截止***，激光干涉儀引力波探測器已經(jīng)發(fā)展了40余年。 目前LIGO激光干涉儀實(shí)驗(yàn)宣稱***直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016) [7]。 LIGO可以認(rèn)為是兩路光線的干涉儀， 而另外一類引力波探測實(shí)驗(yàn)， 脈沖星測時(shí)陣列則可認(rèn)為是多路光線干涉儀（Hellings 和Downs, 1983） [8]。其他用作高分辨率光譜儀。法布里-珀**涉儀等多光束干涉儀具有很尖銳的干涉極大，因而有極高的光譜分辨率，常用作光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)和超精細(xì)結(jié)構(gòu)分析。歷史上的作用。19世紀(jì)的波動(dòng)論者認(rèn)為光波或電磁波必須在彈性介質(zhì)中才得以傳播，這種假想的彈性介質(zhì)稱為以太。即使不做細(xì)分也可達(dá)到μm量級(jí)，細(xì)分后更可達(dá)到nm量級(jí)。太倉銷售雙頻激光干涉儀性價(jià)比

邁克爾遜干涉儀（英文：Michelson interferometer）是光學(xué)干涉儀中最常見的一種，其發(fā)明者是美國物理學(xué)家阿爾伯特·亞伯拉罕·邁克爾遜。邁克耳遜干涉儀的原理是一束入射光經(jīng)過分光鏡分為兩束后各自被對(duì)應(yīng)的平面鏡反射回來，因?yàn)檫@兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同且相位差恒定（即滿足干涉條件），所以能夠發(fā)生干涉。干涉中兩束光的不同光程可以通過調(diào)節(jié)干涉臂長度以及改變介質(zhì)的折射率來實(shí)現(xiàn)，從而能夠形成不同的干涉圖樣。干涉條紋是等光程差的軌跡，因此，要分析某種干涉產(chǎn)生的圖樣，必需求出相干光的光程差位置分布的函數(shù)。太倉銷售雙頻激光干涉儀性價(jià)比激光器產(chǎn)生兩束頻率相近的激光（如利用塞曼效應(yīng)或聲光調(diào)制），頻率分別為f1和f2。

折射率測定兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導(dǎo)致光程差的改變，從而引起條紋移動(dòng)。瑞利干涉儀就是通過條紋移動(dòng)來對(duì)折射率進(jìn)行相對(duì)測量的典型干涉儀。應(yīng)用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來對(duì)氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。波長的測量任何一個(gè)以波長為單位測量標(biāo)準(zhǔn)米尺的方法也就是以標(biāo)準(zhǔn)米尺為單位來測量波長的方法。以國際米為標(biāo)準(zhǔn)，利用干涉儀可精確測定光波波長。法布里-珀**涉儀（標(biāo)準(zhǔn)具）曾被用來確定波長的初級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（鎘紅譜線波長）和幾個(gè)次級(jí)波長標(biāo)準(zhǔn)，從而通過比較法確定其他光譜線的波長。

8、激光干涉儀的光源——激光，具有**度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn)。9、激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用。1、儀器應(yīng)放置在干燥、清潔以及無振動(dòng)的環(huán)境中應(yīng)用。2、在移動(dòng)儀器時(shí)，為防止導(dǎo)軌變形，應(yīng)托住底座再進(jìn)行移動(dòng)。3、儀器的光學(xué)零件在不用時(shí)，應(yīng)在清潔干燥的器皿中進(jìn)行存放，以防止發(fā)霉。4、盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應(yīng)當(dāng)小心擦拭，利用科學(xué)的方法進(jìn)行清潔。干涉圖樣分析：通過觀察干涉條紋的變化，可以獲取關(guān)于物體形狀、厚度等信息。

檢驗(yàn)光學(xué)元件泰曼干涉儀被普遍用來檢驗(yàn)平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據(jù)干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評(píng)估透鏡的波像差。引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994) [4]。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯(lián)科學(xué)家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962） [5]。 1969年美國科學(xué)家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實(shí)驗(yàn)室建造初步的試驗(yàn)系統(tǒng)（Weiss 1972） [6]光束合并：兩束光在分束器后重新合并，形成干涉圖樣。太倉銷售雙頻激光干涉儀性價(jià)比

雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進(jìn)行干涉測量的儀器。太倉銷售雙頻激光干涉儀性價(jià)比

激光平面干涉儀是基于菲索干涉原理設(shè)計(jì)的光學(xué)精密計(jì)量儀器，主要用于檢測光學(xué)元件表面面形精度和光學(xué)材料的均勻性 [1] [3-4]。該設(shè)備測量精度可達(dá)到1/10-1/100波長量級(jí)，采用半導(dǎo)體激光器（635nm）作為光源，具有防塵效果好、結(jié)構(gòu)緊湊等特點(diǎn)，適用于光學(xué)車間、實(shí)驗(yàn)室等場景的批量檢測 [3-4]。上海乾曜光學(xué)科技有限公司與北京海富達(dá)科技有限公司均具備相關(guān)生產(chǎn)能力，其中G150M、G200M及60-LP等型號(hào)產(chǎn)品采用標(biāo)準(zhǔn)化測量口徑設(shè)計(jì)，可滿足不同使用場景需求 [2-4]。截至2025年，相關(guān)企業(yè)產(chǎn)品已服務(wù)國內(nèi)外科研院所及工業(yè)企業(yè) [2]。太倉銷售雙頻激光干涉儀性價(jià)比

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