機通過輸入/輸出電平測試（VIH/VIL,VOH/VOL）驗證數(shù)字接口的高低電平閾值與驅動能力。SIR測試系統(tǒng)市價

AI芯片在推理或訓練突發(fā)負載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設計。其128M向量響應存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負載的能耗模式。現(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務器芯片大規(guī)模量產需求。
珠海CAF測試系統(tǒng)國磊GT600高密度集成設計降低系統(tǒng)體積，適配探針臺有限空間下的模擬晶圓測試（CP）應用。

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風、藍牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)字邏輯、注入模擬信號、采集響應波形，實現(xiàn)全功能閉環(huán)驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應對日益復雜的混合信號SoC，無需外接多臺設備，節(jié)省空間與成本。

低功耗SoC在先進工藝下表現(xiàn)出更復雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態(tài)電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關鍵參數(shù)的測量上。此時，國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量，**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅動能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。國磊GT600SoC測試機支持多種面向復雜SoC的具體測試流程，涵蓋從基本功能驗證到高精度參數(shù)測量的完整鏈條。

高精度模擬測試滿足車規(guī)級信號完整性要求 智能駕駛系統(tǒng)高度依賴毫米波雷達、攝像頭、激光雷達等傳感器輸入，其前端模擬信號鏈對噪聲、失真和時序精度極為敏感。杭州國磊GT600配備的GT-AWGLP02 AWG板卡具備-122dB THD與110dB SNR指標，可精細生成高質量模擬激勵信號；而GT-TMUHA04時間測量單元則提供10ps分辨率與時序誤差*±10ps的測量能力。這些高精度模擬與混合信號測試功能，使得GT600能夠***驗證AD/DA轉換器、高速SerDes接口及電源管理模塊在極端工況下的性能表現(xiàn)，確保智能駕駛SoC在真實道路環(huán)境中穩(wěn)定可靠運行。您是否需要一款能同時監(jiān)測溫度濕度的絕緣電阻測試儀？珠海GEN3測試系統(tǒng)供應商

國磊GT600SoC測試機廣適用于AI、移動、物聯(lián)網(wǎng)、汽車、工業(yè)等領域的SoC研發(fā)與量產驗證。SIR測試系統(tǒng)市價

推動測試設備產業(yè)鏈協(xié)同發(fā)展，國磊（Guolei）GT600的研發(fā)帶動了國內精密儀器、高速PCB、FPGA邏輯、高精度ADC/DAC等上游元器件的需求，促進本土供應鏈成長。例如，其高精度TMU板卡依賴低抖動時鐘源和皮秒級時間數(shù)字轉換器（TDC），這類**部件的國產化也在同步推進。這種“以用促研、以研帶產”的良性循環(huán)，有助于構建完整的國產半導體測試裝備產業(yè)鏈，從根本上提升供應鏈的自主性和可持續(xù)性。國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)不僅是技術工具，更是國家半導體供應鏈安全體系中的關鍵基礎設施。它通過實現(xiàn)**測試設備的國產替代、支撐國產芯片自主創(chuàng)新、保障敏感數(shù)據(jù)安全、促進上下游協(xié)同，構筑起一道抵御外部風險的“技術護城河”。在中美科技博弈長期化的趨勢下，像GT600這樣的國產**ATE，將成為中國打造安全、可靠、高效半導體產業(yè)鏈不可或缺的戰(zhàn)略支點。SIR測試系統(tǒng)市價