國產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展
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國產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場機(jī)遇并存
在量子科研機(jī)構(gòu)或企業(yè)構(gòu)建本土化測控生態(tài)時,采用國產(chǎn)測試平臺可降低技術(shù)封鎖風(fēng)險,加速從實驗室原型到工程化產(chǎn)品的轉(zhuǎn)化。雖然國磊(Guolei)GT600并非直接用于測量量子態(tài)或操控量子比特,但作為支撐量子系統(tǒng)“經(jīng)典側(cè)”電子學(xué)的**測試基礎(chǔ)設(shè)施,它在量子芯片外圍電路驗證、控制SoC量產(chǎn)、供應(yīng)鏈安全等方面具有不可替代的價值。未來,隨著“量子-經(jīng)典混合系統(tǒng)”復(fù)雜度提升,高性能SoC測試設(shè)備與量子科技的耦合將更加緊密。因此,杭州國磊(Guolei)的SoC測試系統(tǒng)不僅是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的利器,也正在成為量子科技產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程中的一塊關(guān)鍵拼圖。國磊GT600的SMU覆蓋從高壓IO(3.3V)到低電壓he心(0.6V~1.2V)的多種電源域,適配不同節(jié)點(diǎn)供電要求。國產(chǎn)CAF測試系統(tǒng)參考價

在HBM技術(shù)快速迭代的背景下,芯片企業(yè)亟需靈活、開放的測試平臺,以快速響應(yīng)設(shè)計變更與測試需求升級。國磊GT600測試機(jī)搭載開放式GTFY軟件系統(tǒng),支持VisualStudio與C++開發(fā)環(huán)境,讓工程師能夠自由定制測試流程,快速開發(fā)復(fù)雜測試程序。系統(tǒng)兼容Access、Excel、CSV、STDF等主流數(shù)據(jù)格式,無縫對接現(xiàn)有數(shù)據(jù)分析平臺。同時,GT600提供測試向量轉(zhuǎn)換工具,可輕松遷移其他平臺的測試方案,大幅縮短導(dǎo)入周期。對于正在布局HBM產(chǎn)品的國產(chǎn)AI芯片公司而言,GT600不**是一臺測試機(jī),更是一個靈活、高效、可擴(kuò)展的測試生態(tài),助力客戶在激烈的市場競爭中搶占先機(jī)。長沙GEN3測試系統(tǒng)定制支持遠(yuǎn)程監(jiān)控,讓您隨時隨地掌握測試進(jìn)程。

1.高邊沿精度保障高速接口時序合規(guī)性?,F(xiàn)代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口,用于連接傳感器與**計算單元。這些接口對信號邊沿時序要求極為嚴(yán)苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度,能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿,并配合Digitizer板卡捕獲實際輸出波形,驗證眼圖、抖動與建立/保持時間是否符合協(xié)議規(guī)范。這種高精度時序控制能力,是確保車載高速通信鏈路穩(wěn)定性的關(guān)鍵測試手段。開放式軟件生態(tài)賦能定制化測試開發(fā)。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環(huán)境,允許客戶根據(jù)自身芯片特性開發(fā)定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言,這意味著可將內(nèi)部驗證方法論(如ISO26262功能安全測試用例)直接嵌入測試程序,實現(xiàn)自動化安全機(jī)制驗證。同時,圖形化數(shù)據(jù)顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊,大幅提升調(diào)試效率,縮短芯片迭代周期。
高性能GPU的功耗管理直接影響系統(tǒng)穩(wěn)定性與能效比。“風(fēng)華3號”支持多級電源域與動態(tài)頻率調(diào)節(jié),要求測試平臺具備高精度DC參數(shù)測量能力。國磊GT600測試機(jī)每通道集成PPMU,支持nA級靜態(tài)電流(IDDQ)測量,可**識別GPU在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動SMU板卡,支持-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動能力,可用于DVFS電壓切換測試、電源上電時序(PowerSequencing)驗證及電源抑制比(PSRR)分析。GT-TMUHA04時間測量單元提供10ps分辨率,可精確測量GPU**喚醒延遲、中斷響應(yīng)時間與時鐘同步偏差,確保AI訓(xùn)推與實時渲染任務(wù)的時序可靠性。國磊GT600SoC測試機(jī)通過加載Pattern,驗證SoC邏輯(如CPU、NPU、DSP)的功能正確性與邏輯測試及向量測試。

支撐國產(chǎn)芯片全流程自主驗證 從設(shè)計到量產(chǎn),芯片必須經(jīng)過嚴(yán)格的功能與參數(shù)測試。若測試設(shè)備受制于人,不僅存在數(shù)據(jù)安全風(fēng)險(如測試程序、芯片特性被第三方獲取),還可能因設(shè)備兼容性問題拖慢研發(fā)節(jié)奏。國磊(Guolei)GT600采用開放式GTFY軟件架構(gòu),支持C++編程、自定義測試流程,并兼容STDF、CSV等標(biāo)準(zhǔn)格式,使國產(chǎn)CPU、GPU、AI加速器、車規(guī)MCU等關(guān)鍵芯片可在完全自主可控的平臺上完成工程驗證與量產(chǎn)測試,確保“設(shè)計—制造—測試”全鏈條安全閉環(huán)。加速國產(chǎn)芯片生態(tài)成熟與迭代 供應(yīng)鏈安全不僅在于“有無”,更在于“效率”與“響應(yīng)速度”。國磊作為本土企業(yè),可提供快速的技術(shù)支持、定制化開發(fā)和本地化服務(wù)。例如,某智能駕駛芯片廠商在流片后發(fā)現(xiàn)高速接口時序異常,國磊工程師可在48小時內(nèi)協(xié)同優(yōu)化TMU測試程序,而依賴國外設(shè)備則可能需數(shù)周等待遠(yuǎn)程支持。這種敏捷響應(yīng)能力極大縮短了國產(chǎn)芯片的調(diào)試周期,加速產(chǎn)品上市,提升整個生態(tài)的競爭力與韌性。工藝微縮致亞閾值漏電柵極漏電增加,微小漏電異常縮短電池壽命,GT600快速篩選出“壞芯”,確保量產(chǎn)良率。高性能SIR測試系統(tǒng)哪家好
國磊GT600可使用AWG生成模擬輸入信號,Digitizer捕獲輸出,計算INL、DNL、SNR、THD等指標(biāo)。國產(chǎn)CAF測試系統(tǒng)參考價
現(xiàn)代手機(jī)SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊,用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02(THD-122dB)和高分辨率Digitizer板卡,可用于AI驅(qū)動的語音識別、圖像信號處理鏈路的動態(tài)性能測試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關(guān)鍵指標(biāo)的精確測量,確保端側(cè)AI感知系統(tǒng)的信號完整性。國磊GT600測試機(jī)的16插槽模塊化架構(gòu)允許數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插,實現(xiàn)從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測試,避免多設(shè)備切換帶來的效率損失與數(shù)據(jù)割裂。
國產(chǎn)CAF測試系統(tǒng)參考價