可選AWG/TMU/Digitizer：混合信號(hào)的“全能工具箱” 杭州國磊GT600支持選配AWG（任意波形發(fā)生器）、TMU（時(shí)間測量單元）和Digitizer（數(shù)字化儀），使其從“數(shù)字測試機(jī)”升級(jí)為“混合信號(hào)測試平臺(tái)”。AWG可生成正弦波、三角波、噪聲等任意波形，用于測試手機(jī)SoC的ISP圖像處理、音頻編解碼性能，THD低至-122dB，信號(hào)純凈度媲美**儀器。TMU具備10ps時(shí)間分辨率，可精確測量5G基帶信號(hào)的抖動(dòng)與延遲，保障通信質(zhì)量。Digitizer則能高速采樣模擬信號(hào)，用于驗(yàn)證傳感器接口、電源紋波等。在測試一顆集成了攝像頭、麥克風(fēng)、藍(lán)牙的IoT芯片時(shí)，杭州國磊GT600可同時(shí)激勵(lì)數(shù)字邏輯、注入模擬信號(hào)、采集響應(yīng)波形，實(shí)現(xiàn)全功能閉環(huán)驗(yàn)證。這套“工具箱”讓杭州國磊GT600能應(yīng)對日益復(fù)雜的混合信號(hào)SoC，無需外接多臺(tái)設(shè)備，節(jié)省空間與成本。國磊GT600SoC測試機(jī)512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。長沙PCB測試系統(tǒng)精選廠家

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 常州PCB測試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家國磊GT600通過SMU或Digitizer監(jiān)測目標(biāo)電源域電壓，若在門控關(guān)閉后電壓仍維持非零值，表明電源未真正切斷。

現(xiàn)代AI芯片集成度極高，動(dòng)輒擁有上千引腳，傳統(tǒng)測試設(shè)備因通道數(shù)量不足，往往需分時(shí)復(fù)用或多輪測試，不僅效率低下，還可能遺漏關(guān)鍵時(shí)序問題。杭州國磊GT600比較高支持2048個(gè)數(shù)字通道，可一次性完成全引腳并行測試，確保高速數(shù)據(jù)總線、多核NPU互連、HBM內(nèi)存接口等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的功能完整性與時(shí)序一致性。這一能力對寒武紀(jì)、壁仞、燧原等國產(chǎn)AI芯片企業(yè)尤為重要。在大模型訓(xùn)練芯片追求***帶寬與低延遲的***，GT600的高通道密度成為驗(yàn)證真實(shí)工作負(fù)載下系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵工具，大幅縮短芯片從流片到量產(chǎn)的周期，助力國產(chǎn)AI算力快速落地?cái)?shù)據(jù)中心與邊緣場景。

每通道PPMU：芯片健康的“精密聽診器” 。杭州國磊GT600的每通道集成PPMU（參數(shù)測量單元），是其高精度測試的**。PPMU可在FVMI（強(qiáng)制電壓測電流）模式下，精確測量nA級(jí)靜態(tài)漏電流（Iddq），相當(dāng)于檢測每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流。在手機(jī)芯片測試中，這能識(shí)別因工藝缺陷導(dǎo)致的“待機(jī)耗電”問題，確保續(xù)航達(dá)標(biāo)。在FIMV（強(qiáng)制電流測電壓）模式下，可驗(yàn)證電源調(diào)整率，防止芯片在高負(fù)載下電壓跌落導(dǎo)致死機(jī)。PPMU還支持快速哨兵測試（Quick Sentinel），在毫秒內(nèi)完成所有引腳的開路/短路檢測，大幅提升初篩效率。對于AI芯片，PPMU可逐核測量功耗，篩選出“能效比較好”**。這一“每引腳級(jí)”測量能力，讓杭州國磊GT600成為芯片可靠性的“***守門人”。國磊GT600可測GPU類AI加速芯片如國產(chǎn)GPU（如風(fēng)華）多電源域管理、顯示接口、高精度ADC/DAC及低功耗模式。

    杭州國磊（Guolei）的GT600SoC測試系統(tǒng)本質(zhì)上是一款面向高性能系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）量產(chǎn)與工程驗(yàn)證的自動(dòng)測試設(shè)備（ATE），其**能力聚焦于高精度數(shù)字、模擬及混合信號(hào)測試。雖然該設(shè)備本身并非為量子計(jì)算設(shè)計(jì)，但在當(dāng)前科技融合加速發(fā)展的背景下，國磊SoC測試系統(tǒng)確實(shí)可以在特定環(huán)節(jié)與量子科技產(chǎn)生間接但重要的聯(lián)系。量子芯片控制與讀出電路的測試需求，目前實(shí)用化的量子處理器（如超導(dǎo)量子比特、硅基自旋量子比特）本身無法**工作，必須依賴大量經(jīng)典控制電子學(xué)模塊——包括高速任意波形發(fā)生器（AWG）、低噪聲放大器、高精度數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器（DAC/ADC）以及低溫CMOS讀出電路。這些**控制芯片多為定制化SoC或ASIC，需在極端條件下（如低溫、低噪聲）進(jìn)行功能與參數(shù)驗(yàn)證。國磊（Guolei）GT600配備的高精度AWG板卡（THD達(dá)-122dB）、24位混合信號(hào)測試能力及GT-TMUHA04時(shí)間測量單元（10ps分辨率），恰好可用于驗(yàn)證這類量子控制芯片的信號(hào)保真度、時(shí)序同步性與電源完整性，從而間接支撐量子系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行。 國磊GT600數(shù)字通道邊沿精度100ps，確保模擬IC控制信號(hào)（如Enable、Reset）的建立與保持時(shí)間精確驗(yàn)證。贛州PCB測試系統(tǒng)供應(yīng)

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HBM的集成不****是帶寬提升，更帶來了復(fù)雜的混合信號(hào)測試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號(hào)完整性、電源噪聲、時(shí)序?qū)R（Skew）等問題，直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國磊GT600測試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計(jì)，支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡，實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測試。例如，通過GT-TMUHA04（10ps分辨率）精確測量HBM接口時(shí)序偏差，利用GT-AWGLP02（-122dBTHD）生成純凈激勵(lì)信號(hào)，**驗(yàn)證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問題系統(tǒng)化解決，為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號(hào)的**測試保障，確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時(shí)代的嚴(yán)苛考驗(yàn)。長沙PCB測試系統(tǒng)精選廠家