國產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展
關(guān)于雅特力助力關(guān)節(jié)運(yùn)動
維特比算法與DSP芯片——解碼噪聲中的“比較好路徑”
2025年關(guān)于麥歌恩動態(tài)
雅特力推出新系列微控制器:AT32F455/F456/F45
雅特力科技助力宇樹科技推動智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
雅特力AT32 Workbench煥“芯”升級!
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矽??萍极@TüV萊茵 ISO 26262 認(rèn)證
國產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場機(jī)遇并存
針對低溫環(huán)境下 LED 產(chǎn)品的失效問題,上海擎奧開展專項研究并提供專業(yè)分析服務(wù)。公司的環(huán)境測試設(shè)備可精確模擬零下幾十度的低溫環(huán)境,測試 LED 在低溫啟動、持續(xù)工作時的性能變化,如亮度驟降、啟動困難、電路故障等。團(tuán)隊結(jié)合材料分析,檢測 LED 封裝膠、線路板在低溫下的物理性能變化,如封裝膠脆化開裂、線路板收縮導(dǎo)致的焊點(diǎn)脫落等。通過分析低溫對 LED 各部件的影響機(jī)制,為企業(yè)提供低溫適應(yīng)性改進(jìn)方案,確保產(chǎn)品在寒冷地區(qū)的正常使用。分析 LED 芯片失效對整體性能的影響。寶山區(qū)制造LED失效分析服務(wù)

針對高溫高濕環(huán)境下的 LED 失效,擎奧檢測的環(huán)境測試艙可模擬 85℃/85% RH 的極端條件,進(jìn)行長達(dá) 1000 小時的加速老化試驗。通過定期采集光通量、色坐標(biāo)等參數(shù),工程師發(fā)現(xiàn)硅膠黃變、金線腐蝕是導(dǎo)致性能衰減的主要原因。實驗室引進(jìn)的氣相色譜 - 質(zhì)譜聯(lián)用儀(GC-MS)可分析封裝材料的揮發(fā)物成分,結(jié)合腐蝕產(chǎn)物的能譜分析,終鎖定特定添加劑與金屬電極的化學(xué)反應(yīng)機(jī)理,為材料替代提供科學(xué)依據(jù)。在汽車前大燈 LED 的失效分析中,擎奧檢測特別關(guān)注振動與溫度沖擊的復(fù)合影響。實驗室的三綜合測試系統(tǒng)(溫度 - 濕度 - 振動)可模擬車輛行駛中的復(fù)雜工況,通過應(yīng)變片監(jiān)測燈體結(jié)構(gòu)應(yīng)力分布。測試發(fā)現(xiàn),LED 支架與散熱器的連接松動會導(dǎo)致熱阻急劇上升,進(jìn)而引發(fā)芯片結(jié)溫過高失效。行家團(tuán)隊結(jié)合汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) ISO 16750,制定了包含 12 項指標(biāo)的專項檢測方案,已成為多家車企的指定分析機(jī)構(gòu)。無錫高功率LED失效分析金線斷裂運(yùn)用先進(jìn)設(shè)備觀察 LED 失效的微觀現(xiàn)象。

LED 芯片本身的失效分析是上海擎奧的技術(shù)強(qiáng)項之一,依托 20% 碩士及博士組成的研發(fā)團(tuán)隊,可實現(xiàn)從芯片級到系統(tǒng)級的全鏈條分析。針對某批 LED 芯片的突然失效,技術(shù)人員通過探針臺測試芯片的 I-V 曲線,發(fā)現(xiàn)反向漏電流異常增大,結(jié)合掃描電鏡觀察到芯片表面的微裂紋,追溯到外延生長過程中的應(yīng)力集中問題。對于 LED 芯片的光效衰減失效,團(tuán)隊利用光致發(fā)光光譜儀分析量子阱的發(fā)光效率變化,配合 X 射線衍射儀檢測晶格失配度,精確定位材料生長缺陷導(dǎo)致的性能退化。這些深入的芯片級分析為上游制造商提供了寶貴的改進(jìn)方向。
切實可行的解決方案。擎奧檢測的材料失效分析人員在 LED 封裝失效領(lǐng)域頗具話語權(quán)。LED 封裝過程中,膠體氣泡、引腳氧化、熒光粉分布不均等問題都可能導(dǎo)致后期失效。團(tuán)隊通過金相切片技術(shù)觀察封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu),利用能譜儀分析引腳表面的氧化成分,結(jié)合密封性測試判斷膠體是否存在微裂紋。針對因封裝工藝缺陷導(dǎo)致的 LED 失效,他們能追溯到生產(chǎn)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵參數(shù),幫助客戶改進(jìn)封裝流程,從源頭降低失效風(fēng)險。針對芯片級 LED 的失效分析,擎奧檢測配備了專項檢測設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊。芯片是 LED 的重心部件,其失效可能源于晶格缺陷、電流集中、靜電損傷等。實驗室通過探針臺對芯片進(jìn)行電學(xué)性能測試,結(jié)合微光顯微鏡觀察漏電點(diǎn)位置,利用 X 射線衍射儀分析晶格結(jié)構(gòu)完整性。行家團(tuán)隊能根據(jù)測試數(shù)據(jù)區(qū)分芯片失效是屬于制造過程中的固有缺陷,還是應(yīng)用過程中的不當(dāng)操作導(dǎo)致,為客戶提供芯片選型建議或使用規(guī)范指導(dǎo)。擎奧檢測提供 LED 失效分析的對比測試。

LED封裝工藝的微小缺陷都有可能導(dǎo)致產(chǎn)品的失效,擎奧檢測的失效分析團(tuán)隊擅長捕捉這類隱性問題。某LED廠商的球泡燈在高溫高濕試驗后出現(xiàn)的批量失效,技術(shù)人員通過切片分析發(fā)現(xiàn),芯片與支架之間的銀膠存在氣泡,這在溫度循環(huán)過程中會引發(fā)熱應(yīng)力的集中,可能導(dǎo)致金線斷裂。利用超聲清洗結(jié)合熱成像的方法,團(tuán)隊建立了銀膠氣泡的快速檢測標(biāo)準(zhǔn),并協(xié)助客戶改進(jìn)了點(diǎn)膠工藝參數(shù),將氣泡不良率從5%降至0.1%以下,明顯的提升了產(chǎn)品的可靠性。為 LED 回收利用提供失效分析技術(shù)支持。浦東新區(qū)什么是LED失效分析產(chǎn)業(yè)
探究 LED 封裝工藝缺陷導(dǎo)致的失效問題。寶山區(qū)制造LED失效分析服務(wù)
上海擎奧檢測技術(shù)有限公司在 LED 失效分析領(lǐng)域擁有扎實的技術(shù)實力,依托 2500 平米的專業(yè)實驗室和先進(jìn)的環(huán)境測試、材料分析設(shè)備,為客戶提供多維且精細(xì)的分析服務(wù)。針對 LED 產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)的各類失效問題,公司的專業(yè)團(tuán)隊會從多個維度開展工作,先通過環(huán)境測試設(shè)備模擬產(chǎn)品所處的復(fù)雜工況,獲取溫度、濕度、振動等關(guān)鍵數(shù)據(jù),再借助材料分析設(shè)備深入觀察 LED 芯片、封裝膠、焊點(diǎn)等部件的微觀變化,從而精細(xì)定位失效根源。無論是 LED 光衰、驅(qū)動電路故障,還是封裝工藝缺陷導(dǎo)致的失效,團(tuán)隊都能憑借豐富的經(jīng)驗和科學(xué)的分析方法,為客戶提供詳細(xì)的失效模式報告,并給出切實可行的改進(jìn)建議,助力客戶提升產(chǎn)品的質(zhì)量。 寶山區(qū)制造LED失效分析服務(wù)