杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司推出的GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)，是踐行“為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展盡綿薄之力”使命的具體體現(xiàn)。該系統(tǒng)具備業(yè)界**的256通道測試能力，電阻測量范圍覆蓋10^4~10^14Ω，測量精度高，能夠精細(xì)表征各類絕緣材料、電子元件、PCB板在直流偏壓和環(huán)境應(yīng)力下的絕緣性能退化行為，特別是對導(dǎo)電陽極絲（CAF）現(xiàn)象進(jìn)行有效監(jiān)測與預(yù)警。GM8800提供從1.0V到3000V的寬范圍、高精度測試電壓，內(nèi)置電源穩(wěn)定可靠，外接高壓擴(kuò)展方便，電壓控制精度優(yōu)異，上升速度快，且測試電壓穩(wěn)定時(shí)間可調(diào)（1~600秒），為用戶提供了高度靈活的測試條件模擬能力。系統(tǒng)集成實(shí)時(shí)電流檢測（0.1μA~500μA）和溫濕度監(jiān)控功能，數(shù)據(jù)采集***，并通過完全屏蔽的線纜系統(tǒng)保證測量準(zhǔn)確性。其智能軟件平臺(tái)提供從測試設(shè)置、自動(dòng)執(zhí)行到數(shù)據(jù)分析、報(bào)告生成的全流程服務(wù)，并支持遠(yuǎn)程監(jiān)控。在系統(tǒng)保護(hù)方面，多重報(bào)警機(jī)制和UPS選項(xiàng)確保了長時(shí)間測試。相較于英國進(jìn)口GEN3設(shè)備，GM8800在實(shí)現(xiàn)技術(shù)性能對標(biāo)的同時(shí)，***降低了用戶的購置與運(yùn)維成本，并且能夠提供更快速、更貼身的本地化技術(shù)支持與定制服務(wù)，完美契合國內(nèi)新能源汽車、儲(chǔ)能、通信、醫(yī)療電子等行業(yè)對**可靠性測試設(shè)備的迫切需求。國磊GT600高達(dá)512個(gè)數(shù)字通道，可同時(shí)測試集成模擬模塊的SoC，如MCU+ADC+DAC+OPA的完整功能驗(yàn)證。國磊SIR測試系統(tǒng)價(jià)格

“風(fēng)華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國磊GT600測試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國磊GT600測試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。吉安CAF測試系統(tǒng)價(jià)位國磊GT600SoC測試機(jī)高精度浮動(dòng)SMU板卡可實(shí)現(xiàn)HBM接口電源域的電壓裕量（VoltageMargining）與功耗測試。

面對國產(chǎn)手機(jī)芯片動(dòng)輒數(shù)千萬乃至上億顆的年出貨量，傳統(tǒng)“單顆或小批量測試”模式早已無法滿足產(chǎn)能與成本需求。國磊GT600憑借512站點(diǎn)并行測試能力，開創(chuàng)“集體考試”新模式——512顆芯片同步上電、同步輸入測試向量、同步采集響應(yīng)、同步判定Pass/Fail，測試效率呈指數(shù)級提升。這不僅將單位時(shí)間產(chǎn)出提高數(shù)十倍，更大幅縮短新品從試產(chǎn)到大規(guī)模鋪貨的周期，搶占市場先機(jī)。更重要的是，測試成本（CostofTest）是芯片總成本的重要組成部分。據(jù)半導(dǎo)體行業(yè)經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)，同測數(shù)（ParallelTestSites）每翻一倍，單顆芯片測試成本可下降30%~40%。國磊GT600的512站點(diǎn)能力，相較傳統(tǒng)32或64站點(diǎn)設(shè)備，成本降幅可達(dá)70%以上，為國產(chǎn)手機(jī)SoC在激烈市場競爭中贏得價(jià)格優(yōu)勢。國磊GT600以“高速（400MHz）+高密度（512通道）+高并行（512Sites）”三位一體架構(gòu)，構(gòu)建起支撐國產(chǎn)**芯片量產(chǎn)的“超級測試流水線”，可以讓中國芯不僅“造得出”，更能“測得快、賣得起、用得穩(wěn)”。

作為杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司的**產(chǎn)品之一，GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)專為評估PCB、絕緣基材、封裝樹脂及導(dǎo)電膠等在電場和濕熱環(huán)境下的絕緣可靠性而設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)提供16至256個(gè)可靈活擴(kuò)展的測試通道，支持以16通道為單元進(jìn)行分組**測試，電阻測量范圍橫跨10^4至10^14Ω，測量精度根據(jù)阻值區(qū)間不同控制在±3%至±10%，兼具0.1μA~500μA的寬范圍電流檢測能力，采樣速率全通道可達(dá)8次/秒。GM8800內(nèi)置精密的可編程電壓源，輸出范圍0V~±100V，外接偏置電壓比較高可達(dá)3000V，并具備1~600秒可設(shè)置的測試電壓穩(wěn)定時(shí)間，能夠精確模擬各種工作電壓應(yīng)力條件。系統(tǒng)配備的專業(yè)軟件支持實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集（包括時(shí)間、電阻、電流、電壓、溫濕度）、歷史數(shù)據(jù)追溯、趨勢分析及多種格式報(bào)告導(dǎo)出，并創(chuàng)新性地集成了遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，用戶可通過電腦或手機(jī)隨時(shí)查看測試進(jìn)展與系統(tǒng)狀態(tài)。與價(jià)格昂貴的英國進(jìn)口GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**性能參數(shù)上毫不遜色，而在通道擴(kuò)展靈活性、定制化服務(wù)響應(yīng)以及總體擁有成本方面展現(xiàn)出更強(qiáng)的競爭力，是推動(dòng)半導(dǎo)體、電子元器件及相關(guān)材料領(lǐng)域測試環(huán)節(jié)國產(chǎn)化進(jìn)程的理想平臺(tái)。國磊GT600的128M向量存儲(chǔ)深度可記錄長時(shí)間功耗波形，用于分析AI推理、傳感器喚醒等突發(fā)任務(wù)的能耗曲線。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司自主研發(fā)的GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)**了國內(nèi)在電化學(xué)遷移與絕緣可靠性測試領(lǐng)域的比較高水平。該系統(tǒng)憑借其256通道的強(qiáng)大并行處理能力，可在8秒內(nèi)完成全部測點(diǎn)的掃描與電阻運(yùn)算，單通道測試時(shí)間低于15ms，支持10^4~10^14Ω的超寬阻值檢測，并可根據(jù)用戶設(shè)定進(jìn)行1~600分鐘可自由配置的測試間隔，**長持續(xù)測試時(shí)間高達(dá)9999小時(shí)，滿足包括IPC-TM-650 2.6.25在內(nèi)的多項(xiàng)國際標(biāo)準(zhǔn)對CAF試驗(yàn)的嚴(yán)苛要求。GM8800集成高精度電壓輸出與傳感單元，提供0.01V@0-100V、0.1V@100-500V、1V@500-3000V的步進(jìn)調(diào)節(jié)精度，配合±0.05V（≤100VDC）與±0.5V（>100VDC）的電壓精度，確保測試條件的高度穩(wěn)定與可重復(fù)。系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)測電流、溫度、濕度等多維度參數(shù)，并通過完全屏蔽的低噪聲線纜傳輸信號，有效保障了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性與抗干擾能力。面向新能源汽車、儲(chǔ)能系統(tǒng)、**消費(fèi)電子等快速增長的市場，GM8800在性能上可比肩甚至超越英國GEN3產(chǎn)品，同時(shí)憑借更低的采購成本、更便捷的本土服務(wù)與技術(shù)支持，正助力越來越多中國企業(yè)加速實(shí)現(xiàn)**測試儀器的自主可控與進(jìn)口替代。國磊GT600的128M向量存儲(chǔ)深度，支持長時(shí)間采集模擬信號動(dòng)態(tài)行為，適用于鎖相環(huán)（PLL）、振蕩器等測試。導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)制作

國磊GT600的16個(gè)通用插槽支持?jǐn)?shù)字、模擬、混合信號板卡混插，實(shí)現(xiàn)電源管理IC、傳感器信號調(diào)理芯片的測試。國磊SIR測試系統(tǒng)價(jià)格

低功耗SoC在先進(jìn)工藝下表現(xiàn)出更復(fù)雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細(xì)的時(shí)序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗(yàn)證要求。傳統(tǒng)測試設(shè)備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態(tài)電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動(dòng)態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關(guān)鍵參數(shù)的測量上。此時(shí)，國磊GT600測試機(jī)的價(jià)值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實(shí)現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量，**捕捉先進(jìn)工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動(dòng)SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅(qū)動(dòng)能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時(shí)序驗(yàn)證。國磊SIR測試系統(tǒng)價(jià)格