面對國產(chǎn)手機(jī)芯片動輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場先機(jī)。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點能力，相較傳統(tǒng)32或64站點設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場競爭中贏得價格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，助您快速定位問題。國磊導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴(yán)苛的可靠性認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強(qiáng)振動、長期高負(fù)載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機(jī)正是這一“車規(guī)級體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細(xì)測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證MCU在電壓波動、負(fù)載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進(jìn)行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護(hù)每一程出行安全。 金華高阻測試系統(tǒng)定制國磊GT600測試機(jī)模塊化16插槽架構(gòu)可同時集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)是國產(chǎn)CAF測試裝備的重大成就，其性能指標(biāo)直接對標(biāo)國際**水平。該系統(tǒng)支持高達(dá)256個**通道的同步測試，電阻測量范圍橫跨10^4~10^14Ω，精度控制在±3%~±10%之間，能夠滿足**苛刻的絕緣材料與PCB板的CAF效應(yīng)評估需求。GM8800提供極其靈活和精確的電壓施加能力，內(nèi)置0V~±100V精密源，外接偏置電壓可達(dá)3000V，電壓控制精度***，步進(jìn)調(diào)節(jié)細(xì)膩，電壓建立速度快，并允許用戶設(shè)置1~600秒的穩(wěn)定時間以確保測試條件的一致性。系統(tǒng)集成 comprehensive 數(shù)據(jù)采集功能，同步監(jiān)測記錄所有相關(guān)參數(shù)（時間、電阻、電流、電壓、溫濕度），并通過專業(yè)軟件進(jìn)行自動化處理、分析和存儲，支持遠(yuǎn)程訪問與控制。其設(shè)計高度重視安全性與可靠性，內(nèi)置低阻、過壓、溫濕度越限、AC斷電、系統(tǒng)死機(jī)等多重報警機(jī)制，并可連接UPS提供長達(dá)120分鐘的斷電保護(hù)。與價格昂貴的英國GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**功能與性能上實現(xiàn)***超越對標(biāo)，更在系統(tǒng)總擁有成本、通道擴(kuò)展性、定制化能力以及本土技術(shù)服務(wù)響應(yīng)效率上具備壓倒性優(yōu)勢，已成為國內(nèi)眾多**制造企業(yè)與研究機(jī)構(gòu)替代進(jìn)口、實現(xiàn)供應(yīng)鏈自主的優(yōu)先方案。

“風(fēng)華3號”**了國產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計到量產(chǎn)的完整驗證鏈支撐。國磊GT600測試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計算芯片測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺、分選機(jī)聯(lián)動，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程，**提升測試效率與一致性。在國產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國磊GT600測試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測試保障，助力中國芯在圖形與計算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。具備多類報警功能，包括低阻、溫濕度異常等，保障測試安全。

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時序嚴(yán)苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細(xì)模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。國磊GT600SoC測試機(jī)每通道32/64/128M向量存儲深度，支持復(fù)雜HBM協(xié)議Pattern的完整加載與執(zhí)行。金華高阻測試系統(tǒng)定制

支持Windows 7/8/10系統(tǒng)，軟硬件兼容性強(qiáng)，部署便捷。國磊導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司

國磊半導(dǎo)體推出的GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)，是一款集高性能、高可靠性、高靈活性于一體的國產(chǎn)CAF測試裝備。該系統(tǒng)最大支持256通道分組CAF測試，電阻測量范圍寬至10^4~10^14Ω，測量精度高，能夠靈敏、準(zhǔn)確地捕捉絕緣材料在直流高壓和濕熱環(huán)境下的電阻退化現(xiàn)象，為評估其耐CAF性能提供定量依據(jù)。GM8800提供精確可調(diào)的電壓應(yīng)力，內(nèi)置0V~±100V精密電源，外接偏置電壓比較高達(dá)3000V，電壓輸出穩(wěn)定且精度高，步進(jìn)調(diào)節(jié)精細(xì)，并具備快速的電壓建立能力。系統(tǒng)測試參數(shù)設(shè)置靈活，間隔時間、穩(wěn)定時間、總時長均可按需配置，并集成實時溫濕度監(jiān)控與多重安全報警功能（如低阻、電壓異常、停機(jī)、斷電、軟件故障），確保長期測試的安全與連續(xù)。配套軟件提供全自動測試控制、數(shù)據(jù)采集、圖形化分析、報告導(dǎo)出及遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，操作簡便。與進(jìn)口品牌如英國GEN3相比，GM8800在**測試能力上毫不遜色，而在通道數(shù)量、購置成本、使用靈活性以及本土技術(shù)服務(wù)響應(yīng)方面具有明顯優(yōu)勢，非常適合國內(nèi)PCB行業(yè)、汽車電子制造商、學(xué)術(shù)研究機(jī)構(gòu)及第三方實驗室用于材料鑒定、工藝優(yōu)化和質(zhì)量可靠性驗證，是實現(xiàn)關(guān)鍵測試設(shè)備國產(chǎn)化替代的理想選擇。國磊導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)研發(fā)公司