針對(duì)高溫高濕環(huán)境下的 LED 失效，擎奧檢測(cè)的環(huán)境測(cè)試艙可模擬 85℃/85% RH 的極端條件，進(jìn)行長(zhǎng)達(dá) 1000 小時(shí)的加速老化試驗(yàn)。通過定期采集光通量、色坐標(biāo)等參數(shù)，工程師發(fā)現(xiàn)硅膠黃變、金線腐蝕是導(dǎo)致性能衰減的主要原因。實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)的氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）可分析封裝材料的揮發(fā)物成分，結(jié)合腐蝕產(chǎn)物的能譜分析，終鎖定特定添加劑與金屬電極的化學(xué)反應(yīng)機(jī)理，為材料替代提供科學(xué)依據(jù)。在汽車前大燈 LED 的失效分析中，擎奧檢測(cè)特別關(guān)注振動(dòng)與溫度沖擊的復(fù)合影響。實(shí)驗(yàn)室的三綜合測(cè)試系統(tǒng)（溫度 - 濕度 - 振動(dòng)）可模擬車輛行駛中的復(fù)雜工況，通過應(yīng)變片監(jiān)測(cè)燈體結(jié)構(gòu)應(yīng)力分布。測(cè)試發(fā)現(xiàn)，LED 支架與散熱器的連接松動(dòng)會(huì)導(dǎo)致熱阻急劇上升，進(jìn)而引發(fā)芯片結(jié)溫過高失效。行家團(tuán)隊(duì)結(jié)合汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ISO 16750，制定了包含 12 項(xiàng)指標(biāo)的專項(xiàng)檢測(cè)方案，已成為多家車企的指定分析機(jī)構(gòu)。運(yùn)用先進(jìn)設(shè)備觀察 LED 失效的微觀現(xiàn)象。閔行區(qū)附近LED失效分析

LED 封裝工藝對(duì)產(chǎn)品的性能和可靠性有著重要影響，上海擎奧針對(duì) LED 封裝工藝缺陷導(dǎo)致的失效問題開展專項(xiàng)分析服務(wù)。團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)封裝過程中的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行細(xì)致排查，如芯片粘結(jié)、引線鍵合、封裝膠灌封等，通過先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備觀察封裝結(jié)構(gòu)的微觀形貌，分析可能存在的缺陷，如氣泡、裂紋、粘結(jié)不牢等。結(jié)合環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)，研究這些封裝缺陷在不同環(huán)境條件下對(duì) LED 性能的影響，如高溫高濕環(huán)境下封裝膠開裂導(dǎo)致的水汽侵入，引起芯片失效等。通過深入分析，明確封裝工藝中存在的問題，并為企業(yè)提供封裝工藝改進(jìn)的具體方案，提高 LED 產(chǎn)品的封裝質(zhì)量和可靠性。普陀區(qū)LED失效分析功能結(jié)合環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)驗(yàn)證 LED 失效假設(shè)。

針對(duì) LED 產(chǎn)品的全生命周期，上海擎奧提供覆蓋從設(shè)計(jì)研發(fā)到報(bào)廢回收的全程失效分析服務(wù)。在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，團(tuán)隊(duì)會(huì)結(jié)合可靠性設(shè)計(jì)原理，對(duì) LED 產(chǎn)品可能存在的失效隱患進(jìn)行提前預(yù)判和分析，為設(shè)計(jì)優(yōu)化提供依據(jù)，降低產(chǎn)品后續(xù)失效的風(fēng)險(xiǎn)；在生產(chǎn)環(huán)節(jié)，通過對(duì)生產(chǎn)過程中的樣品進(jìn)行失效分析，及時(shí)發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)工藝中的問題，幫助企業(yè)改進(jìn)生產(chǎn)流程，提高產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定性；在產(chǎn)品使用階段，針對(duì)出現(xiàn)的失效問題，快速定位原因并提出解決方案，減少客戶的損失；在報(bào)廢回收階段，通過失效分析為 LED 產(chǎn)品的回收利用提供技術(shù)支持，促進(jìn)資源的循環(huán)利用。多維度的服務(wù)讓客戶在這些 LED 產(chǎn)品的各個(gè)階段都能獲得專業(yè)的技術(shù)保障。

LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術(shù)強(qiáng)項(xiàng)之一，依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團(tuán)隊(duì)，可實(shí)現(xiàn)從芯片級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的全鏈條分析。針對(duì)某批 LED 芯片的突然失效，技術(shù)人員通過探針臺(tái)測(cè)試芯片的 I-V 曲線，發(fā)現(xiàn)反向漏電流異常增大，結(jié)合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋，追溯到外延生長(zhǎng)過程中的應(yīng)力集中問題。對(duì)于 LED 芯片的光效衰減失效，團(tuán)隊(duì)利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化，配合 X 射線衍射儀檢測(cè)晶格失配度，精確定位材料生長(zhǎng)缺陷導(dǎo)致的性能退化。這些深入的芯片級(jí)分析為上游制造商提供了寶貴的改進(jìn)方向。結(jié)合可靠性設(shè)計(jì)開展 LED 失效預(yù)防分析。

針對(duì)汽車電子領(lǐng)域的 LED 失效分析，上海擎奧構(gòu)建了符合 ISO 16750 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試體系。車載 LED 大燈常因振動(dòng)環(huán)境導(dǎo)致焊點(diǎn)脫落，實(shí)驗(yàn)室的三軸向振動(dòng)臺(tái)可模擬發(fā)動(dòng)機(jī)啟動(dòng)時(shí)的 10-2000Hz 振動(dòng)頻率，配合動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)焊點(diǎn)連接狀態(tài)，精確定位虛焊失效點(diǎn)。對(duì)于新能源汽車的 LED 儀表盤背光失效，技術(shù)人員通過高低溫濕熱箱（-40℃~85℃，濕度 95%）進(jìn)行 1000 次循環(huán)測(cè)試，結(jié)合紅外熱像儀捕捉局部過熱區(qū)域，終發(fā)現(xiàn)導(dǎo)光板材料在濕熱環(huán)境下的老化開裂是主因。這些針對(duì)性測(cè)試為汽車 LED 產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)提供了直接依據(jù)。擎奧檢測(cè)提供 LED 失效分析全流程服務(wù)。松江區(qū)智能LED失效分析耗材

結(jié)合壽命評(píng)估開展 LED 長(zhǎng)期失效分析。閔行區(qū)附近LED失效分析

上海擎奧的行家團(tuán)隊(duì)在 LED 失效分析領(lǐng)域積累了豐富的實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)，10 余人的行家團(tuán)隊(duì)中不乏深耕照明電子檢測(cè)行業(yè) 20 年以上的經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師。面對(duì) LED 驅(qū)動(dòng)電源失效導(dǎo)致的批量退貨案例，行家們通過功率分析儀記錄異常工況下的電壓波動(dòng)數(shù)據(jù)，結(jié)合失效物理模型推算電容壽命衰減曲線，終鎖定電解電容高溫失效的重點(diǎn)原因。針對(duì)戶外 LED 顯示屏的黑屏故障，團(tuán)隊(duì)采用加速老化試驗(yàn)箱模擬濕熱環(huán)境，720 小時(shí)連續(xù)測(cè)試后通過金相顯微鏡觀察到芯片焊盤氧化現(xiàn)象，為客戶優(yōu)化封裝工藝提供了關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。行家團(tuán)隊(duì)的介入讓復(fù)雜的 LED 失效問題得到系統(tǒng)性拆解。閔行區(qū)附近LED失效分析