更加可行的方法是,取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在使用的工藝中,出現(xiàn)了一個新的變化,就要增加一個級別,來保證檢查的精確性。所有認(rèn)識到的和已知的缺陷都儲存起來,他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細(xì)的檢查。用AOI軟件核實真正的缺陷AOI軟件中有一個綜合性的驗證功能,它能減少檢查的誤報,保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品,例如,修理站存放的樣品,以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。吳江區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸
2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時,所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時,還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs,會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計,這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài);此外, 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的,而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。相城區(qū)銷售自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話運(yùn)用豐富的多功能檢測算法和二元或灰度水平光學(xué)成像處理技術(shù)進(jìn)行檢測.
在回熔溫度較高以及使用侵蝕性更強(qiáng)的助焊劑時,也會導(dǎo)致與助焊劑直接接觸的較薄的元件受到侵蝕,元件頂部不能夠反射光線。流動性的改變和侵蝕性助焊劑,對R0402型元件的影響比C0402型元件大,因為R0402型元件更輕也更薄。在使用R0603元件時,這也不常見。檢查庫圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響,必須通過幾個途徑降低到**小,以滿足頭工作的要求?!?AOI全球檢查庫──對部分AOI制造商的標(biāo)定工具進(jìn)行調(diào)整是極為重要的,所以,這些變化能夠傳遞到照相機(jī)和照明模塊上。
無鉛焊接帶來的變化可以從三個方面看到無鉛的影響:灰度值提高、流程的改變和有效的助焊劑。無鉛焊點的亮度平均值高了2.5%。這相當(dāng)于亮度提高了五級。焊點看上去粗糙,而且表面呈粗大的顆粒狀。這可以利用特性萃取方法來消除或者過濾掉。流動性稍微差一些,特別是對于那些較輕的元件,會妨礙元件在熔化焊膏中浸沒或者浮起。這表示元件自動對正的程度較差。由于效果差,意味著輕輕的0402元件沿著縱向翹起的傾向會增強(qiáng),結(jié)果是不能完全看到元件的頂部。制定設(shè)計方針,可以有效地簡化檢查和降低生 產(chǎn)成本。
自動探傷系統(tǒng)是利用超聲波探傷技術(shù),滿足用戶對探傷的實時性要求,并實現(xiàn)實時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算的探測系統(tǒng)。超聲波探傷技術(shù)在無損檢測領(lǐng)域中占有極其重要的地位。 近年來, 計算機(jī)軟硬件技術(shù)、 高速數(shù)字信號處理技術(shù)、 虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展, 使無損檢測技術(shù)在數(shù)據(jù)處理手段、 儀器檢測性能、 設(shè)備系統(tǒng)化和智能化程度方面取得了巨大進(jìn)步。 [1] 目前已經(jīng)誕生了多種數(shù)字化便攜式探傷儀 , 然而自動化超聲波探傷系統(tǒng)仍以多通道模擬方式為主自動探傷系統(tǒng)中,基于嵌入式DSP 子系統(tǒng)可以滿足用戶對探傷的實時性要求, 實現(xiàn)實時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算; 另一方面, 利用PC 機(jī)強(qiáng)大的處理能力和豐富的資源, 完成對缺陷回波信號的后續(xù)處理。 [2]微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。工業(yè)園區(qū)購買自動化缺陷檢測設(shè)備按需定制
傳統(tǒng)圖像處理:采用全局/局部閾值分割進(jìn)行像素分類,配合邊緣檢測算法提取缺陷輪廓.吳江區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸
LS(Lead Scan的縮寫)是半導(dǎo)體封裝后段制程中用于集成電路(IC)外觀缺陷自動化檢測的關(guān)鍵設(shè)備,涵蓋晶圓切割、焊線鍵合、芯片封裝等多環(huán)節(jié)的質(zhì)量控制。該設(shè)備采用激光散射與暗場成像技術(shù),可識別23nm級顆粒污染、劃痕及鍵合參數(shù)異常,檢測貫穿硅片認(rèn)證、生產(chǎn)過程控片檢測等全流程。主流設(shè)備型號包括ICOS品牌的LS-7700和Hitachi High-Tech的LS系列,其技術(shù)指標(biāo)與切割砂輪規(guī)格、封裝檢驗標(biāo)準(zhǔn)深度關(guān)聯(lián)。隨著7nm以下先進(jìn)制程占比提升,LS類設(shè)備的資本開支占比已超過20%,成為保障車規(guī)級芯片可靠性的**環(huán)節(jié) [1]。吳江區(qū)本地自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸
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