天璣9000系列集成了高性能CPU集群與**NPU,支持多模態(tài)AI推理、端側(cè)大模型運(yùn)行,其芯片內(nèi)部信號(hào)復(fù)雜度遠(yuǎn)超傳統(tǒng)SoC。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持**2048個(gè)數(shù)字通道和400MHz測(cè)試速率,可完整覆蓋天璣類SoC的高并發(fā)I/O接口測(cè)試需求。其32/64/128M向量存儲(chǔ)深度支持復(fù)雜AI指令序列的Pattern加載,確保NPU功能邏輯的完整驗(yàn)證。更關(guān)鍵的是,GT600支持512Sites高并行測(cè)試,**提升測(cè)試吞吐量,降低單顆芯片測(cè)試成本,滿足手機(jī)SoC大規(guī)模量產(chǎn)的效率要求。在AI芯片“拼性能、拼量產(chǎn)”的競(jìng)爭(zhēng)中,國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)為國(guó)產(chǎn)SoC廠商提供了高效、穩(wěn)定的測(cè)試保障。國(guó)磊GT600支持Access、Excel、CSV數(shù)據(jù)導(dǎo)出,便于模擬測(cè)試數(shù)據(jù)的曲線擬合與工藝偏差分析。杭州國(guó)磊CAF測(cè)試系統(tǒng)行價(jià)

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司推出的GM8800導(dǎo)電陽(yáng)極絲(CAF)測(cè)試系統(tǒng),是國(guó)產(chǎn)設(shè)備在**可靠性測(cè)試領(lǐng)域挑戰(zhàn)并超越國(guó)際品牌的力證。該系統(tǒng)具備超高的256通道測(cè)試容量,電阻測(cè)量范圍橫跨10^4~10^14Ω,精度可靠,能夠高效、精細(xì)地評(píng)估PCB、基板、封裝體、絕緣材料等在高溫高濕和直流電場(chǎng)下的絕緣可靠性,精確捕捉離子遷移導(dǎo)致的失效。GM8800提供從1.0V到3000V的寬范圍偏置電壓選擇,內(nèi)置精密電源精度達(dá)±0.05V(100VDC內(nèi)),外接高壓穩(wěn)定,電壓上升速率快,并允許用戶自定義測(cè)試電壓的穩(wěn)定時(shí)間(1~600秒),以滿足不同標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)處理要求。系統(tǒng)集成高精度電流檢測(cè)(0.1μA~500μA)和溫濕度傳感器,數(shù)據(jù)采集***,并通過(guò)完全屏蔽的低噪聲測(cè)量線纜保障信號(hào)質(zhì)量。配套軟件功能強(qiáng)大,提供自動(dòng)化測(cè)試流程、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)可視化、趨勢(shì)分析、報(bào)警管理和報(bào)告生成,并支持遠(yuǎn)程訪問(wèn)。在系統(tǒng)保護(hù)方面,具備***的硬件與軟件報(bào)警機(jī)制和斷電續(xù)航選項(xiàng)。與英國(guó)進(jìn)口GEN3系統(tǒng)相比,GM8800在**功能與性能上實(shí)現(xiàn)***對(duì)標(biāo),更在通道數(shù)量、購(gòu)置成本、維護(hù)費(fèi)用以及定制化服務(wù)響應(yīng)速度上占據(jù)明顯優(yōu)勢(shì),正成為國(guó)內(nèi)**制造業(yè)替代進(jìn)口、實(shí)現(xiàn)自主可控的優(yōu)先測(cè)試平臺(tái)。CAF測(cè)試GT600通過(guò)高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)捕獲電流波形,若峰值電流超過(guò)安全閾值,可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。

在現(xiàn)代手機(jī)SoC中,高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲(chǔ)、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)龋殉蔀樾阅芷款i的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其協(xié)議復(fù)雜、時(shí)序嚴(yán)苛,對(duì)測(cè)試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國(guó)磊GT600支持400MHz測(cè)試速率,可精細(xì)模擬高速信號(hào)邊沿與時(shí)鐘同步,確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作;其128M超大向量深度,足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長(zhǎng)周期測(cè)試用例,避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測(cè)試中斷或覆蓋不全,真正實(shí)現(xiàn)“一次加載,全程跑完”,保障功能驗(yàn)證的完整性與可靠性。
天璣9000系列的成功,標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)手機(jī)SoC在AI賽道的**崛起。而其背后,離不開(kāi)從設(shè)計(jì)、制造到測(cè)試驗(yàn)證的完整產(chǎn)業(yè)鏈支撐。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其高通道密度、高并行能力、混合信號(hào)支持與開(kāi)放C++軟件架構(gòu),已成為**SoC測(cè)試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它不**支持STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式輸出,便于良率分析與AI模型訓(xùn)練反饋,還可通過(guò)GPIB/TTL接口與探針臺(tái)、分選機(jī)聯(lián)動(dòng),構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測(cè)試流程。選擇國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī),就是選擇一條高效、自主、面向AI時(shí)代的SoC測(cè)試之路。GM8800導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng),**檢測(cè)電路絕緣劣化,支持高達(dá)256通道并行測(cè)試。

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800多通道絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)是專為苛刻的可靠性測(cè)試環(huán)境而設(shè)計(jì)的精密儀器。該系統(tǒng)以16通道為模塊,可靈活堆疊至256通道,實(shí)現(xiàn)大規(guī)模、高效率的絕緣電阻監(jiān)測(cè),其測(cè)量范圍寬廣(10^4~10^14Ω),精度在不同阻值區(qū)間均得到嚴(yán)格控制,能夠滿足從普通電子元件到特種絕緣材料的高阻測(cè)試需求。GM8800提供精確且穩(wěn)定的電壓激勵(lì)源,內(nèi)置0V~±100V,外接高達(dá)3000V,電壓輸出精度高,步進(jìn)調(diào)節(jié)細(xì)膩,并具備快速的電壓建立能力,確保測(cè)試應(yīng)力施加的準(zhǔn)確性和一致性。系統(tǒng)支持用戶自定義測(cè)試間隔(1~600分鐘)和總測(cè)試時(shí)間(1~9999小時(shí)),并集成實(shí)時(shí)環(huán)境監(jiān)測(cè)與多維度安全報(bào)警功能(包括低阻、測(cè)試中斷、溫濕度異常、電壓超限、AC電源故障、軟件異常等),可選配UPS提供斷電保護(hù)。其智能軟件系統(tǒng)集控制、采集、分析、遠(yuǎn)程監(jiān)控于一體,操作直觀,功能***。相較于傳統(tǒng)的進(jìn)口設(shè)備如英國(guó)GEN3,GM8800在提供同等前列測(cè)量性能的同時(shí),***降低了設(shè)備的綜合擁有成本,并且憑借本地化的研發(fā)與支持團(tuán)隊(duì),能夠提供更快速、更貼近用戶實(shí)際應(yīng)用需求的技術(shù)服務(wù)與解決方案,廣泛應(yīng)用于新能源汽車、光伏儲(chǔ)能、通信設(shè)備、航空航天等領(lǐng)域的絕緣可靠性驗(yàn)證與質(zhì)量保證活動(dòng)。您的產(chǎn)品需要經(jīng)歷高溫高濕環(huán)境的考驗(yàn)嗎?國(guó)磊高阻測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商
國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)通過(guò)PPMU測(cè)量芯片在不同電源域下的靜態(tài)電流,精度達(dá)nA級(jí),適用于低功耗模式驗(yàn)證。杭州國(guó)磊CAF測(cè)試系統(tǒng)行價(jià)
AI眼鏡作為下一代可穿戴計(jì)算終端,正面臨“功能豐富度、續(xù)航時(shí)長(zhǎng)、設(shè)備重量”三者難以兼得的工程難題。為實(shí)現(xiàn)語(yǔ)音交互、實(shí)時(shí)翻譯、環(huán)境感知與輕量化設(shè)計(jì),其**SoC必須在極小面積內(nèi)集成CPU、NPU、DSP、藍(lán)牙/Wi-Fi射頻、傳感器接口與電源管理模塊,同時(shí)在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)下實(shí)現(xiàn)**靜態(tài)功耗。這類高度集成的異構(gòu)SoC對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了嚴(yán)苛要求:不**需驗(yàn)證復(fù)雜功能邏輯,更要精確測(cè)量nA級(jí)漏電流、微瓦級(jí)動(dòng)態(tài)功耗及多電源域切換時(shí)序。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持每通道PPMU,可實(shí)現(xiàn)nA級(jí)IDDQ測(cè)量,**識(shí)別SoC在睡眠模式下的漏電異常,確保續(xù)航能力不受“隱形功耗”拖累。杭州國(guó)磊CAF測(cè)試系統(tǒng)行價(jià)