數(shù)據(jù)中心芯片的“能效裁判” 在“雙碳”目標(biāo)下，數(shù)據(jù)中心能耗成為焦點，芯片能效比（Performance per Watt）成為**指標(biāo)。杭州國磊GT600通過PPMU精確測量AI加速芯片、服務(wù)器CPU的靜態(tài)與動態(tài)功耗，結(jié)合FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式，繪制完整的功耗-性能曲線，幫助設(shè)計團(tuán)隊優(yōu)化電壓頻率調(diào)節(jié)（DVFS）策略。其FIMV模式還可檢測芯片在高負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機(jī)。杭州國磊GT600支持長時間穩(wěn)定性測試，模擬數(shù)據(jù)中心7x24小時運行場景，篩選出“耐力型”芯片。512站點并行測試大幅降低單顆芯片測試時間與成本，適配萬片級量產(chǎn)需求。杭州國磊GT600不僅是性能的驗證者，更是能效的“精算師”，助力國產(chǎn)芯片在綠色計算時代贏得市場。國磊GT600支持選配高精度浮動SMU板卡，可在-2.5V至7V范圍內(nèi)精確施加電壓，監(jiān)測各電源域的動態(tài)與靜態(tài)電流。浙江PCB測試系統(tǒng)工藝

可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機(jī)”升級為“混合信號測試平臺”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時間分辨率，可精確測量5G基帶信號的抖動與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號，用于驗證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時，杭州國磊GT600可同時激勵數(shù)字邏輯、注入模擬信號、采集響應(yīng)波形，實現(xiàn)全功能閉環(huán)驗證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對日益復(fù)雜的混合信號SoC，無需外接多臺設(shè)備，節(jié)省空間與成本。GEN測試系統(tǒng)行價國磊GT600SoC測試機(jī)可以進(jìn)行電源門控測試即驗證PowerGating開關(guān)的漏電控制效果。

高精度模擬測試能力匹配MEMS信號鏈要求，MEMS傳感器輸出信號微弱（如微伏級電容變化或納安級電流），對測試系統(tǒng)的本底噪聲和分辨率要求極高。國磊（Guolei）GT600可選配的GT-AWGLP02 AWG板卡具備**-122dB THD**（總諧波失真）和110dB SNR（信噪比），能生成超純凈激勵信號；同時其Digitizer支持20~24位采樣，可精確捕獲微弱響應(yīng)。這種能力對于測試MEMS麥克風(fēng)的靈敏度、壓力傳感器的滿量程輸出或磁力計的偏置穩(wěn)定性至關(guān)重要。支持低功耗與寬電壓范圍測試 許多MEMS器件用于可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)節(jié)點等電池供電場景，對功耗極為敏感。國磊（Guolei）GT600的GT-DPSMV08電源板卡支持**-2.5V ~ +7V、1A**輸出，并具備每引腳**電源控制（PPMU），可精確測量待機(jī)/工作/休眠各模式下的電流（nA~mA級），驗證MEMS-SoC是否滿足ULP（**功耗）設(shè)計目標(biāo)，這對通過終端產(chǎn)品能效認(rèn)證（如Energy Star）具有直接價值。

HBM的集成不****是帶寬提升，更帶來了復(fù)雜的混合信號測試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號完整性、電源噪聲、時序?qū)R（Skew）等問題，直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國磊GT600測試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡，實現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測試。例如，通過GT-TMUHA04（10ps分辨率）精確測量HBM接口時序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成純凈激勵信號，**驗證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問題系統(tǒng)化解決，為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號的**測試保障，確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時代的嚴(yán)苛考驗。GT600支持采用開源CPU核與自研NPU的異構(gòu)SoC數(shù)字邏輯、模擬模塊與低功耗策略的綜合驗證。

傳統(tǒng)測試設(shè)備面向通用CPU/GPU設(shè)計，難以應(yīng)對AI芯片特有的稀疏計算、張量**、片上互聯(lián)等新架構(gòu)。GT600針對此類需求優(yōu)化了測試向量調(diào)度機(jī)制與并行激勵生成能力，支持對非規(guī)則數(shù)據(jù)流、動態(tài)稀疏***、混合精度運算的專項驗證。其靈活的時鐘域管理還可模擬多頻異構(gòu)系統(tǒng)的工作狀態(tài)。這種“為AI而生”的設(shè)計理念，使GT600不僅兼容現(xiàn)有芯片，更能前瞻性支持下一代AI硬件創(chuàng)新。在杭州打造“中國算力之城”的進(jìn)程中，GT600正推動測試從“功能檢查”向“場景仿真”演進(jìn)，**國產(chǎn)測試技術(shù)范式升級。國磊GT600SoC測試機(jī)通過電源上電時序測試?yán)肧MU監(jiān)控多電源域的電壓建立順序，防止閂鎖效應(yīng)。南京導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

國磊GT600支持20/24bit高分辨率AWG與Digitizer板卡，可用于高精度ADC/DAC的INL、DNL、SNR、THD等參數(shù)測試。浙江PCB測試系統(tǒng)工藝

HBM接口動輒上千個高速信號引腳，數(shù)據(jù)速率高達(dá)Gbps級別，對測試設(shè)備的通道密度、測試速率與時序精度提出極限挑戰(zhàn)。國磊GT600測試機(jī)以400MHz測試速率和**2048個數(shù)字通道的強(qiáng)大配置，從容應(yīng)對HBM接口的高并發(fā)、高速邏輯測試需求。其128M向量存儲深度可完整運行復(fù)雜協(xié)議測試Pattern，確保功能覆蓋無遺漏。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測試，大幅提升測試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測試成本。在HBM驅(qū)動的算力**中，GT600不**是測試工具，更是提升國產(chǎn)AI芯片量產(chǎn)效率與市場競爭力的**引擎。浙江PCB測試系統(tǒng)工藝