AI芯片在推理或訓(xùn)練突發(fā)負(fù)載下，電流可在微秒級劇烈波動，易引發(fā)電壓塌陷（VoltageDroop）。國磊GT600SoC測試機支持高采樣率動態(tài)電流監(jiān)測，可捕獲電源門控開啟瞬間的浪涌電流（InrushCurrent）與工作過程中的瞬態(tài)功耗波形，幫助設(shè)計團隊優(yōu)化去耦電容布局與電源完整性（PI）設(shè)計。其128M向量響應(yīng)存儲深度支持長時間功耗行為記錄，用于分析AI工作負(fù)載的能耗模式?，F(xiàn)代AISoC集成CPU、NPU、HBM、SerDes等模塊，引腳數(shù)常超2000。國磊GT600支持**2048個數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋AI芯片的I/O接口功能驗證。其512Sites高并行測試架構(gòu)**提升測試吞吐量，降低單顆芯片測試成本，滿足AI服務(wù)器芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求。
國磊GT600在電源門控測試中，通過其高精度測量能力與靈活測試架構(gòu)，適配成熟到先進節(jié)點的工藝制程。廣東PCB測試系統(tǒng)工藝

AI大模型芯片的“算力守門人” 在AI大模型驅(qū)動算力**的***，國產(chǎn)AI芯片（如寒武紀(jì)、壁仞）正加速替代英偉達GPU。然而，這些芯片內(nèi)部集成了數(shù)千個AI**與高速互聯(lián)總線，其功能復(fù)雜度與功耗控制要求極高。杭州國磊GT600 SoC測試機憑借400MHz測試速率與128M向量深度，可完整運行復(fù)雜的AI推理算法測試向量，驗證NPU在真實負(fù)載下的計算精度與吞吐能力。其高精度PPMU能精確測量芯片在待機、輕載、滿載等多場景下的動態(tài)電流，確?！懊客咛厮懔Α边_標(biāo)。同時，杭州國磊GT600支持512站點并行測試，大幅提升量產(chǎn)效率，降低單顆芯片測試成本，為AI芯片大規(guī)模部署數(shù)據(jù)中心提供堅實支撐?？梢哉f，杭州國磊GT600不僅是AI芯片的“質(zhì)檢員”，更是其從實驗室走向萬卡集群的“量產(chǎn)加速器”。金門PCB測試系統(tǒng)定制價格國磊GT600SoC測試機通過地址/數(shù)據(jù)生成器驗證片上存儲器（RAM/ROM）或寄存器配置接口完成ALPG測試。

杭州國磊GT600支持比較高400MHz測試速率，意味著每秒可執(zhí)行4億次信號激勵與采樣，這是驗證現(xiàn)代高速SoC的基石。在智能手機場景中，麒麟芯片的LPDDR5內(nèi)存接口、PCIe 4.0存儲總線、USB4高速傳輸均工作在GHz級頻率。GT600的400MHz速率雖非直接運行在接口全速，但足以覆蓋其協(xié)議層的功能測試與時序驗證。通過“降頻測試+向量仿真”，GT600能精確捕捉信號邊沿、驗證數(shù)據(jù)完整性。在AI芯片測試中，該速率可驅(qū)動NPU**進行高吞吐矩陣運算測試，確保算力達標(biāo)。400MHz還支持復(fù)雜狀態(tài)機跳轉(zhuǎn)、多模塊協(xié)同仿真，避免因測試速率不足導(dǎo)致功能覆蓋缺失。這一參數(shù)使GT600能勝任從5G通信到邊緣計算的各類高速芯片驗證，成為國產(chǎn)**SoC量產(chǎn)的“***道高速關(guān)卡”。

手機續(xù)航是用戶體驗的生命線，而功耗控制的**在于SoC芯片的“健康度”與“效率”。國磊GT600憑借其每通道**PPMU（精密參數(shù)測量單元），可對芯片每個引腳進行nA（納安）級靜態(tài)電流（Iddq）測量，相當(dāng)于為芯片做“微電流心電圖”，精細識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電——這些“隱形耗電大戶”在待機時也會悄悄吞噬電量。通過篩查剔除“高漏電”芯片，國磊GT600確保只有“省電體質(zhì)”的質(zhì)量芯片進入量產(chǎn)。不僅如此，國磊GT600支持FVMI（強制電壓測電流）模式，可在不同電壓條件下模擬真實使用場景——如游戲高負(fù)載、多攝像頭同時工作、5G高速下載等——動態(tài)測量芯片功耗曲線，驗證其電源管理單元是否能智能調(diào)節(jié)電壓頻率，實現(xiàn)性能與功耗的比較好平衡。同時，其FIMV（強制電流測電壓）模式還能檢測芯片在極限負(fù)載下的電壓跌落，防止因供電不穩(wěn)導(dǎo)致死機或重啟。通過靜態(tài)+動態(tài)、微觀+宏觀的功耗全景測試，國磊GT600可以為國產(chǎn)手機SoC筑起“續(xù)航防火墻”，讓每一毫安時電量都用在刀刃上?，F(xiàn)代低功耗SoC普遍采用動態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)以平衡性能與能耗。國磊GT600可通過使用SMU動態(tài)切換供電電壓。

隨著智能手機進入AI時代，SoC的競爭已從單一CPU性能轉(zhuǎn)向“CPU+GPU+NPU”三位一體的綜合算力比拼。Counterpoint數(shù)據(jù)顯示，天璣9000系列憑借在AI能力上的前瞻布局，2024年出貨量同比增長60%，預(yù)計2025年將再翻一番。這一成就的背后，不**是架構(gòu)設(shè)計的**，更是對NPU（神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元）和AI工作負(fù)載深度優(yōu)化的結(jié)果。而這類高度集成的AISoC，對測試設(shè)備提出了前所未有的挑戰(zhàn)：高引腳數(shù)、多電源域、復(fù)雜時序、低功耗模式、混合信號模塊等，均需在量產(chǎn)前完成**驗證。國磊GT600測試機正是為此類**手機SoC量身打造的測試平臺，具備從功能到參數(shù)、從數(shù)字到模擬的全棧測試能力。國磊GT600可驗證電源門控（PowerGating）開關(guān)的漏電控制效果。國產(chǎn)替代高阻測試系統(tǒng)價格

國磊GT600SoC測試機通過加載Pattern，驗證SoC邏輯（如CPU、NPU、DSP）的功能正確性與邏輯測試及向量測試。廣東PCB測試系統(tǒng)工藝

智能汽車芯片的“安全衛(wèi)士” 隨著比亞迪、蔚來、小鵬等車企加速自研芯片，車規(guī)級MCU、功率半導(dǎo)體需求激增。這些芯片必須通過AEC-Q100等嚴(yán)苛認(rèn)證，確保在-40℃~150℃極端環(huán)境下穩(wěn)定運行十年以上。杭州國磊GT600憑借每通道PPMU，可精確測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別因制造缺陷導(dǎo)致的微小漏電，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片。其浮動SMU電源板卡可模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證電源管理單元在電壓波動、負(fù)載突變下的穩(wěn)定性，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。杭州國磊GT600還支持高溫老化測試（Burn-in）接口，配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在“安全至上”的汽車電子領(lǐng)域，杭州國磊GT600以“微電流級檢測+真實工況模擬”，為每一程出行筑起安全防線。廣東PCB測試系統(tǒng)工藝