（3）X射線強(qiáng)度測(cè)量系統(tǒng)。特征X射線，由B系統(tǒng)中的計(jì)數(shù)管接收，并轉(zhuǎn)換成電脈沖，通過脈沖高度分析儀、計(jì)數(shù)率計(jì)、定標(biāo)器、電子電位計(jì)將其強(qiáng)度測(cè)量出來。（4）光學(xué)顯微鏡目測(cè)系統(tǒng)。用以準(zhǔn)確選擇需要分析的區(qū)域，并作光學(xué)觀察。（5）背散射電子圖像系統(tǒng)。（6）吸收電子圖像系統(tǒng)。（7）特征X射線圖像系統(tǒng)。電子探針的技術(shù)**是利用X射線晶體光學(xué)，主要應(yīng)用兩種方法：1）晶體衍射法（X射線光譜法）。利用晶體轉(zhuǎn)到一定角度，來衍射某種波長(zhǎng)的X射線，通過讀出晶體不同的衍射角，求出X射線的波長(zhǎng)，從而定出樣品所含的元素。利用特征波長(zhǎng)來確定元素的儀器叫做波長(zhǎng)色散譜儀（波譜儀），利用特征能量的就稱為能量色散譜儀（能譜儀）。寶山區(qū)品牌探針生產(chǎn)廠家

B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；**產(chǎn)品的**技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，**技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）垂直探針：垂直型（Vertical Type）1.ICT探針 （ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．上海質(zhì)量探針品牌X射線譜儀。測(cè)量各種元素產(chǎn)生的X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度，并以此對(duì)微小體積中所含元素進(jìn)行定性和定量分析。

利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學(xué)組成以及各元素的重量百分?jǐn)?shù)。分析前要根據(jù)試驗(yàn)?zāi)康闹苽錁悠罚瑯悠繁砻嬉鍧?。用波譜儀分析樣品時(shí)要求樣品平整，否則會(huì)降低測(cè)得的X射線強(qiáng)度。定性分析1 點(diǎn)分析用于測(cè)定樣品上某個(gè)指定點(diǎn)的化學(xué)成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點(diǎn)分析結(jié)果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特征X射線信號(hào)同時(shí)檢測(cè)和顯示。不像波譜儀那樣要做全部譜掃描，甚至還要更換分光晶體。2 線分析用于測(cè)定某種元素沿給定直線分布的情況。方法是將X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測(cè)量的某元素特征X射線信號(hào)（波長(zhǎng)或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃描，便可得到該元素沿直線特征X射線強(qiáng)度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分布情況。改變譜儀的位置，便可得到另一元素的X射線強(qiáng)度分布。下圖為50CrNiMo鋼中夾雜Al2O3的線分析像。可見，在Al2O3夾雜存在的地方，Al的X射線峰較強(qiáng)。

2.界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne）和安捷倫（Agilent）．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．4.開關(guān)探針（Switch Probes）開關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng)，一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試．電子探針主要由電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統(tǒng)組成。

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器， [1]可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。閔行區(qū)品牌探針現(xiàn)價(jià)

把電子顯微鏡和電子探針結(jié)合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯(lián)系起來。寶山區(qū)品牌探針生產(chǎn)廠家

電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析?？梢赃M(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量（預(yù)置9999測(cè)試點(diǎn)）定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便（相對(duì)復(fù)雜的化學(xué)分析方法而言）、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過程不損壞樣品、測(cè)量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，故在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益***地應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。寶山區(qū)品牌探針生產(chǎn)廠家

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