滲氦型標(biāo)準(zhǔn)漏孔是利用氦氣對石英大多數(shù)玻璃或四氟乙烯有高的滲透性這一特性制作。此類型漏孔對污染不敏感；長時間內(nèi)漏率穩(wěn)定；漏率可以做得很小。滲氦型標(biāo)準(zhǔn)漏孔的充裝氣體為氦氣，其漏率范圍一般在10負(fù)5-10負(fù)13Pa·m3/s之間。此外，滲氦型標(biāo)準(zhǔn)漏孔的示值允許偏差為±15%，溫度補(bǔ)償約為3%/°C，并且具有優(yōu)異的抗堵塞能力和長時間內(nèi)漏率穩(wěn)定的特性，出口閥門為手動(選配)，接口為KF25/M14*1.5(內(nèi))或定制，出口為真空，可重復(fù)充氣。年衰減率根據(jù)漏率的不同而有所差異，例如，對于10-7Pa·m3/s的漏率，年衰減率小于或等于10%/y;對于10-8Pa·m3/s的漏率，年衰減率小于或等于3%/y;以此類推，直到10-12Pa·m3/s的漏率，年衰減率小于或等于0.1%/y。標(biāo)準(zhǔn)漏孔需按規(guī)范定期進(jìn)行性能校準(zhǔn)與核查。常州正壓漏孔生產(chǎn)廠家
JJF1946-2022《鹵素檢漏儀校準(zhǔn)規(guī)范》,規(guī)范條文解釋：本規(guī)范適用于可檢漏率為（1.0×10-6~1.0×10-4）Pa.m3/s的鹵素檢漏儀的校準(zhǔn)，其他制冷劑的檢漏儀也可以參考本規(guī)范執(zhí)行。解釋：與目前鹵素檢漏儀校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器（鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔）的可溯源范圍相適應(yīng)，待發(fā)布的正壓漏孔校準(zhǔn)規(guī)范使用范圍（10-6~10-4）Pa.m3/s，與檢漏儀的實際測量范圍（1-10）g/a對應(yīng)。測量標(biāo)準(zhǔn)：測量標(biāo)準(zhǔn)為提供某種特定鹵素氣體的已知漏率的鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔，如表所示，鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔應(yīng)具有定位槽以便于檢漏儀定位。解釋：通常配備多個標(biāo)準(zhǔn)漏孔，一個標(biāo)準(zhǔn)漏孔對應(yīng)一種示漏氣體，根據(jù)被校檢漏儀選擇相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)漏孔。江蘇可調(diào)標(biāo)準(zhǔn)漏孔生產(chǎn)廠家標(biāo)準(zhǔn)漏孔能輔助判斷檢漏儀的工作狀態(tài)。
航空航天領(lǐng)域?qū)γ芊庑阅芤髽O高，標(biāo)準(zhǔn)漏孔在此類場景中用于校準(zhǔn)航天器密封件檢漏設(shè)備，確保燃料艙、艙體等關(guān)鍵部件無泄漏，確保飛行安全與任務(wù)順利執(zhí)行。在醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域，標(biāo)準(zhǔn)漏孔用于校準(zhǔn)氧艙的檢漏儀器，確保艙體密封性能達(dá)標(biāo)，避免氧氣泄漏引發(fā)安全問題，是確?；颊甙踩闹匾嬃抗ぞ?。標(biāo)準(zhǔn)漏孔的重復(fù)性是重要性能指標(biāo)，指在相同條件下多次測量的泄漏率偏差程度。重復(fù)性越好，表明漏孔性能越穩(wěn)定，適用于對精度要求高的長期校準(zhǔn)工作。
氦氣真空標(biāo)準(zhǔn)漏孔真空漏孔的選用主要包括以下幾個技術(shù)指標(biāo)：漏率值和示漏氣體：主要由檢漏工藝和需求決定，說明的是在檢漏儀內(nèi)置漏孔一般為2×10-8Pa.m3/s的氦漏率。漏孔泄漏方式，主要分為滲氦型和通道型。一般滲氦型漏孔主要用作帶氦氣室，并且氦氣漏率在（10-10～10-7）Pa.m3/s的標(biāo)準(zhǔn)漏孔，檢漏儀內(nèi)置漏孔大多采用該型號。通道型漏孔相對滲氦型漏孔，應(yīng)用會更廣，特別是非標(biāo)定制的模擬漏孔。還具有可以用高壓容器，溫度系數(shù)小等優(yōu)勢。是否帶氦氣/氫氮混合氣室。主要由標(biāo)準(zhǔn)漏孔使用方式?jīng)Q定。帶氦氣室具有漏率穩(wěn)定/恒定的特點，而不帶氦氣室往往用作模擬漏孔，模擬允許漏率指標(biāo)的被檢工件，用來保證檢漏系統(tǒng)的定量需求。接口方式和外形尺寸，是指氣源加壓端接口和漏氣端接口。主要根據(jù)漏孔使用方式確定。標(biāo)準(zhǔn)漏孔性能受環(huán)境壓力因素直接影響。
氦質(zhì)譜檢漏法氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)出現(xiàn)在第二次世界大戰(zhàn)中，經(jīng)過不斷的改進(jìn)發(fā)展，氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)已經(jīng)成為迄今靈敏、方便的檢漏手段。我國質(zhì)譜檢漏儀的檢測精度已經(jīng)達(dá)到了10-14Pa·m3/s，國外質(zhì)譜檢漏儀檢測精度達(dá)到了10-16Pa·m3/s。質(zhì)譜檢漏法的原理是利用不同質(zhì)荷比（m/e）的離子在磁場中受洛倫茲力不同而做圓周運動半徑不同的原理，將不同質(zhì)荷比的離子分開，在相應(yīng)半徑上收集到示蹤氣體，如果被檢件出現(xiàn)泄漏，則會檢測到示蹤氣體離子，再通過相應(yīng)計算得出漏率大小。氦氣在空氣中的含量低，又是惰性氣體，使其成為了常用的示蹤氣體。利用氦質(zhì)譜檢漏儀進(jìn)行檢漏的方法很多，較早的是噴吹法，以后逐漸出現(xiàn)了氦罩法、真空室法、檢漏盒法、真空室累積法、背壓法及前級泵出口采樣法等多種氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)方法。標(biāo)準(zhǔn)漏孔受氣流影響需穩(wěn)定狀態(tài)使用 。河南通道型標(biāo)準(zhǔn)漏孔技術(shù)
漏孔檢測前需明確檢測范圍及標(biāo)準(zhǔn)。常州正壓漏孔生產(chǎn)廠家
正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔，在正壓檢漏中,要考慮通過漏孔的質(zhì)量泄漏,更要考慮與環(huán)境的熱能交換。換言之，就是正壓檢漏及正壓漏孔校準(zhǔn)受溫度的影響較為嚴(yán)重。而真空檢漏壓力一般在1Pa及以下,受溫度影響小。正壓檢漏往往需要在不同的壓力條件下進(jìn)行，所以也必須對正壓漏孔在該條件下進(jìn)行校準(zhǔn)。而真空漏孔一般的校準(zhǔn)條件是進(jìn)口壓力為一個大氣壓，出口壓力為真空，狀態(tài)較為簡單。和真空檢漏一般使用氦氣不同，正壓檢漏往往可以使用氦氣、空氣、氮氣等氣體，所以需要用不同氣體對正壓漏孔進(jìn)行校準(zhǔn)。正是由于以上原因，對正壓漏孔的校準(zhǔn)技術(shù)提出了新的、更高的要求，需要進(jìn)一步開展研究工作，提出測量范圍寬，不確定度小的正壓漏孔校準(zhǔn)方法，研制校準(zhǔn)裝置。同時，真空漏孔和正壓漏孔的校準(zhǔn)是不同壓力條件下的漏率校準(zhǔn)，所以真空漏孔的校準(zhǔn)技術(shù)也很值得借鑒。常州正壓漏孔生產(chǎn)廠家