國產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展
關(guān)于雅特力助力關(guān)節(jié)運(yùn)動(dòng)
維特比算法與DSP芯片——解碼噪聲中的“比較好路徑”
2025年關(guān)于麥歌恩動(dòng)態(tài)
雅特力推出新系列微控制器:AT32F455/F456/F45
雅特力科技助力宇樹科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
雅特力AT32 Workbench煥“芯”升級(jí)!
雅特力科技助力宇樹科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
矽??萍极@TüV萊茵 ISO 26262 認(rèn)證
國產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場機(jī)遇并存
在 LED 驅(qū)動(dòng)電路相關(guān)的失效分析中,擎奧檢測展現(xiàn)出跨領(lǐng)域的技術(shù)整合能力。驅(qū)動(dòng)電路故障是導(dǎo)致 LED 燈具失效的常見原因,涉及電容老化、電阻燒毀、芯片過熱等問題。實(shí)驗(yàn)室不僅能對(duì)驅(qū)動(dòng)電路中的元器件進(jìn)行參數(shù)測試和失效模式分析,還能結(jié)合 LED 燈具的整體工作環(huán)境,模擬不同電壓、電流波動(dòng)下的電路響應(yīng),找出如浪涌沖擊、過流保護(hù)失效等深層原因,幫助客戶優(yōu)化驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì),提升 LED 系統(tǒng)的整體可靠性。擎奧檢測為客戶提供的 LED 失效分析服務(wù),注重從壽命評(píng)估角度提供前瞻性建議。通過加速壽命試驗(yàn),團(tuán)隊(duì)可以在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測 LED 的使用壽命,并結(jié)合失效數(shù)據(jù)分析出影響壽命的關(guān)鍵因素。例如,在對(duì)某款戶外 LED 路燈的失效分析中,他們通過高溫高濕環(huán)境下的加速試驗(yàn),提前發(fā)現(xiàn)了燈具密封膠耐候性不足的問題,并計(jì)算出在實(shí)際使用環(huán)境中的壽命衰減曲線,為客戶的產(chǎn)品迭代和維護(hù)周期制定提供了科學(xué)依據(jù)。結(jié)合環(huán)境測試數(shù)據(jù)開展 LED 失效綜合分析。上海中低功率LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路

LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術(shù)強(qiáng)項(xiàng)之一,依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團(tuán)隊(duì),可實(shí)現(xiàn)從芯片級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的全鏈條分析。針對(duì)某批 LED 芯片的突然失效,技術(shù)人員通過探針臺(tái)測試芯片的 I-V 曲線,發(fā)現(xiàn)反向漏電流異常增大,結(jié)合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋,追溯到外延生長過程中的應(yīng)力集中問題。對(duì)于 LED 芯片的光效衰減失效,團(tuán)隊(duì)利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化,配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度,精確定位材料生長缺陷導(dǎo)致的性能退化。這些深入的芯片級(jí)分析為上游制造商提供了寶貴的改進(jìn)方向。寶山區(qū)制造LED失效分析功能運(yùn)用材料分析確定 LED 失效的化學(xué)原因。

針對(duì) LED 景觀照明產(chǎn)品造型多樣、安裝環(huán)境復(fù)雜的特點(diǎn),上海擎奧提供適配性強(qiáng)的失效分析服務(wù)。團(tuán)隊(duì)會(huì)根據(jù)景觀照明的安裝位置(如建筑外立面、橋梁、綠植等)和使用場景,制定差異化的分析方案。通過模擬振動(dòng)、傾斜、粉塵堆積等特殊條件,測試 LED 的穩(wěn)定性,結(jié)合材料分析排查因安裝應(yīng)力、異物侵入導(dǎo)致的失效問題。同時(shí),分析景觀照明在動(dòng)態(tài)色彩變換過程中,電路和芯片的疲勞失效情況,為企業(yè)提供結(jié)構(gòu)加固、電路優(yōu)化等解決方案,保障景觀照明的視覺效果和使用壽命。
針對(duì)高溫高濕環(huán)境下的 LED 失效,擎奧檢測的環(huán)境測試艙可模擬 85℃/85% RH 的極端條件,進(jìn)行長達(dá) 1000 小時(shí)的加速老化試驗(yàn)。通過定期采集光通量、色坐標(biāo)等參數(shù),工程師發(fā)現(xiàn)硅膠黃變、金線腐蝕是導(dǎo)致性能衰減的主要原因。實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)的氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)可分析封裝材料的揮發(fā)物成分,結(jié)合腐蝕產(chǎn)物的能譜分析,終鎖定特定添加劑與金屬電極的化學(xué)反應(yīng)機(jī)理,為材料替代提供科學(xué)依據(jù)。在汽車前大燈 LED 的失效分析中,擎奧檢測特別關(guān)注振動(dòng)與溫度沖擊的復(fù)合影響。實(shí)驗(yàn)室的三綜合測試系統(tǒng)(溫度 - 濕度 - 振動(dòng))可模擬車輛行駛中的復(fù)雜工況,通過應(yīng)變片監(jiān)測燈體結(jié)構(gòu)應(yīng)力分布。測試發(fā)現(xiàn),LED 支架與散熱器的連接松動(dòng)會(huì)導(dǎo)致熱阻急劇上升,進(jìn)而引發(fā)芯片結(jié)溫過高失效。行家團(tuán)隊(duì)結(jié)合汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ISO 16750,制定了包含 12 項(xiàng)指標(biāo)的專項(xiàng)檢測方案,已成為多家車企的指定分析機(jī)構(gòu)。LED失效分析表明,過電流沖擊會(huì)加速金線熔斷,引發(fā)燈珠死燈。

針對(duì) LED 產(chǎn)品的全生命周期,上海擎奧提供覆蓋從設(shè)計(jì)研發(fā)到報(bào)廢回收的全程失效分析服務(wù)。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段,團(tuán)隊(duì)會(huì)結(jié)合可靠性設(shè)計(jì)原理,對(duì) LED 產(chǎn)品可能存在的失效隱患進(jìn)行提前預(yù)判和分析,為設(shè)計(jì)優(yōu)化提供依據(jù),降低產(chǎn)品后續(xù)失效的風(fēng)險(xiǎn);在生產(chǎn)環(huán)節(jié),通過對(duì)生產(chǎn)過程中的樣品進(jìn)行失效分析,及時(shí)發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝中的問題,幫助企業(yè)改進(jìn)生產(chǎn)流程,提高產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性;在產(chǎn)品使用階段,針對(duì)出現(xiàn)的失效問題,快速定位原因并提出解決方案,減少客戶的損失;在報(bào)廢回收階段,通過失效分析為 LED 產(chǎn)品的回收利用提供技術(shù)支持,促進(jìn)資源的循環(huán)利用。多維度的服務(wù)讓客戶在這些 LED 產(chǎn)品的各個(gè)階段都能獲得專業(yè)的技術(shù)保障。驅(qū)動(dòng)電流過大,超出LED額定值,加速芯片老化而失效。寶山區(qū)制造LED失效分析功能
電路保護(hù)措施不完善,如無過流、過壓保護(hù),易損壞LED。上海中低功率LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路
依托 30 余人的專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和 10 余人的行家顧問組,擎奧檢測的 LED 失效分析服務(wù)形成了 “檢測 - 分析 - 解決方案” 的閉環(huán)。無論是針對(duì)單個(gè) LED 樣品的失效診斷,還是批量產(chǎn)品的失效原因排查,團(tuán)隊(duì)都能憑借先進(jìn)的設(shè)備和豐富的經(jīng)驗(yàn),快速定位問題重心。他們不僅提供詳細(xì)的失效分析報(bào)告,還會(huì)結(jié)合客戶的產(chǎn)品應(yīng)用場景,給出從設(shè)計(jì)優(yōu)化、材料選擇到生產(chǎn)工藝改進(jìn)的多維度建議,真正實(shí)現(xiàn)與客戶共同提升 LED 產(chǎn)品可靠性的目標(biāo)。擎奧檢測為客戶提供的 LED 失效分析服務(wù),注重從壽命評(píng)估角度提供前瞻性建議。通過加速壽命試驗(yàn),團(tuán)隊(duì)可以在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測 LED 的使用壽命,并結(jié)合失效數(shù)據(jù)分析出影響壽命的關(guān)鍵因素。上海中低功率LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路