針對 LED 產(chǎn)品的全生命周期，上海擎奧提供覆蓋從設(shè)計研發(fā)到報廢回收的全程失效分析服務(wù)。在產(chǎn)品設(shè)計階段，團隊會結(jié)合可靠性設(shè)計原理，對 LED 產(chǎn)品可能存在的失效隱患進行提前預(yù)判和分析，為設(shè)計優(yōu)化提供依據(jù)，降低產(chǎn)品后續(xù)失效的風(fēng)險；在生產(chǎn)環(huán)節(jié)，通過對生產(chǎn)過程中的樣品進行失效分析，及時發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝中的問題，幫助企業(yè)改進生產(chǎn)流程，提高產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性；在產(chǎn)品使用階段，針對出現(xiàn)的失效問題，快速定位原因并提出解決方案，減少客戶的損失；在報廢回收階段，通過失效分析為 LED 產(chǎn)品的回收利用提供技術(shù)支持，促進資源的循環(huán)利用。多維度的服務(wù)讓客戶在這些 LED 產(chǎn)品的各個階段都能獲得專業(yè)的技術(shù)保障。擎奧檢測為 LED 失效分析提供可靠技術(shù)支持。楊浦區(qū)LED失效分析

LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術(shù)強項之一，依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團隊，可實現(xiàn)從芯片級到系統(tǒng)級的全鏈條分析。針對某批 LED 芯片的突然失效，技術(shù)人員通過探針臺測試芯片的 I-V 曲線，發(fā)現(xiàn)反向漏電流異常增大，結(jié)合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋，追溯到外延生長過程中的應(yīng)力集中問題。對于 LED 芯片的光效衰減失效，團隊利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化，配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度，精確定位材料生長缺陷導(dǎo)致的性能退化。這些深入的芯片級分析為上游制造商提供了寶貴的改進方向。長寧區(qū)加工LED失效分析耗材分析 LED 在不同環(huán)境下的失效規(guī)律與特點。

在汽車電子領(lǐng)域，LED 產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要，上海擎奧針對汽車電子 LED 的失效分析有著深入的研究和豐富的實踐經(jīng)驗。公司的行家團隊熟悉汽車 LED 在高低溫循環(huán)、振動沖擊、潮濕等嚴苛環(huán)境下的失效規(guī)律，會結(jié)合汽車電子的特殊使用場景，設(shè)計專項測試方案。通過先進的設(shè)備對汽車 LED 的光學(xué)性能、電學(xué)參數(shù)、結(jié)構(gòu)完整性等進行多維檢測，分析其在長期使用中可能出現(xiàn)的失效問題，如焊點脫落、芯片老化、光效衰退等。同時，團隊會將失效分析結(jié)果與可靠性試驗數(shù)據(jù)相結(jié)合，為汽車電子企業(yè)提供從設(shè)計優(yōu)化到生產(chǎn)管控的全流程技術(shù)支持，確保 LED 產(chǎn)品滿足汽車行業(yè)的高標(biāo)準(zhǔn)高要求。

在 LED 失效分析過程中，上海擎奧注重將環(huán)境測試數(shù)據(jù)與失效分析結(jié)果相結(jié)合，提高分析的準(zhǔn)確性和科學(xué)性。公司擁有先進的環(huán)境測試設(shè)備，可模擬高溫、低溫、高低溫循環(huán)、濕熱、振動、沖擊等多種環(huán)境條件，對 LED 產(chǎn)品進行可靠性試驗。在獲取大量環(huán)境測試數(shù)據(jù)后，分析團隊會將這些數(shù)據(jù)與 LED 產(chǎn)品的失效現(xiàn)象進行關(guān)聯(lián)研究，探究不同環(huán)境因素對 LED 失效的影響規(guī)律，如高溫環(huán)境下 LED 光衰速度的變化、振動環(huán)境下焊點失效的概率等。通過這種結(jié)合，能夠好地了解 LED 產(chǎn)品的失效機制，為客戶提供更具針對性的解決方案，幫助客戶設(shè)計出更適應(yīng)復(fù)雜環(huán)境的 LED 產(chǎn)品。解析 LED 光學(xué)性能衰退的失效機理。

針對高溫高濕環(huán)境下的 LED 失效，擎奧檢測的環(huán)境測試艙可模擬 85℃/85% RH 的極端條件，進行長達 1000 小時的加速老化試驗。通過定期采集光通量、色坐標(biāo)等參數(shù)，工程師發(fā)現(xiàn)硅膠黃變、金線腐蝕是導(dǎo)致性能衰減的主要原因。實驗室引進的氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）可分析封裝材料的揮發(fā)物成分，結(jié)合腐蝕產(chǎn)物的能譜分析，終鎖定特定添加劑與金屬電極的化學(xué)反應(yīng)機理，為材料替代提供科學(xué)依據(jù)。在汽車前大燈 LED 的失效分析中，擎奧檢測特別關(guān)注振動與溫度沖擊的復(fù)合影響。實驗室的三綜合測試系統(tǒng)（溫度 - 濕度 - 振動）可模擬車輛行駛中的復(fù)雜工況，通過應(yīng)變片監(jiān)測燈體結(jié)構(gòu)應(yīng)力分布。測試發(fā)現(xiàn)，LED 支架與散熱器的連接松動會導(dǎo)致熱阻急劇上升，進而引發(fā)芯片結(jié)溫過高失效。行家團隊結(jié)合汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ISO 16750，制定了包含 12 項指標(biāo)的專項檢測方案，已成為多家車企的指定分析機構(gòu)。擎奧檢測為 LED 產(chǎn)品改進提供失效依據(jù)。嘉定區(qū)本地LED失效分析功能

運用失效物理原理分析 LED 產(chǎn)品故障機制。楊浦區(qū)LED失效分析

在 LED 驅(qū)動電源失效分析中，擎奧檢測展現(xiàn)出跨領(lǐng)域技術(shù)整合能力。通過對失效電源模塊進行電路仿真與實物測試對比，工程師發(fā)現(xiàn)電解電容干涸、MOS 管擊穿等問題常與紋波電流過大相關(guān)。實驗室配備的功率分析儀可捕捉微秒級電流波動，配合熱仿真軟件還原器件溫升曲線，終確定失效與散熱設(shè)計缺陷的關(guān)聯(lián)性。這種 “測試 + 仿真” 的雙軌分析模式，已幫助多家照明企業(yè)將產(chǎn)品壽命提升 30% 以上。面對 LED 顯示屏的死燈現(xiàn)象，擎奧檢測建立了分級排查體系。初級檢測通過光學(xué)顯微鏡觀察封裝引腳是否氧化，中級檢測采用超聲掃描顯微鏡（SAM）檢測芯片與基板的結(jié)合缺陷，高級檢測則通過失效物理分析確定是否存在靜電損傷（ESD）。30 余人的技術(shù)團隊可同時處理 50 批次以上的失效樣品，結(jié)合客戶提供的生產(chǎn)工藝參數(shù)，追溯從固晶、焊線到封裝的全流程潛在風(fēng)險點，形成閉環(huán)改進方案。楊浦區(qū)LED失效分析