LED 封裝工藝對(duì)產(chǎn)品的性能和可靠性有著重要影響，上海擎奧針對(duì) LED 封裝工藝缺陷導(dǎo)致的失效問(wèn)題開(kāi)展專項(xiàng)分析服務(wù)。團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)封裝過(guò)程中的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行細(xì)致排查，如芯片粘結(jié)、引線鍵合、封裝膠灌封等，通過(guò)先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備觀察封裝結(jié)構(gòu)的微觀形貌，分析可能存在的缺陷，如氣泡、裂紋、粘結(jié)不牢等。結(jié)合環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)，研究這些封裝缺陷在不同環(huán)境條件下對(duì) LED 性能的影響，如高溫高濕環(huán)境下封裝膠開(kāi)裂導(dǎo)致的水汽侵入，引起芯片失效等。通過(guò)深入分析，明確封裝工藝中存在的問(wèn)題，并為企業(yè)提供封裝工藝改進(jìn)的具體方案，提高 LED 產(chǎn)品的封裝質(zhì)量和可靠性。解析 LED 光學(xué)性能衰退的失效機(jī)理。奉賢區(qū)LED失效分析

擎奧檢測(cè)的可靠性設(shè)計(jì)工程團(tuán)隊(duì)在 LED 失效分析領(lǐng)域積累了豐富經(jīng)驗(yàn)。團(tuán)隊(duì)中 20% 的碩士及博士人才，擅長(zhǎng)運(yùn)用失效物理理論，對(duì) LED 的 pn 結(jié)失效、金線鍵合脫落等問(wèn)題進(jìn)行系統(tǒng)研究。他們通過(guò)切片分析、SEM 掃描電鏡觀察等微觀檢測(cè)技術(shù)，追蹤 LED 封裝過(guò)程中膠體老化、熒光粉脫落等潛在隱患，甚至能識(shí)別出因焊盤氧化導(dǎo)致的間歇性失效。這種多維度的分析能力，讓每一次失效都成為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性的突破口。針對(duì)汽車電子領(lǐng)域的 LED 失效問(wèn)題，擎奧檢測(cè)構(gòu)建了符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的專項(xiàng)分析方案。汽車 LED 燈具長(zhǎng)期處于振動(dòng)、高溫、油污等復(fù)雜環(huán)境中，容易出現(xiàn)焊點(diǎn)開(kāi)裂、光學(xué)性能漂移等失效模式。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)振動(dòng)測(cè)試臺(tái)模擬車輛行駛中的顛簸沖擊，結(jié)合溫度沖擊試驗(yàn)考核元器件耐候性，再配合材料分析團(tuán)隊(duì)對(duì)燈具外殼的老化程度進(jìn)行評(píng)估，形成涵蓋機(jī)械應(yīng)力、熱應(yīng)力、化學(xué)腐蝕等多因素的綜合失效報(bào)告，為車載 LED 的可靠性提升提供數(shù)據(jù)支撐。長(zhǎng)寧區(qū)本地LED失效分析服務(wù)針對(duì) LED 戶外使用場(chǎng)景進(jìn)行失效分析服務(wù)。

對(duì)于戶外大功率 LED 燈具，其失效問(wèn)題往往與極端天氣和強(qiáng)度較高的度使用相關(guān)，上海擎奧為此打造了專項(xiàng)失效分析方案。團(tuán)隊(duì)會(huì)重點(diǎn)關(guān)注燈具在暴雨、暴雪、強(qiáng)紫外線照射等環(huán)境下的性能變化，通過(guò)環(huán)境測(cè)試設(shè)備模擬這些極端條件，觀察 LED 的光學(xué)參數(shù)和結(jié)構(gòu)完整性變化。結(jié)合材料分析技術(shù)，檢測(cè)燈具外殼、密封膠、散熱部件的老化和損壞情況，分析如密封失效導(dǎo)致的內(nèi)部進(jìn)水、散熱不足引發(fā)的芯片過(guò)熱等失效原因。憑借專業(yè)分析，為戶外 LED 燈具企業(yè)提供結(jié)構(gòu)優(yōu)化、材料升級(jí)等建議，增強(qiáng)產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的耐用性。

針對(duì)汽車電子領(lǐng)域的 LED 失效分析，上海擎奧構(gòu)建了符合 ISO 16750 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試體系。車載 LED 大燈常因振動(dòng)環(huán)境導(dǎo)致焊點(diǎn)脫落，實(shí)驗(yàn)室的三軸向振動(dòng)臺(tái)可模擬發(fā)動(dòng)機(jī)啟動(dòng)時(shí)的 10-2000Hz 振動(dòng)頻率，配合動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試儀實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)焊點(diǎn)連接狀態(tài)，精確定位虛焊失效點(diǎn)。對(duì)于新能源汽車的 LED 儀表盤背光失效，技術(shù)人員通過(guò)高低溫濕熱箱（-40℃~85℃，濕度 95%）進(jìn)行 1000 次循環(huán)測(cè)試，結(jié)合紅外熱像儀捕捉局部過(guò)熱區(qū)域，終發(fā)現(xiàn)導(dǎo)光板材料在濕熱環(huán)境下的老化開(kāi)裂是主因。這些針對(duì)性測(cè)試為汽車 LED 產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)提供了直接依據(jù)。結(jié)合環(huán)境測(cè)試數(shù)據(jù)驗(yàn)證 LED 失效假設(shè)。

切實(shí)可行的解決方案。擎奧檢測(cè)的材料失效分析人員在 LED 封裝失效領(lǐng)域頗具話語(yǔ)權(quán)。LED 封裝過(guò)程中，膠體氣泡、引腳氧化、熒光粉分布不均等問(wèn)題都可能導(dǎo)致后期失效。團(tuán)隊(duì)通過(guò)金相切片技術(shù)觀察封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)，利用能譜儀分析引腳表面的氧化成分，結(jié)合密封性測(cè)試判斷膠體是否存在微裂紋。針對(duì)因封裝工藝缺陷導(dǎo)致的 LED 失效，他們能追溯到生產(chǎn)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵參數(shù)，幫助客戶改進(jìn)封裝流程，從源頭降低失效風(fēng)險(xiǎn)。針對(duì)芯片級(jí) LED 的失效分析，擎奧檢測(cè)配備了專項(xiàng)檢測(cè)設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊(duì)。芯片是 LED 的重心部件，其失效可能源于晶格缺陷、電流集中、靜電損傷等。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)探針臺(tái)對(duì)芯片進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試，結(jié)合微光顯微鏡觀察漏電點(diǎn)位置，利用 X 射線衍射儀分析晶格結(jié)構(gòu)完整性。行家團(tuán)隊(duì)能根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)區(qū)分芯片失效是屬于制造過(guò)程中的固有缺陷，還是應(yīng)用過(guò)程中的不當(dāng)操作導(dǎo)致，為客戶提供芯片選型建議或使用規(guī)范指導(dǎo)。針對(duì) LED 光衰問(wèn)題開(kāi)展系統(tǒng)失效分析服務(wù)。上海LED失效分析驅(qū)動(dòng)電路

擎奧檢測(cè)分析 LED 散熱不良導(dǎo)致的失效。奉賢區(qū)LED失效分析

在軌道交通照明用 LED 的失效分析中，擎奧檢測(cè)的行家團(tuán)隊(duì)展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。軌道交通場(chǎng)景對(duì) LED 的耐振動(dòng)、寬溫適應(yīng)性要求極高，一旦出現(xiàn)失效可能影響行車安全。擎奧檢測(cè)通過(guò)模擬軌道車輛的振動(dòng)頻率和溫度波動(dòng)范圍，加速 LED 的失效過(guò)程，再利用材料分析設(shè)備檢測(cè) LED 內(nèi)部的焊點(diǎn)、封裝膠等部件的狀態(tài)，精確定位如引線疲勞斷裂、封裝膠開(kāi)裂等失效原因，并提供針對(duì)性的改進(jìn)建議。面對(duì)照明電子領(lǐng)域常見(jiàn)的 LED 光衰失效，擎奧檢測(cè)建立了科學(xué)的分析體系。光衰是 LED 長(zhǎng)期使用中的典型問(wèn)題，與芯片發(fā)熱、封裝材料老化、散熱設(shè)計(jì)缺陷等密切相關(guān)。實(shí)驗(yàn)室通過(guò)對(duì)失效 LED 進(jìn)行光譜曲線測(cè)試，對(duì)比初始參數(shù)找出光衰規(guī)律，同時(shí)利用熱阻測(cè)試設(shè)備分析散熱路徑的合理性，結(jié)合材料分析團(tuán)隊(duì)對(duì)封裝硅膠、熒光粉的成分檢測(cè)，判斷是否存在材料熱老化或變質(zhì)問(wèn)題，為客戶提供優(yōu)化散熱結(jié)構(gòu)、選用耐溫材料等切實(shí)可行的解決方案。奉賢區(qū)LED失效分析