可穿戴設(shè)備的“微功耗**” AI眼鏡、智能手表等可穿戴設(shè)備依賴電池供電，對SoC功耗極其敏感。一顆芯片若待機(jī)漏電超標(biāo)，可能導(dǎo)致設(shè)備“一天三充”。杭州國磊GT600的PPMU可精確測量nA級靜態(tài)電流（Iddq），相當(dāng)于每秒流過數(shù)億個(gè)電子的微小電流，能識別芯片內(nèi)部的“隱形漏電點(diǎn)”。通過FVMI模式，杭州國磊GT600可在不同電壓下測試芯片功耗，驗(yàn)證其電源門控（Power Gating）與休眠喚醒機(jī)制是否有效。其高精度測量能力確保只有“省電體質(zhì)”的芯片進(jìn)入量產(chǎn)。同時(shí)，杭州國磊GT600支持混合信號測試，可驗(yàn)證傳感器融合、語音喚醒等低功耗功能。在追求“輕薄長續(xù)航”的可穿戴市場，杭州國磊GT600以“微電流級”檢測能力，為國產(chǎn)芯片的用戶體驗(yàn)提供底層保障。國磊GT600測試機(jī)模塊化16插槽架構(gòu)可同時(shí)集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實(shí)現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。金華PCB測試系統(tǒng)參考價(jià)

每一部智能手機(jī)的**都是一顆名為SoC的“超級大腦”。以蘋果為例，每一代iPhone都搭載自研的A系列或M系列芯片（如A18、M4）。這顆芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基帶、內(nèi)存控制器等數(shù)十個(gè)模塊。但這顆芯片在量產(chǎn)前，必須經(jīng)歷SoC測試機(jī)成千上萬次的測試。比如功能驗(yàn)證：檢查芯片的每一個(gè)邏輯門是否正常工作。當(dāng)你用iPhone拍照時(shí)，ISP是否能正確處理圖像？A18芯片的NPU是否能準(zhǔn)確識別人臉？國磊GT600芯片測試機(jī)會(huì)模擬各種使用場景，輸入測試向量，驗(yàn)證輸出結(jié)果。性能篩選：國磊GT600SoC芯片測試機(jī)會(huì)進(jìn)行速度分級測試，將芯片分為不同等級。只有通過最高速度測試的芯片，才會(huì)被用于旗艦機(jī)型。功耗與漏電檢測：手機(jī)續(xù)航至關(guān)重要。國磊GT600芯片測試機(jī)的PPMU能精確測量芯片的靜態(tài)電流（Iddq），確保待機(jī)時(shí)不“偷電”，避免手機(jī)“一天三充”?？煽啃员Ｕ希涸跇O端溫度、電壓下運(yùn)行芯片，篩選出可能早期失效的“弱雞芯片”。國磊GT600芯片測試機(jī)支持老化測試，確保每一顆裝進(jìn)iPhone的芯片都經(jīng)得起長期使用?；旌闲盘枩y試：現(xiàn)代SoC不僅有數(shù)字電路，還有大量模擬模塊（如音頻編解碼、電源管理）。國磊GT600芯片測試機(jī)可選配AWG和TMU，精確測試這些模擬功能，確保通話清晰、充電穩(wěn)定。國產(chǎn)替代高阻測試系統(tǒng)供應(yīng)低功耗SoC應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)、可穿戴設(shè)備等高量產(chǎn)場景。國磊GT600支持512Sites并行測試，降低芯片的測試成本。

AI芯片的可靠性不僅取決于邏輯功能正確，更在于能否在復(fù)雜算法流下穩(wěn)定運(yùn)行。GT600每通道提供高達(dá)128M的向量存儲深度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，使得測試工程師能夠加載完整的Transformer推理序列、CNN圖像處理流程甚至輕量化大模型的執(zhí)行軌跡進(jìn)行回放測試。這種“場景級驗(yàn)證”能有效捕獲傳統(tǒng)短向量測試難以發(fā)現(xiàn)的邊界異常、緩存***或功耗尖峰。對于強(qiáng)腦科技、宇樹科技等開發(fā)**AI硬件的企業(yè)而言，GT600提供的不僅是功能覆蓋，更是對實(shí)際使用環(huán)境的高度模擬，從而***提升產(chǎn)品魯棒性，降低售后故障率，真正實(shí)現(xiàn)“測得準(zhǔn)、用得穩(wěn)”。

    1.高邊沿精度保障高速接口時(shí)序合規(guī)性?，F(xiàn)代智能駕駛SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于連接傳感器與**計(jì)算單元。這些接口對信號邊沿時(shí)序要求極為嚴(yán)苛。杭州國磊GT600具備100ps的向量邊沿放置精度，能夠精確模擬高速信號的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕獲實(shí)際輸出波形，驗(yàn)證眼圖、抖動(dòng)與建立/保持時(shí)間是否符合協(xié)議規(guī)范。這種高精度時(shí)序控制能力，是確保車載高速通信鏈路穩(wěn)定性的關(guān)鍵測試手段。開放式軟件生態(tài)賦能定制化測試開發(fā)。杭州國磊GT600采用基于VisualStudio與C++的開放式GTFY編程環(huán)境，允許客戶根據(jù)自身芯片特性開發(fā)定制化測試流程。對于智能駕駛芯片廠商而言，這意味著可將內(nèi)部驗(yàn)證方法論（如ISO26262功能安全測試用例）直接嵌入測試程序，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化安全機(jī)制驗(yàn)證。同時(shí)，圖形化數(shù)據(jù)顯示與用戶管理界面便于測試工程師快速定位故障引腳或模塊，大幅提升調(diào)試效率，縮短芯片迭代周期。 國磊GT600高密度集成設(shè)計(jì)降低系統(tǒng)體積，適配探針臺有限空間下的模擬晶圓測試（CP）應(yīng)用。

現(xiàn)代手機(jī)SoC普遍集成ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于傳感器融合、音頻處理和電源管理。GT600支持GT-AWGLP02（THD-122dB）和高分辨率Digitizer板卡，可用于AI驅(qū)動(dòng)的語音識別、圖像信號處理鏈路的動(dòng)態(tài)性能測試。其20/24bit分辨率支持INL、DNL、SNR等關(guān)鍵指標(biāo)的精確測量，確保端側(cè)AI感知系統(tǒng)的信號完整性。國磊GT600測試機(jī)的16插槽模塊化架構(gòu)允許數(shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從CPU到NPU再到模擬前端的一站式測試，避免多設(shè)備切換帶來的效率損失與數(shù)據(jù)割裂。
國磊GT600支持單一部署的NPU芯片如寒武紀(jì)、天璣NPU低功耗狀態(tài)機(jī)、喚醒延遲、靜態(tài)電流與混合信號接口驗(yàn)證。吉安CAF測試系統(tǒng)參考價(jià)

GM8800系統(tǒng)性能穩(wěn)定，操作便捷，極大地滿足客戶需求。金華PCB測試系統(tǒng)參考價(jià)

國磊（Guolei）的SoC測試機(jī)（如GT600）雖然主要面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）的數(shù)字、模擬及混合信號測試，但其技術(shù)能力與MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）領(lǐng)域存在多維度、深層次的聯(lián)系。盡管MEMS器件本身結(jié)構(gòu)特殊（包含機(jī)械微結(jié)構(gòu)、傳感器/執(zhí)行器等），但在實(shí)際應(yīng)用中，絕大多數(shù)MEMS芯片都需與**ASIC或SoC集成封裝（如慣性測量單元IMU、麥克風(fēng)、壓力傳感器等），而這些配套電路的測試正是國磊SoC測試機(jī)的**應(yīng)用場景。MEMS-ASIC協(xié)同封裝的測試需求，現(xiàn)代MEMS產(chǎn)品極少以“裸傳感器”形式存在，通常采用MEMS+ASIC的異質(zhì)集成方案。例如，加速度計(jì)/陀螺儀中的MEMS結(jié)構(gòu)負(fù)責(zé)感知物理量，而配套的ASIC則完成信號調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換、溫度補(bǔ)償和數(shù)字接口輸出。這類ASIC往往具備高精度模擬前端（如低噪聲放大器、Σ-Δ ADC）、可編程增益控制和I2C/SPI數(shù)字接口，屬于典型的混合信號SoC。 國磊GT600配備24位高精度AWG/Digitizer板卡、PPMU每引腳參數(shù)測量單元及TMU時(shí)間測量功能，可***驗(yàn)證此類MEMS配套ASIC的線性度、噪聲性能、時(shí)序響應(yīng)和電源抑制比，確保傳感器整體精度與可靠性。金華PCB測試系統(tǒng)參考價(jià)