GT600每通道集成PPMU，具備nA級電流分辨率。在電源門控測試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號（PG_EN）關(guān)閉后，測量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開關(guān)未完全關(guān)斷導致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時監(jiān)測主電源域與被門控電源域的電流。測試時，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標模塊的電源門控信號，通過對比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動（通過探針臺接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進行測試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過GTFY軟件系統(tǒng)編寫C++腳本，可自動化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時穩(wěn)定（如10ms）；啟動PPMU進行電流采樣；重復多次以驗證一致性。該流程確保測試可重復，并能捕捉間歇性漏電。立即聯(lián)系我們，獲取專屬的產(chǎn)品演示與報價。國產(chǎn)替代導電陽極絲測試系統(tǒng)廠商

對于時間測量要求極高的場景（如ADAS傳感器信號），杭州國磊GT600可選配高精度TMU（時間測量單元，分辨率10ps），精確捕捉信號延遲與抖動，確保通信實時性。 再次，GT600支持混合信號測試。 現(xiàn)代車規(guī)芯片（如智能座艙、域控制器SoC）集成了CPU、GPU、ISP、音頻編解碼等模塊。國磊GT600通過可選AWG板卡生成高保真模擬信號，測試攝像頭ISP的圖像處理能力；通過高速數(shù)字通道驗證CAN-FD、Ethernet等通信接口功能。 ***，國磊GT600的512站點并行測試能力，大幅提升了車規(guī)芯片的量產(chǎn)效率，降低了單顆測試成本，助力國產(chǎn)車規(guī)芯片快速上車。國產(chǎn)GEN3測試系統(tǒng)市場價格超寬的電阻測試范圍，從10^4Ω至10^14Ω全覆蓋。

    2025年云棲大會以“云智一體·碳硅共生”為主題，強調(diào)AI與實體產(chǎn)業(yè)的深度融合。在這一圖景中，SoC測試機如國磊GT600正扮演著“碳基世界與硅基智能”之間的關(guān)鍵橋梁角色。AI大模型、Agent與具身智能的落地，**終都依賴于高性能SoC芯片的支撐——無論是云端服務(wù)器的AI加速器，還是終端設(shè)備的智能處理器。然而，再先進的芯片設(shè)計，若無法通過高精度、高效率的測試，便無法實現(xiàn)量產(chǎn)與應(yīng)用。國磊GT600等SoC測試機正是確保這些“智能硅基大腦”功能完整、性能達標、功耗可控的“***質(zhì)檢官”?！疤脊韫采币馕吨摂M智能（碳基信息）與物理芯片（硅基載體）的協(xié)同進化。國磊GT600可以通過400MHz高速測試、PPMU精密參數(shù)測量、混合信號驗證等能力，保障AI芯片在真實場景中穩(wěn)定運行，推動大模型從云端走向終端。同時，其高同測能力與低功耗設(shè)計，也契合綠色計算與智能制造的可持續(xù)發(fā)展目標?？梢哉f，沒有可靠的SoC測試，AI的產(chǎn)業(yè)落地就如同無源之水。在云棲大會展現(xiàn)的智能未來背后，國磊GT600這樣的SoC測試設(shè)備，正是讓“云智”真正“共生”的底層基石。

杭州國磊GT600 SoC測試機在車規(guī)芯片測試中扮演著“全生命周期可靠性衛(wèi)士”的關(guān)鍵角色，其應(yīng)用貫穿從研發(fā)驗證到量產(chǎn)的全過程，精細滿足AEC-Q100等嚴苛標準。 首先，國磊GT600的**優(yōu)勢在于其高精度參數(shù)測量能力。 其每通道集成的PPMU（參數(shù)測量單元）可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），這是車規(guī)芯片的**指標。微小漏電可能在高溫或長期使用后演變?yōu)楣δ苁?，國磊GT600通過精密篩查，確保芯片在-40℃至150℃寬溫域內(nèi)“零漏電”，大幅提升產(chǎn)品早期可靠性。 其次，國磊GT600***支持AEC-Q100關(guān)鍵測試項目。 在高溫工作壽命測試（HTOL）中，國磊GT600可配合溫控系統(tǒng)，在150℃高溫下對芯片施加高壓并連續(xù)運行1000小時以上，驗證其長期穩(wěn)定性。其浮動SMU電源板卡能精細模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元（PMU）在電壓波動、負載突變下的響應(yīng)能力，防止“掉電重啟”。低功耗SoC應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。

杭州國磊GT600 SoC測試機憑借其高精度、高可靠性與混合信號測試能力，特別適用于對安全性和穩(wěn)定性要求極高的**醫(yī)療設(shè)備芯片的測試。以下幾類關(guān)鍵芯片非常適合使用杭州國磊GT600進行驗證： 1. 醫(yī)用SoC與微控制器（MCU） 現(xiàn)代醫(yī)療設(shè)備（如便攜式超聲儀、智能監(jiān)護儀、血糖儀）的**是集成了CPU、ADC、DAC、無線通信模塊的SoC或MCU。國磊GT600可***驗證其數(shù)字邏輯功能，并通過可選AWG和Digitizer板卡，精確測試模擬前端（AFE）對生物電信號（如心電ECG、腦電EEG）的采集精度與噪聲抑制能力，確保測量數(shù)據(jù)真實可靠。 2. 高精度模擬與混合信號芯片 醫(yī)療設(shè)備依賴高精度ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）和DAC（數(shù)模轉(zhuǎn)換器）進行信號轉(zhuǎn)換。國磊GT600的PPMU可精確測量nA級漏電流，防止信號漂移；其高精度TMU和可選AWG能生成標準生理信號波形，驗證ADC的線性度、信噪比（SNR）等關(guān)鍵參數(shù)，確保血壓、血氧等測量值符合醫(yī)療級標準。國磊GT600的128M向量存儲深度，支持長時間采集模擬信號動態(tài)行為，適用于鎖相環(huán)（PLL）、振蕩器等測試。廣州CAF測試系統(tǒng)廠家直銷

國磊GT600SoC測試機可驗證電源門控（PowerGating）開關(guān)的漏電控制效果。國產(chǎn)替代導電陽極絲測試系統(tǒng)廠商

國磊GT600測試機的100ps邊沿精度與10ps分辨率TMU，可精確測量低功耗狀態(tài)切換延遲與喚醒時間，確保實時響應(yīng)性能。此外，GT600支持20/24bitAWG與Digitizer，可用于集成在低功耗SoC中的高精度ADC/DAC、傳感器接口電路的動態(tài)參數(shù)測試（如SNR、THD）。其32/64/128M向量存儲深度支持復雜低功耗狀態(tài)機的序列測試，而512Sites高并行測試能力則**降低單位測試成本，滿足物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場景的需求。綜上所述，現(xiàn)代工藝節(jié)點與充足資金確實使低功耗SoC能夠覆蓋更**的用例，但其設(shè)計復雜度的提升也對測試設(shè)備提出了更高要求。國磊GT600測試機憑借其高精度模擬測量能力、靈活的混合信號支持、高并行架構(gòu)與開放軟件平臺，不**能夠驗證低功耗SoC的功能正確性，更能深入評估其在先進工藝下的功耗行為與可靠性，成為支撐低功耗SoC從設(shè)計到量產(chǎn)落地的關(guān)鍵測試基礎(chǔ)設(shè)施。國產(chǎn)替代導電陽極絲測試系統(tǒng)廠商