國產(chǎn)MCU賦能低空經(jīng)濟(jì)發(fā)展
關(guān)于雅特力助力關(guān)節(jié)運(yùn)動(dòng)
維特比算法與DSP芯片——解碼噪聲中的“比較好路徑”
2025年關(guān)于麥歌恩動(dòng)態(tài)
雅特力推出新系列微控制器:AT32F455/F456/F45
雅特力科技助力宇樹科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
雅特力AT32 Workbench煥“芯”升級(jí)!
雅特力科技助力宇樹科技推動(dòng)智慧機(jī)器人創(chuàng)新應(yīng)用
矽睿科技獲TüV萊茵 ISO 26262 認(rèn)證
國產(chǎn)芯片產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展,技術(shù)創(chuàng)新與市場機(jī)遇并存
鏡片缺陷檢測(cè)現(xiàn)場噪音大、燈光刺眼,員工流失率居高不下。優(yōu)普納裝備整機(jī)運(yùn)行噪音<60 dB,低于辦公室水平;2.5D 光源采用漫反射照明,無頻閃、無眩光;轉(zhuǎn)盤式封閉結(jié)構(gòu)避免鏡片碎屑飛濺,安全系數(shù)提升 90%。AI 算法自動(dòng)判定,操作員只需上下料,勞動(dòng)強(qiáng)度大幅降低。未來工廠需要數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng),優(yōu)普納裝備預(yù)留 OPC-UA、MQTT、RESTful API 等全開放接口,可與 MES、PLM、WMS、AGV 無縫對(duì)接;轉(zhuǎn)盤式單顆檢測(cè)數(shù)據(jù)可為數(shù)字孿生提供實(shí)時(shí)缺陷分布,助力 AI 預(yù)測(cè)性維護(hù)。7 μm 分辨率+12MP 相機(jī)+2.5D 光源的硬件底座,可通過軟件升級(jí)支持下一代 3 μm 分辨率需求。江蘇優(yōu)普納科技的鏡片自動(dòng)質(zhì)檢機(jī),集成AI算法,智能區(qū)分真實(shí)缺陷與干擾,降低誤判率。浙江機(jī)器視覺光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備

鏡片小批量多品種時(shí)代,傳統(tǒng) AOI 換型動(dòng)輒 2 小時(shí),產(chǎn)能浪費(fèi)嚴(yán)重。優(yōu)普納裝備采用 100+ 件號(hào)配方+磁吸治具,換型時(shí)間壓縮至 3 分鐘;轉(zhuǎn)盤式結(jié)構(gòu)可快速拓展至 4 工位并行,產(chǎn)能翻倍無需二次投資。7 μm 分辨率與 12MP 相機(jī)保證檢測(cè)精度不隨品種變化;AI 算法自動(dòng)加載對(duì)應(yīng)缺陷模型,無需人工調(diào)試。鏡片缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)長期沉睡,無法反哺工藝改進(jìn)。優(yōu)普納裝備內(nèi)置 SPC 模塊,實(shí)時(shí)統(tǒng)計(jì)缺陷類型、位置、頻率,自動(dòng)生成柏拉圖、趨勢(shì)圖、CPK 報(bào)告;AI 算法可關(guān)聯(lián)缺陷與工藝參數(shù)(溫度、壓力、時(shí)間),定位異常根因。轉(zhuǎn)盤式單顆檢測(cè)讓每片鏡片數(shù)據(jù)單獨(dú),避免批量混淆。某光學(xué)廠利用優(yōu)普納 SPC 發(fā)現(xiàn)鍍膜前劃痕集中在第 3 工位,調(diào)整夾具后缺陷率下降 60%。非球面光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備銷售廠家江蘇優(yōu)普納科技的光學(xué)透鏡檢測(cè)儀,適用于透明材質(zhì)部件,檢測(cè)精度達(dá)7μm,行業(yè)先進(jìn)企業(yè)。

在光學(xué)鏡片的生產(chǎn)過程中,從白片到鍍膜再到黑片,每個(gè)環(huán)節(jié)都可能出現(xiàn)缺陷。光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備基于先進(jìn)的技術(shù),如搭載資質(zhì)技術(shù)靈眸OCT模組,能夠進(jìn)行3D層析結(jié)構(gòu)分析及缺陷檢測(cè),像CT一樣**光學(xué)鏡片表面及內(nèi)部結(jié)構(gòu),并實(shí)時(shí)3D呈現(xiàn)缺陷類型、大小及位置,具有微米級(jí)分辨率和毫米級(jí)穿透深度,檢測(cè)深度高到可達(dá)10mm。此外,還同步搭配2D相機(jī)針對(duì)鏡片表面邊緣或黑片油墨區(qū)域進(jìn)行檢測(cè),實(shí)現(xiàn)鏡片上、下表面及內(nèi)部全檢。這種全方面的檢測(cè)方式,全方面覆蓋了整個(gè)光學(xué)鏡片生產(chǎn)過程,有效保障了鏡片的質(zhì)量,減少了因缺陷產(chǎn)品流入市場帶來的損失。
光學(xué)鏡片在注塑、模壓、鍍膜、膠合多工藝流轉(zhuǎn),缺陷類型層出不窮。優(yōu)普納裝備通過 7 μm 分辨率+12MP 相機(jī)+2.5D 光源,建立“缺陷基因庫”,對(duì)劃痕、麻點(diǎn)、白跡、臟污、霧氣、氣泡、水縮等 10個(gè)大類 200 余小類缺陷進(jìn)行 AI 分類。轉(zhuǎn)盤式單顆檢測(cè)讓每片鏡片擁有特定 ID,缺陷坐標(biāo)、光學(xué)參數(shù)、工藝參數(shù)全程可追溯。100+ 件號(hào)配方支持跨工藝共線;數(shù)據(jù)報(bào)表可一鍵對(duì)接 MES/ERP。鏡片外觀檢測(cè)現(xiàn)場往往存在振動(dòng)、粉塵、溫濕度波動(dòng),影響成像穩(wěn)定性。優(yōu)普納裝備整機(jī)采用大理石基座+主動(dòng)隔振設(shè)計(jì),將外界振動(dòng)衰減 95%;2.5D 光源內(nèi)置恒溫系統(tǒng),光強(qiáng)波動(dòng)<1%;12MP 相機(jī)配置工業(yè)級(jí)防塵罩,可在 Class 1000 潔凈室外穩(wěn)定運(yùn)行。轉(zhuǎn)盤式單顆檢測(cè)結(jié)構(gòu)封閉,鏡片全程不落地,避免二次污染。江蘇優(yōu)普納科技的缺陷檢測(cè)機(jī),采用人性化操作界面,降低員工學(xué)習(xí)成本。

對(duì)于初創(chuàng)光學(xué)企業(yè),資金與產(chǎn)線空間同樣寶貴。優(yōu)普納采用“料盤整盤上料+人工換盤”的輕量方案:人工將治具盤放入上料位,伺服模組自動(dòng)逐片吸取并送入轉(zhuǎn)盤,檢測(cè)后OK/NG分穴下料,滿盤蜂鳴提示。整機(jī)占地只1.08 m2,卻預(yù)留AGV接口,后期可直接升級(jí)全自動(dòng)料倉,避免重復(fù)投資。維護(hù)便利性決定設(shè)備生命周期。優(yōu)普納轉(zhuǎn)盤機(jī)構(gòu)采用抽屜式分度器,松開四顆快拆螺絲即可整體抽出,10分鐘完成清潔、潤滑、易損件更換;成像模組、光源、相機(jī)全部集成于燕尾槽滑軌,30秒整體拔插,重復(fù)定位精度±5 μm。江蘇優(yōu)普納科技的光學(xué)透鏡檢測(cè)設(shè)備,支持缺陷3D建模,直觀呈現(xiàn)問題點(diǎn)。激光輔助高精度光學(xué)檢測(cè)設(shè)備報(bào)價(jià)
江蘇優(yōu)普納科技的鏡片自動(dòng)質(zhì)檢機(jī),采用緊湊型設(shè)計(jì),占地面積小,適配各類生產(chǎn)環(huán)境。浙江機(jī)器視覺光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備
機(jī)械安全:轉(zhuǎn)盤區(qū)域配備光電聯(lián)鎖,異常侵入時(shí)2ms內(nèi)切斷動(dòng)力電源。電氣安全:符合EN 60204-1標(biāo)準(zhǔn),接地電阻小于0.1Ω。數(shù)據(jù)安全:支持本地加密存儲(chǔ)與斷點(diǎn)續(xù)傳,可選配物理隔離網(wǎng)絡(luò)模塊。應(yīng)急處理:關(guān)鍵故障自動(dòng)保存此外50件產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù),避免批次損失。設(shè)備內(nèi)置ISO 5725精度驗(yàn)證程序,可通過標(biāo)準(zhǔn)樣板自動(dòng)計(jì)算重復(fù)性(Repeatability)與再現(xiàn)性(Reproducibility)指標(biāo)。檢測(cè)算法通過3000組缺陷樣本的交叉驗(yàn)證,不同類型缺陷的檢出概率標(biāo)準(zhǔn)差控制在±2%以內(nèi)。提供第三方驗(yàn)證報(bào)告模板,支持CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證需求。浙江機(jī)器視覺光學(xué)透鏡缺陷檢測(cè)設(shè)備