LED 封裝工藝的失效分析往往需要多設(shè)備協(xié)同,上海擎奧的綜合檢測能力在此類問題中發(fā)揮了重要作用。某款 LED 球泡燈出現(xiàn)的批量死燈現(xiàn)象,通過解剖鏡觀察發(fā)現(xiàn)封裝膠與支架的剝離,結(jié)合拉力試驗機測試兩者的結(jié)合強度,再通過差示掃描量熱儀(DSC)分析封裝膠的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,確認封裝膠選型不當導(dǎo)致的熱應(yīng)力失效。針對 COB 封裝 LED 的局部過熱失效,技術(shù)人員采用熱阻測試儀測量芯片到散熱基板的熱阻分布,配合有限元仿真軟件模擬熱量傳導(dǎo)路徑,發(fā)現(xiàn)固晶膠涂布不均是主要誘因。這些分析幫助客戶優(yōu)化了封裝工藝流程。擎奧檢測的 LED 失效分析覆蓋多應(yīng)用領(lǐng)域。長寧區(qū)什么是LED失效分析案例

在上海浦東新區(qū)金橋開發(fā)區(qū)的擎奧檢測實驗室里,針對 LED 產(chǎn)品的失效分析正有條不紊地進行。2500 平米的檢測空間內(nèi),先進的材料分析設(shè)備與環(huán)境測試系統(tǒng)協(xié)同運作,為消解 LED 失效難題提供了堅實的硬件支撐。技術(shù)人員將失效 LED 樣品固定在金相顯微鏡下,通過高倍放大觀察芯片焊點的微觀狀態(tài),結(jié)合 X 射線熒光光譜儀分析封裝材料的成分變化,精確定位可能導(dǎo)致光衰、死燈的潛在因素。這里的每一臺設(shè)備都經(jīng)過嚴格校準,確保從焊點氧化到熒光粉老化的各類失效特征都能被清晰捕捉,為后續(xù)的失效機理研究奠定數(shù)據(jù)基礎(chǔ)。上海國內(nèi)LED失效分析功能分析 LED 溫度特性與失效關(guān)聯(lián)的專業(yè)服務(wù)。

針對 UV LED 的失效分析,擎奧檢測建立了特殊的安全防護測試環(huán)境。某款 UV 固化燈在使用過程中出現(xiàn)功率驟降,技術(shù)人員在防護等級達 Class 3B 的紫外實驗室中,用光譜輻射計監(jiān)測不同使用階段的功率變化,同時通過 X 射線衍射分析 AlGaN 外延層的晶體結(jié)構(gòu)變化。結(jié)果表明,長期工作導(dǎo)致的有源區(qū)量子阱退化是主要失效機理,而這與散熱基板的熱導(dǎo)率不足直接相關(guān)?;诜治鼋Y(jié)論,團隊推薦客戶采用金剛石導(dǎo)熱基板,使產(chǎn)品的使用壽命延長 3 倍以上。Mini LED 背光模組的失效分析對檢測精度提出了極高要求,擎奧檢測的超景深顯微鏡和探針臺系統(tǒng)在此發(fā)揮了關(guān)鍵作用。某型號電視背光出現(xiàn)局部暗斑,技術(shù)人員通過微米級定位系統(tǒng)觀察到部分 Mini LED 的焊盤存在虛焊現(xiàn)象,這源于回流焊過程中焊膏量控制不均。利用 3D 錫膏檢測設(shè)備對來料進行驗證,發(fā)現(xiàn)焊膏印刷的標準差超過了工藝要求的 2 倍。團隊隨即協(xié)助客戶優(yōu)化了鋼網(wǎng)開孔設(shè)計,將焊膏量的 CPK 值從 1.2 提升至 1.6,徹底解決了虛焊問題。
LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術(shù)強項之一,依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團隊,可實現(xiàn)從芯片級到系統(tǒng)級的全鏈條分析。針對某批 LED 芯片的突然失效,技術(shù)人員通過探針臺測試芯片的 I-V 曲線,發(fā)現(xiàn)反向漏電流異常增大,結(jié)合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋,追溯到外延生長過程中的應(yīng)力集中問題。對于 LED 芯片的光效衰減失效,團隊利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化,配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度,精確定位材料生長缺陷導(dǎo)致的性能退化。這些深入的芯片級分析為上游制造商提供了寶貴的改進方向。專業(yè)團隊排查 LED 生產(chǎn)環(huán)節(jié)的失效隱患。

LED封裝工藝的微小缺陷都有可能導(dǎo)致產(chǎn)品的失效,擎奧檢測的失效分析團隊擅長捕捉這類隱性問題。某LED廠商的球泡燈在高溫高濕試驗后出現(xiàn)的批量失效,技術(shù)人員通過切片分析發(fā)現(xiàn),芯片與支架之間的銀膠存在氣泡,這在溫度循環(huán)過程中會引發(fā)熱應(yīng)力的集中,可能導(dǎo)致金線斷裂。利用超聲清洗結(jié)合熱成像的方法,團隊建立了銀膠氣泡的快速檢測標準,并協(xié)助客戶改進了點膠工藝參數(shù),將氣泡不良率從5%降至0.1%以下,明顯的提升了產(chǎn)品的可靠性。結(jié)合壽命評估開展 LED 長期失效分析。嘉定區(qū)LED失效分析功能
運用先進設(shè)備測量 LED 失效的電學(xué)參數(shù)。長寧區(qū)什么是LED失效分析案例
在軌道交通 LED 照明的失效分析中,擎奧檢測的技術(shù)團隊展現(xiàn)了強大的專業(yè)能力。針對某地鐵線路 LED 燈具頻繁熄滅的問題,他們不僅對失效樣品進行了光譜分析和色溫漂移測試,還模擬了隧道內(nèi)的濕度、粉塵環(huán)境進行加速老化試驗。通過對 200 余個失效樣本的統(tǒng)計分析,發(fā)現(xiàn)封裝膠在高溫高濕環(huán)境下的水解反應(yīng)是導(dǎo)致光效驟降的主因。基于這一結(jié)論,團隊為客戶推薦了耐水解性更強的有機硅封裝材料,并優(yōu)化了散熱結(jié)構(gòu),使燈具的平均無故障工作時間從 3000 小時提升至 15000 小時。長寧區(qū)什么是LED失效分析案例